| 研究課題/領域番号 |
13F03904
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| 研究種目 |
特別研究員奨励費
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 外国 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
川勝 英樹 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (30224728)
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| 研究分担者 |
DAMIRON DENIS 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
DAMIRON Denis 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
DAMIRON Denis 東京大学, 生産技術研究所, 外国人特別研究員
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2015年度)
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| 配分額 *注記 |
2,300千円 (直接経費: 2,300千円)
2015年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
2014年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
2013年度: 600千円 (直接経費: 600千円)
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| キーワード | 原子間力顕微鏡 / 組成分析 / 化学組成 / AFM / SPM / 同定 / 組成像 / フォーススペクストロスコピー / 元素同定 / カラーAFM |
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| 研究実績の概要 |
走査型力顕微鏡のヘッド部分の改良を行い、原子分解能の得られる率を高めた。
計測されたデータからモースパラメータを算出するアルゴリズムを改良し、いままで1ピクセルあたり１秒程度かかっていたものを、１／５００秒程度に短縮した。その結果、通常の走査速度である、１ライン（５００ピクセル）を１秒で走査した場合、ほぼリアルタイムのモースパラメータ同定が可能となった。
急冷したシリコン（１１１）の準安定面を観察したところ、様々なモースパラメータを有する原子分解能の像が得られた。
特記すべきこととして、減衰長Lが１０pm程度の分解能で演算され、その違いが原子ごとの色の差異を生んでいた点である。
その際、最小ポテンシャル値Ｅｂの大きな差は認められなかった。おそらく、準安定なシリコン表面の大部分はシリコン原子が存在し、減衰長の違いだけが色のコントラストを生んでいたと考えられる。今後、減衰長に差異のある理由を考察するとともに、多種類の原子からなる表面の観察を行う。
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| 現在までの達成度 (段落) |
27年度が最終年度であるため、記入しない。
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| 今後の研究の推進方策 |
27年度が最終年度であるため、記入しない。
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