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大気圧プラズマを援用した次世代ワイドギャップ半導体基板の高品位加工プロセスの開発

研究課題

研究課題/領域番号 13J00581
研究種目

特別研究員奨励費

配分区分補助金
応募区分国内
研究分野 生産工学・加工学
研究機関大阪大学

研究代表者

トウ 輝  大阪大学, 工学研究科, 特別研究員(DC1)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2016-03-31
研究課題ステータス 完了 (2015年度)
配分額 *注記
3,600千円 (直接経費: 3,600千円)
2015年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
2014年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
2013年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
キーワード単結晶GaN / プラズマ援用研磨 / エッチピットフリー / ステップ/テラス / CVD-SiC / プラズマCVM / 単結晶SiC / 砥粒研磨 / 大気圧プラズマ / 表面粗さ / ステップ/テラス構造 / 水蒸気プラズマ / 最適化 / 高能 / 酸化 / 平滑化
研究実績の概要

(1)平滑かつエッチピットフリーなGaN表面を高能率に加工するため、我々はGaNに対してスラリーフリー研磨法であるプラズマ援用研磨法の適用を行った。平成27年度、GaNに対して、我々が開発した3インチ基板全面加工用PAP装置の適用を行った。まず、砥石材質及び構造の最適化を調査した結果、固定タイプのレジンボンドのセリア砥石は優れた研磨特性を示した。そして、プラズマの発生条件の最適化を行った結果、キャリアガスとしてArの使用、水分圧の低減、そしてガス流量を大きくするのはプラズマ改質速度の向上に有効であることが示唆された。開発した3インチサイズ基板の全面が研磨可能なPAP装置をGaNの研磨に適用した結果、砥石表面の摩耗のため、PAP加工の進行に伴う加工速度の低減が確認された。PAPとドレシングを交互に適用したところ、193 nm/hの研磨レートが得られた。本研磨レートは従来のCMPにおける研磨レートの約2.5倍である。
(2)CVD-SiC金型のダメージフリー,高能率,低コスト加工を実現するため,我々はPlasma Chemical Vaporization Machining(PCVM)法による形状創成,そしてプラズマ援用研磨法(PAP)による表面仕上げの二段階加工プロセスを開発した。機械加工後CVD-SiC基板に対して、PCVMによるスクラッチと加工変質層の高速除去を行った後、PAPによる表面のダメージフリー仕上げを行う二段階加工プロセスを適用した。5分間のPCVM加工によって、機械加工で導入されたスクラッチと加工変質層を完全に除去し、その後、3時間のPAP仕上げ研磨によって、表面粗さを0.69 nm rmsまで改善し、スクラッチフリーかつダメージフリーな表面を得た。本結果は、CVD-SiCに対する二段階加工プロセスの有用性を実証するものである。

現在までの達成度 (段落)

27年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

27年度が最終年度であるため、記入しない。

報告書

(3件)
  • 2015 実績報告書
  • 2014 実績報告書
  • 2013 実績報告書
  • 研究成果

    (25件)

すべて 2016 2015 2014 2013

すべて 雑誌論文 (9件) (うち査読あり 9件、 謝辞記載あり 5件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (16件) (うち国際学会 3件)

  • [雑誌論文] Study on removal mechanism of sapphire in plasma assisted polishing2016

    • 著者名/発表者名
      C. Kageyama, K. Monna, H. Deng, K. Endo, K. Yamamura
    • 雑誌名

      Advanced Materials Research

      巻: 1136 ページ: 317-320

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/amr.1136.317

    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Plasma-assisted polishing of gallium nitride to obtain a pit-free and atomically flat surface2015

    • 著者名/発表者名
      H. Deng, K. Endo, K. Yamamura
    • 雑誌名

      Annals of the CIRP

      巻: 64 号: 1 ページ: 531-534

    • DOI

      10.1016/j.cirp.2015.04.002

    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Atomic-scale and pit-free flattening of GaN by combination of plasma pretreatment and time-controlled chemical mechanical polishing2015

    • 著者名/発表者名
      H. Deng, K. Endo, K. Yamamura
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 107 号: 5 ページ: 051602-051602

    • DOI

      10.1063/1.4928195

    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Competition between surface modification and abrasive polishing: a method of controlling the surface atomic structure of 4H-SiC (0001)2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Scientific Reports

      巻: 5 号: 1

    • DOI

      10.1038/srep08947

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Electro-chemical mechanical polishing of single-crystal SiC using CeO2 slurry2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Kenji Hosoya, Yusuke Imanishi, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Electrochemistry Communications

      巻: 52 ページ: 5-8

    • DOI

      10.1016/j.elecom.2015.01.002

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Characterization of 4H-SiC (0001) surface processed by plasma-assisted polishing2014

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Masaki Ueda, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      International Journal of Advanced Manufacturing Technology

      巻: 72 号: 1-4 ページ: 1-7

    • DOI

      10.1007/s00170-012-4430-7

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Comparison of thermal oxidation and plasma oxidation of 4H-SiC (0001) for surface flattening2014

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo and Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Applied Physics Letter

      巻: 104

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Atomic-scale planarization of 4H-SiC (0001) by combination of thermal oxidation and abrasive polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo and Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      Applied Physics Letter

      巻: 103

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Atomic-scale flattening meechanism of 4H-SiC (0001) in plasma assisted polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Kazuya Yamamura
    • 雑誌名

      CIRP Annals-Manufacturing Technology

      巻: 62 ページ: 575-578

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の開発(第14 報) -プラズマをベースとした金型用 CVDSiCの形状創成と表面仕上げに関する研究-2015

    • 著者名/発表者名
      鄧輝, 遠藤勝義, 山村和也
    • 学会等名
      2015年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      東北大学川内北キャンパス講義棟C(仙台市青葉区)
    • 年月日
      2015-09-04
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
  • [学会発表] Plasma-assisted polishing of gallium nitride to obtain a pit-free and atomically flat surface2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      65th CIRP General Assembly
    • 発表場所
      Cape Town, South Africa
    • 年月日
      2015-08-23
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Flattening of single crystal SiC by combination of anodic oxidation and soft abrasive polishing2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Kenji Hosoya, Yusuke Imanishi, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      15th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Leuven, Belgium
    • 年月日
      2015-06-01
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Polishing characteristics of CVD-SiC in plasma-assisted polishing2015

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng, Katsuyoshi Endo, Kazuya Yamamura
    • 学会等名
      15th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Leuven, Belgium
    • 年月日
      2015-06-01
    • 関連する報告書
      2015 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の 開 発( 第 12 報)-金型用CVD-SiCの研磨特性の評価-2015

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝, 今西 勇介, 遠藤 勝義, 山村 和也
    • 学会等名
      2015年度精密工学会春季大会学術講演会
    • 発表場所
      東洋大学 白山キャンパス
    • 年月日
      2015-03-19
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の開 発( 第 13 報 ) -単結晶GaNの研磨における表面改質条件の最適化-2015

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝, 遠藤 勝義, 山村 和也
    • 学会等名
      2015年度精密工学会春季大会学術講演会
    • 発表場所
      東洋大学 白山キャンパス
    • 年月日
      2015-03-19
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] セリアスラリーを用いた研磨における化学作用と機械作用のバランスによる4H-SiCのステップ/テラス構造の制御2014

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝, 遠藤 勝義, 山村 和也
    • 学会等名
      2014年度砥粒加工学会学術講演会
    • 発表場所
      岩手大学
    • 年月日
      2014-09-11
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ援用研磨による単結晶GaN基板の高能率研磨 -プラズマ照射により改質された表面状態の評価-2014

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝, 遠藤 勝義, 山村 和也
    • 学会等名
      精密工学会2014年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      近畿大学・東大阪キャンパス
    • 年月日
      2014-07-04
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の開発(第9報)―単結晶SiC-C面の平滑化における研磨材の最適化―2014

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝
    • 学会等名
      2014年度精密工学会春季大会学術講演会
    • 発表場所
      東京大学
    • 年月日
      2014-03-18
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法の開発(第7報)―酸化面のセリア砥粒研磨によるtwo-bilayerのステップ/テラス構造を形成するメカニズムの考察―2013

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝
    • 学会等名
      2013年度精密工学会秋季大会学術講演会
    • 発表場所
      関西大学
    • 年月日
      2013-09-12
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ援用研磨法による4H-SiC (0001)表面の平滑化(第2報)―水蒸気プラズマ酸化面のセリア砥粒研磨によるステップ/テラス構造の形成―2013

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝
    • 学会等名
      2013年度砥粒加工学会学術講演会
    • 発表場所
      日本大学
    • 年月日
      2013-08-27
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] 4H-SiC (0001)熱酸化面のセリア砥粒研磨によるステップ/テラス構造の形成2013

    • 著者名/発表者名
      鄧 輝
    • 学会等名
      精密工学会2013年度関西地方定期学術講演会
    • 発表場所
      大阪工業大学
    • 年月日
      2013-06-14
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] Study on oxidation processes of 4H-SiC (0001) for investigation of the atomically fiattening mechanism in plasma assisted polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng
    • 学会等名
      13th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Berlin, Germany
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] Atomic-scale Flattening Mechanism of 4H-SiC (0001) in Plasma Assisted Polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng
    • 学会等名
      63rd CIRP General Assembly
    • 発表場所
      Copenhagen, Denmark
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] Experimental studies on water vapor plasma oxidation and thermal oxidation of 4H-SiC (0001) for clarification of the atomic-scale flattening mechanism in plasma assisted polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng
    • 学会等名
      The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials
    • 発表場所
      Miyazaki, Japan
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] Finishing of 4H-SiC (0001) by Combination of Thermal Oxidation and Abrasive Polishing2013

    • 著者名/発表者名
      Hui Deng
    • 学会等名
      5th International Conference of Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書

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公開日: 2014-01-29   更新日: 2024-03-26  

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