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揺らぎを排した量子スケールMOSFETにおける物理現象の探究と集積化応用の研究

研究課題

研究課題/領域番号 13450135
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 電子デバイス・機器工学
研究機関東京大学

研究代表者

平本 俊郎  東京大学, 生産技術研究所, 教授 (20192718)

研究期間 (年度) 2001 – 2003
研究課題ステータス 完了 (2003年度)
配分額 *注記
14,800千円 (直接経費: 14,800千円)
2003年度: 3,600千円 (直接経費: 3,600千円)
2002年度: 4,700千円 (直接経費: 4,700千円)
2001年度: 6,500千円 (直接経費: 6,500千円)
キーワード半導体 / シリコンMOSFET / 量子効果 / クーロンブロッケード / 単電子トランジスタ / 量子ドット / 共鳴トンネル / ナノテクノロジー / 不揮発性メモリ / しきい値電圧 / 保持時間 / シリコン / MOSFET / 移動度 / 量子輸送現象 / 揺らぎ
研究概要

本研究の目的は、サイズ揺らぎを極力抑制したナノスケールMOSFETの物理現象の解明し、その物理現象の集積回路デバイスに積極的に応用することである。電子ビーム露光装置とエッチング技術により、10nm以下の極めて微細なナノデバイスを制御性良く作製する技術を確立した。この技術で作製したデバイスでは、室温のおいて明瞭に量子効果と単電子効果が現れる。量子効果は、電子の基底準位の上昇によるしきい値電圧の上昇という形で現れる。10nm以下にチャネルを狭窄化した狭チャネルMOSトランジスタでは,チャネル幅が狭いほどしきい値電圧が上昇する。この効果を利用して,ナノサイズのMOSトランジスタのしきい値電圧を制御する方法を提案した。また、計算の結果、チャネル幅10nm以下の狭チャネルMOSトランジスタにおいては、電子および正孔の移動度が上昇し、デバイス特性が向上することを明らかにした。一方、単電子効果はクーロンブロッケード振動として現れる。ソース・ドレイン間にシリコンドットが自然形成され、デバイスは単電子トランジスタとして振る舞う。単電子トランジスタでは、クーロンブロッケード振動により、ドレイン電流がゲート電圧の関数で振動する。振動の山谷比は室温において40以上、ドット系は約2nmである。この振動はシリコン系の単一ドット系単電子トランジスタとしては、世界最大である。また、シリコンドット中の量子効果により共鳴トンネルに起因する負性微分コンダクタンスも室温において観測された。これらの物理現象を利用して、単体の単電子トランジスタを用いて室温で2入力の論理動作を行うこと世界で初めて成功した。

報告書

(4件)
  • 2003 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2002 実績報告書
  • 2001 実績報告書
  • 研究成果

    (37件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (37件)

  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Hiramoto: "Effects of Discrete Quantum Levels on Electron Transport in Silicon Single-Electron Transistors with an Ultra-Small Quantum Dot"IEICE Transactions of Electronics. Vol.E84-C, No.8. 1074-1076 (2001)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
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  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Saito, T.Inukai, T.Hiramoto: "Transport spectroscopy of the ultrasmall silicon quantum dot in a single-electron transistor"Applied Physics Letters. Vol.79, No.13. 2025-2027 (2001)

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      「研究成果報告書概要(和文)」より
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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Hiramoto: "Observation of current staircase due to large quantum level spacing in a silicon single-electron transistor with low parasitic series resistance"Journal of Applied Physics. Vol.91, No.10. 6725-6728 (2002)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Saito, T.Saraya, T.Inukai, H.Majima, T.Nagumo, T.Hiramoto: "Suppression of Short Channel Effect in Triangular Parallel Wire Channel MOSFETs."IEICE Transactions on Electronics. Vol.E85-C, No.5. 1073-1078 (2002)

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  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Tasuku Murakami, Toshiro Hiramoto: "Effects of Oxidation Process on the Tunneling Barrier Structures in Room-Temperature Operating Silicon Single-Electron Transistors"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.1, No.4. 214-218 (2002)

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  • [文献書誌] M.Saitoh, E.Nagata, T.Hiramoto: "Large memory window and long charge retention time in ultra-narrow channel silicon floating-dot memory"Applied Physics Letters. Vol.82, No.11. 1787-1789 (2003)

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  • [文献書誌] T.Hiramoto, T.Saito, T.Nagumo: "Future Electron Devices and SOI Technology - Semi-Planar SOI MOSFETs with Sufficient Body Effect -"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.42, Part 1, No.4B. 1975-1978 (2003)

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  • [文献書誌] M.Saitoh, H.Majima, T.Hiramoto: "Tunneling Barrier Structure in Room-Temperature Operating Silicon Single-Electron and Single-Hole Transistors"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.42, Part 1, No.4B. 2426-2428 (2003)

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  • [文献書誌] Toshiro Hiramoto, H.Majima, Masumi Saitoh: "Quantum effects and single-electron charging effects in nano-scale silicon MOSFETs at room temperature"Materials Science and Engineering B. Vol.101, Issues 1-3. 24-27 (2003)

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  • [文献書誌] 平本俊郎: "ナノスケール狭チャネルMOSFETにおける量子効果"応用物理. Vol.72, No.9. 1167-1170 (2003)

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  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Tasuku Murakami, Toshiro Hiramoto: "Large Coulomb Blockade Oscillations at Room Temperature in Ultra-Narrow Wire Channel MOSFETs Formed by Slight Oxidation Process."IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2, No.4. 241-245 (2003)

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  • [文献書誌] G.Tsutsui, T.Nagumo, T.Hiramoto: "Enhancement of Adjustable Threshold Voltage Range by Substrate Bias Due to Quantum Confinement in Ultra Thin Body SOI pMOSFETs"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2, No.4. 314-318 (2003)

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  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Toshiro Hiramoto: "Room-Temperature Observation of Negative Differential Conductance Due to Large Quantum Level Spacing in Silicon Single-Electron Transistor"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.43, No.2A. L210-L213 (2004)

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  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Toshiro Hiramoto: "Extension of Coulomb Blockade Region by Quantum Confinement in the Ultrasmall Silicon Dot in a Single-Hole Transistor at Room Temperature"Applied Physics Letters. Vol.84, No.16. 3172-3174 (2004)

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  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Hiramoto: "Effects of Discrete Quantum Levels on Electron Transport in Silicon Single-Electron Transistors with an Ultra-Small Quantum Dog"IEICE Transactions of Electronics. Vol.E84-C, No.8. 1074-1076 (2001)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Saito, T.Inukai, T.Hiramoto: "Transport spectroscopy of the ultrasmall silicon quantum dot in a single-electron transistor"Applied Physics Letters. Vol.79, No.13. 2025-2027 (2001)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, T.Hiramoto: "Observation of current staircase due to large quantum level spacing in a silicon single-electro transistor with low parasitic series resistance"Journal of Applied Physics. Vol.91, No.10. 6725-6728 (2002)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] T.Saito, T.Saraya, T.Inukai, H.Majima, T.Nagumo, T.Hiramoto: "Suppression of Short Channel Effect in Triangular Parallel Wire Channel MOSFETs"IEICE Transactions on Electronics. Vol.E85-C, No.5. 1073-1078 (2002)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Tasuku Murakami, Toshiro Hiramoto: "Effects of Oxidation Process on the Tunneling Barrier Structures in Room-Temperature Operating Silicon Single-Electron Transistors"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.1, No.4. 214-218 (2002)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, E.Nagata, T.Hiramoto: "Large memory window and long charge retention time in ultra-narrow channel silicon floating-dot memory"Applied Physics Letters. Vol.82, No.11. 1787-1789 (2003)

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  • [文献書誌] T.Hiramoto, T.Saito, T.Nagumo: "Future Electron Devices and SOI Technology -Semi-Planar SOI MOSFETs with Sufficient Body Effect-"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.42, Part 1, No.4B. 1975-1978 (2003)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, H.Majima, T.Hiramoto: "Tunneling Barrier Structure in Room-Temperature Operating Silicon Single-Electron and Single-Hole Transistors"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.42, Part 1, No.4B. 2426-2428 (2003)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Toshiro Hiramoto, H.Majima, Masumi Saitoh: "Quantum effects and single-electron charging effects in nano-scale silicon MOSFETs at room temperature"Materials Science and Engineering B. Vol.101, Issues 1-3. 24-27 (2003)

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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Tasuku Murakami, Toshiro Hiramoto: "Large Coulomb Blockade Oscillations at Room Temperature in Ultra-Narrow Wire Channel MOSFETs Formed by Slight Oxidation Process"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2, No.4. 241-245 (2003)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
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      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] G.Tsutsui, T.Nagumo, T.Hiramoto: "Enhancement of Adjustable Threshold Voltage Range by Substrate Bias Due to Quantum confinement in Ultra Thin Body SOI pMOSFETs"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2, No.4. 314-318 (2003)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Toshiro Hiramoto: "Room-Temperature Observation of Negative Differential Conductance Due to Large Quantum Level Spacing in Silicon Single-Electron Transistor"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.43, No.2A. L210-L213 (2004)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Toshiro Hiramoto: "Extension of Coulomb Blockade Region by Quantum Confinement in the Ultrasmall Silicon Dot in a Single-Hole Transistor at Room Temperature"Applied Physics Letters. Vol.84, No.1. 3172-3174 (2004)

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      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] M.Saitoh, H.Majima, T.Hiramoto: "Tunneling Barrier Structure in Room-Temperature Operating Silicon Single-Electron and Single-Hole Transistors"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.42,Part1,No.4B. 2426-2428 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Toshiro Hiramoto, H.Majima, Masumi Saitoh: "Quantum effects and single-electron charging effects in nano-scale silicon MOSFETs at room temperature"Materials Science and Engineering B. Vol.101,Issues1-3. 24-27 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 平本俊郎: "ナノスケール狭チャネルMOSFETにおける量子効果"応用物理. Vol.72,No.9. 1167-1170 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Tasuku Murakami, Toshiro Hiramoto: "Large Coulomb Blockade Oscillations at Room Temperature in Ultra-Narrow Wire Channel MOSFETs Formed by Slight Oxidation Process"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2,No.4. 241-245 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] G.Tsutsui, T.Nagumo, T.Hiramoto: "Enhancement of Adjustable Threshold Voltage Range by Substrate Bias Due to Quantum Confinement in Ultra Thin Body SOI pMOSFETs"IEEE Transactions on Nanotechnology. Vol.2,No.4. 314-318 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Masumi Saitoh, Toshiro Hiramoto: "Room-Temperature Observation of Negative Differential Conductance Due to Large Quantum Level Spacing in Silicon Single-Electron Transistor"Japanese Journal of Applied Physics. Vol.43,No.2A. L210-L213 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] M.Saitoh, H.Majima, T.Hiramoto: "Effects of ultra-narrow channel on characteristics of MOSFET memory with silicon nanocrystal floating gates"Technical Digests of International Electron Devices Meeting (IEDM). 181-184 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] M.Saitoh, E.Nagata, T.Hiramoto: "Large memory window and long charge retention time in ultra-narrow channel silicon floating-dot memory"Applied Physics Letters. (採択決定). (2003)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] T.Hiramoto: "Nano-Scale Silicon MOSFET : Towards Non-Traditional and Quantum Devices"Proceedings of 2001 IEEE International SOI Conference. 8-10 (2001)

    • 関連する報告書
      2001 実績報告書
  • [文献書誌] H.Majima, Y.Saito, T.Hiramoto: "Impact of Quantum Mechanical Effects on Design of Nano-Scale Narrow Channel n-and p-type MOSFETs"Technical Digests of 2001 International Electron Devices Meeting (IEDM). 733-736 (2001)

    • 関連する報告書
      2001 実績報告書

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公開日: 2001-04-01   更新日: 2016-04-21  

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