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レーザラマン分光法によるシリコン単結晶の応力評価

研究課題

研究課題/領域番号 10650098
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械材料・材料力学
研究機関東京電機大学

研究代表者

新津 靖  東京電機大学, 工学部, 教授 (70143659)

研究期間 (年度) 1998 – 1999
研究課題ステータス 完了 (1999年度)
配分額 *注記
3,000千円 (直接経費: 3,000千円)
1999年度: 1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
1998年度: 1,600千円 (直接経費: 1,600千円)
キーワードラマン分光 / シリコン単結晶 / 応力測定 / 偏光計測 / 応力 / シリコン / ラマンシフト
研究概要

レーザラマン分光分析による応力評価法は光学フォノン振動数変化と応力の比例関係をその測定原理としている。本研究では,その測定原理である光学フォノン振動数の変化と応力の関係を,応力の多軸性も含めて理論と実験の両面から調査した。平成10年度はシリコン単結晶の(100)面を,平成11年度は(110)面を対象にラマンピークシフト量と応力状態の関係を理論と実験の両面から研究した。(110)面はもっとも力学的異方性の高い面であり,ラマン活性のある偏光配置の計算やラマンピークシフト量と応力状態の理論的関係は過去にまったく研究されていない。以下に得られた結果を示す。
(1)(100)面の後方散乱配置時のラマンシフト量は,応力の方向には依存せず,第1不変量であるσxx+σyyに比例することが,理論と実験の両面から導き出された。また,せん断応力は後方散乱配置では計測できないことが解った。
(2)(110)面の後方散乱配置時のラマンシフト量は,結晶方位と応力成分の関係および入射散乱の偏光配置に依存することが理論解析の結果から導かれ,実験結果からもその傾向が確認された。すなわち,ラマンシフト量が応力の大きさだけでなく応力の方向と測定時の偏光方向により異なることが解った。また,種々の方向に引帳負荷を加えたときのラマンシフト量と応力の比例係数を,種々の偏光配置について理論的に求めた。この結果は単にラマンスペクトルを測定することで応力の大小を判断できないことを示しており,応力評価における重要な注意事項である。
(3)(110)面では2つの固有原子振動数を適当な偏光配置を採用することがわかった。しかし,一般的な3つの応力成分を分離することはできない。

報告書

(3件)
  • 1999 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 1998 実績報告書
  • 研究成果

    (12件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (12件)

  • [文献書誌] Y.Niitsu, T.Ikebe, Y.Ohkubo, and T,Ikeda: "Stress Evaluation of (100) Si Eater by Raman Spectroscopy"ASME, EEP Vol.26・1. 26-1. 859-866 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1999 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 池辺朋、新津靖、鈴木栄一、池田照雑、大久保優晴: "レーザーラマン分光法によるシリコン単結晶の応力評価"日本機械学会論文集. 65-638A. 2157-2162 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      1999 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Yasushi Niitsu, Tomo Ikebe, Yusei Ohkubo and Teruki Ikeda: ""Stress Evaluation of (100) Si Wafer by Raman Spectroscopy""ASME-EEP. 26-1. 859-866 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1999 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Tomo Ikebe, Yasushi Niitsu, Yusei Ohkubo and Teruki Ikeda: ""Stress Evaluation of Si Single Crystal by Raman Spectroscopy""Trans. of JSME. 65, No.638A. 2157-2162 (1999)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      1999 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Takashi AOYAMA, A. J. CARLDS, Hiromu SAITO, TAkashi INOUE and Yasushi NIITSU: "Strain recovery mechanism of PBT/rubber thermoplastic elastomer"Polymer. Vol.40. 3657-3663 (1999)

    • 関連する報告書
      1999 実績報告書
  • [文献書誌] 新津靖、一瀬謙輔、五味健二: "反射型レーザ顕微鏡の開発と皮膜の応力評価への応用"東京電機大学総合研究所年報. No.18. 103-108 (1999)

    • 関連する報告書
      1999 実績報告書
  • [文献書誌] Yasushi Niitsu and Kenji GOMI: "Development of Scanning Type Infrared Laser Photoelasticity and Evaluation of Residual Stress in {100} GaAs Wafers"Proc. of Advanced in Electronic Packaging. ASME-EEP-Vol.26-1. 833-839 (1995)

    • 関連する報告書
      1999 実績報告書
  • [文献書誌] Yasushi Niitsu and T. Ikebe, T. Ikeda: "Stress Evaluation of (100) Si Wafer by Raman Spectroscopy"Proc. of Advanced in Electronic Packaging. ASME-EEP-Vol.26-1. 859-866 (1995)

    • 関連する報告書
      1999 実績報告書
  • [文献書誌] 五味健二、新津靖: "赤外線レーザ光弾性法によるGaAsウエハの残留応力評価"日本機械学会論文集. Vol.65,No.638A. 2143-2148 (1999)

    • 関連する報告書
      1999 実績報告書
  • [文献書誌] 鈴木、新津、池辺、池田、大久保: "レーザラマン分光法によるSi単結晶の応力評価" 日本機械学会講演論文集. 98-2-2. 32-33 (1998)

    • 関連する報告書
      1998 実績報告書
  • [文献書誌] K.GOMI and Y.NIITSU,: "The Influence of Crystalline Orientation on the Photoelastic Property of{100}Gallium Arsenide Wafer," JSME Int.J.41・2. 274-279 (1998)

    • 関連する報告書
      1998 実績報告書
  • [文献書誌] 新津、池辺、大久保T、池田: "Stress Evaluation of{100}Si Wafer by Raman Spectroscopy," Int.Conf.InterPACK'99,. (発表予定).

    • 関連する報告書
      1998 実績報告書

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公開日: 1998-04-01   更新日: 2016-04-21  

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