| 研究課題/領域番号 |
13450392
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(B)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
高分子構造物性(含繊維)
|
|---|
| 研究機関 | 京都大学 |
|---|
研究代表者 |
こうじ谷 信三 京都大学, 化学研究所, 教授 (50027900)
|
|---|
| 研究分担者 |
登阪 雅聡 京都大学, 化学研究所, 助手 (10273509)
浦山 健治 京都大学, 化学研究所, 助手 (20263147)
辻 正樹 京都大学, 化学研究所, 助教授 (60172003)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2001 – 2002
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2002年度)
|
| 配分額 *注記 |
13,600千円 (直接経費: 13,600千円)
2002年度: 1,800千円 (直接経費: 1,800千円)
2001年度: 11,800千円 (直接経費: 11,800千円)
|
|---|
| キーワード | ポリマーネットワーク / TEM / 網目構造 / 化学ゲル / 物理ゲル |
|---|
| 研究概要 |
アモルファス構造の1つの典形と考えられるポリマーネットワーク系の構造は従来から光、X線、中性子を用いた散乱法により研究されて来たが、構造については長距離秩序の議論に留っており、網目の詳しい構造については未だ十分な知見が得られていない。
本研究ではポリマーネットワーク系の網目構造を透過型電子顕微鏡(TEM)により直接観察するという野心的な目標をかかげてこの困難な課題に挑戦した。
モデルネットワークとして用いられるシリコーン網目、その耐電子線性を向上させたフェルニ基を導入したもの、芳香族メソーゲンを有する液晶性ゲル、無機塩をドープしたポリエーテルネットワーク、イオン点を有するエラストマーなどを試料とした。
マイクロトームを用いて低温あるいは室温でTEM用の超薄膜切片試料を作製した。総ての試料について100〜300nmレベルの厚みを有する試料の作製に成功した。これら試料を用いてクライオ法を用いた低温での測定、さらに酸化ルテニウムにより染色した試料を用いることなど、種々の工夫を行ったが、電子線による試料損傷のため、網目構造の可視化に成功しなかった。わずかに、天然ゴム架橋体の延伸状態において、延伸結晶化に基づく電子線回折像の測定に成功し、天然ゴムの微結晶イオン性エラストマー中の微結晶のTEM像の測定に成功した。しかし、これらは結晶性成分であり、アモルファスなネットワーク構造を観察するに至っていない。フェルニ基を導入して耐放射線性を向上させた試料でも十分な耐性を示さなかったことから、新しい試料の合成と、TEM測定を短時間で終了するための手法と装置の開発が、課題と考えられる。
|
