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MOS構造デバイスによるシリコン電子スピン量子ビット実現へ向けた研究

研究課題

研究課題/領域番号 13J07182
研究種目

特別研究員奨励費

配分区分補助金
応募区分国内
研究分野 電子デバイス・電子機器
研究機関東京工業大学

研究代表者

堀部 浩介  東京工業大学, 理工学研究科, 特別研究員(DC2)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2015-03-31
研究課題ステータス 完了 (2014年度)
配分額 *注記
2,400千円 (直接経費: 2,400千円)
2014年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
2013年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
キーワード量子コンピュータ / 量子ビット / 量子ドット / シリコン / quantum bit / quantum computer / qubit / silicon / シリコン量子ドット / 電子スピン / チャージセンサ / バレースプリッティング
研究実績の概要

シリコン量子ドットデバイスを作製して、電子スピン量子ビットへ向けた研究を行ってきた。
本年度の成果については、電子スピン量子ビットにおいて重要な課題であるバックアクション(量子ビット測定時の意図しない量子状態破壊)について実験および理論的に評価を行い、バックアクションを抑制する方法を明らかにした。具体的には、量子ビットの測定に用いられる電荷センサの影響により意図しない量子ドット内電子励起を実験的に観測し、このバックアクションの評価を行った。また、この結果についてレート方程式などを用いた理論式でフィッティングを行い、バックアクションの強さを評価した。それにより、電荷センサに流れる電流値を小さくすることによって、バックアクションを抑制できることがわかった。この方法を用いることにより、電子スピン量子ビットにおけるバックアクションの問題を解決されることが期待される。成果についてはApplied Physics Letters誌に投稿し採択され出版された[Appl. Phys. Lett. 106, 053119 (2015)]。
また、少数電子占有状態のシリコン2重結合量子ドットにおいて、交換相互作用を用いた電子スピン量子ビットの実現に必須である結合量子ドット間トンネル結合制御の実験を行った。物理的パターン形成によるシリコン量子ドット構造ではトンネル結合が量子ドットパターンの形状に大きく依存するが、トップゲート電圧を変調することによりこのトンネル結合の変調を行うことに成功した。この結果は、物理的パターン形成によるシリコン量子ドット構造が交換相互作用を用いた電子スピン量子ビット操作に適用できることを示すものである。この結果に関しても、Applied Physics Letters誌に投稿し採択され出版された[Appl. Phys. Lett. 106, 083111 (2015)]。

現在までの達成度 (段落)

26年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

26年度が最終年度であるため、記入しない。

報告書

(2件)
  • 2014 実績報告書
  • 2013 実績報告書
  • 研究成果

    (7件)

すべて 2015 2014 2013 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件、 オープンアクセス 2件、 謝辞記載あり 2件) 学会発表 (4件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Back-action-induced excitation of electrons in a silicon quantum dot with a single-electron transistor charge sensor2015

    • 著者名/発表者名
      Kosuke Horibe, Tetsuo Kodera, and Shunri Oda
    • 雑誌名

      Applid Physics Letters

      巻: 106 号: 5 ページ: 053119-053123

    • DOI

      10.1063/1.4907894

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Lithographically-defined few-electron silicon quantum dots based on a silicon-on-insulator substrate2015

    • 著者名/発表者名
      Kosuke Horibe, Tetsuo Kodera, and Shunri Oda
    • 雑誌名

      Applid Physics Letters

      巻: 106 号: 8 ページ: 083111-083115

    • DOI

      10.1063/1.4913321

    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
  • [学会発表] リソグラフィにより形成されたシリコン2重結合量子ドット内の電子スピン状態のパルス測定2015

    • 著者名/発表者名
      堀部浩介, 小寺哲夫, 小田俊理
    • 学会等名
      第62回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東海大学、神奈川県、平塚市
    • 年月日
      2015-03-11 – 2015-03-14
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] チャージセンサを用いた2重結合シリコン量子ドット内のスピンブロッケード現象の観測2014

    • 著者名/発表者名
      堀部浩介, 小寺哲夫, 小田俊理
    • 学会等名
      第75回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      北海道大学、北海道、札幌市
    • 年月日
      2014-09-17 – 2014-09-20
    • 関連する報告書
      2014 実績報告書
  • [学会発表] チャージセンサのバックアクションによるシリコン量子ドット内電子励起の観測2013

    • 著者名/発表者名
      堀部 浩介
    • 学会等名
      第74回 応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      同志社大学、京都
    • 年月日
      2013-09-19
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [学会発表] Direct measurement of the valley splitting in a few-electron silicon quantum dot using charge sensor source-drain bias spectroscopy2013

    • 著者名/発表者名
      堀部 浩介
    • 学会等名
      20th International Conference on Electronic Properties of Two-Dimensional Systems (EP2DS-20)
    • 発表場所
      Wroclaw, Poland
    • 年月日
      2013-07-04
    • 関連する報告書
      2013 実績報告書
  • [備考]

    • URL

      http://t2r2.star.titech.ac.jp/cgi-bin/researcherinfo.cgi?q_researcher_content_number=CTT100512421

    • 関連する報告書
      2013 実績報告書

URL: 

公開日: 2014-01-29   更新日: 2024-03-26  

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