| 研究課題/領域番号 |
14205009
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
表面界面物性
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| 研究機関 | 京都大学 |
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研究代表者 |
山田 啓文 京都大学, 工学研究科, 助教授 (40283626)
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| 研究分担者 |
堀内 俊寿 (堀内 俊壽) 京都大学, 工学研究科, 助手 (10238785)
石田 謙司 京都大学, 工学研究科, 講師 (20303860)
小林 圭 京都大学, 国際融合創造センター, 助手 (40335211)
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| 研究期間 (年度) |
2002 – 2004
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| 研究課題ステータス |
完了 (2004年度)
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| 配分額 *注記 |
54,210千円 (直接経費: 41,700千円、間接経費: 12,510千円)
2004年度: 11,700千円 (直接経費: 9,000千円、間接経費: 2,700千円)
2003年度: 19,240千円 (直接経費: 14,800千円、間接経費: 4,440千円)
2002年度: 23,270千円 (直接経費: 17,900千円、間接経費: 5,370千円)
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| キーワード | ダイナミックモード原子間力顕微鏡 / DFM / NC-AFM / ケルビンプローブ原子間力顕微鏡 / KFM / 分子分解能観察 / 分子分極 / 周波数変調検出法 / 局所電解制御 / ナノスケール分極制御 / フタロシアニン分子 / 強誘電性高分子 / ダイナミック分極処理 / 非接触原子間力顕微鏡 / アルカンチオール / 単一分子物性評価 / 周波数検出 / VDFオリゴマー |
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| 研究概要 |
近年のダイナミックモード原子間力顕微鏡(DFM : Dynamic Force Microscopy)関連技術の急速な進展により、これまでにAFMによる原子分解能での非破壊観察が可能なことが示され、走査型トンネル顕微鏡(STM)では困難な場合が多い、有機分子系の分子レベルでの構造評価やケルビンプローブ原子間力顕微鏡(KFM)などAFMをベースとするナノスケール電気計測への道が拓かれた。また、AFMプローブは対象分子系に直接アクセスすることが可能なことから、少数分子系の構造・物性の直接制御・操作に関する研究への関心が高まりつつある。一方、有機分子・固体基板界面におけるその分極挙動の解明は、界面電気特性、強誘電分極領域形成過程と関連し、その工学的応用の点に向けて必要不可欠なものとなっている。特に、界面における構造非対称性に起因して界面に形成される分極は分子系の双極子・分極と強く相互作用し、界面近傍の分子の分極制御の重要な因子としてはたらく。本研究では、こうした背景の下、高分解能観察による対象分子の選択、少数分子系への直接アクセスとその電気特性計測、また分子の分極・配向制御を可能とするために必要となる、
(1)高分解能原子間力顕微鏡技術
(2)高配向単分子薄膜の作製法
(3)ダイナミックモードAFMによる分子薄膜の電気特性評価法
などの先進的基盤技術を確立し、ナノプローブ法が少数分子系の分極評価・制御技術への応用に有効であることを証明した。
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