| 研究課題/領域番号 |
10480099
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
プラズマ理工学
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| 研究機関 | 電気通信大学 |
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研究代表者 |
大谷 俊介 電気通信大学, 電気通信学部, 教授 (60023735)
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| 研究分担者 |
岡崎 清比古 電気通信大学, 理化学研究所, 先任研究員 (70260198)
CURRELL F.J. (F. J. Currell) 電気通信大学, 電気通信学部, 講師 (40262365)
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| 研究期間 (年度) |
1998 – 1999
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| 研究課題ステータス |
完了 (1999年度)
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| 配分額 *注記 |
12,400千円 (直接経費: 12,400千円)
1999年度: 4,900千円 (直接経費: 4,900千円)
1998年度: 7,500千円 (直接経費: 7,500千円)
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| キーワード | 多価イオン / プラズマ計測 / 禁制線 |
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| 研究概要 |
電気通信大学に既設の電子ビーム型多価イオン生成装置を用いてそこに蓄積された多価イオンの分光学的研究を行った。
本研究の主題として、昨年度から継続してチタン様等電子系列の多価イオンの基底状態間遷移の系統的観測を行った。
原子番号51のアンチモンから78のプラチナまでの間の元素のうち12種類の多価イオンに対して、遷移波長を精密に決定した。
これらは世界で初めての観測であり、元素の種類は変わってもこれらチタン様多価イオンの基底状態間、磁気双極子遷移の波長は可視域に留まっているという異常な振舞いが発見された。
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