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ナノグレード素子基板の理想表面形成技術の研究

研究課題

研究課題/領域番号 14205026
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械工作・生産工学
研究機関熊本大学

研究代表者

渡邉 純二 (渡辺 純二)  熊本大学, 工学部, 教授 (40281076)

研究分担者 峠 睦  熊本大学, 工学部, 助教授 (00107731)
松本 泰道  熊本大学, 大学院・自然科学研究科, 教授 (80114172)
黒田 規敬  熊本大学, 工学部, 教授 (40005963)
大渕 慶史  福岡工業大学, 工学部, 助教授 (10176993)
島田 尚一  大阪電気通信大学, 工学部, 教授 (20029317)
江龍 修  名古屋工業大学, 電気情報, 助教授 (10223679)
研究期間 (年度) 2002 – 2004
研究課題ステータス 完了 (2004年度)
配分額 *注記
50,180千円 (直接経費: 38,600千円、間接経費: 11,580千円)
2004年度: 12,740千円 (直接経費: 9,800千円、間接経費: 2,940千円)
2003年度: 19,240千円 (直接経費: 14,800千円、間接経費: 4,440千円)
2002年度: 18,200千円 (直接経費: 14,000千円、間接経費: 4,200千円)
キーワード紫外光照射研磨装置 / TiO2光触媒 / 石英基板 / GaAs基板 / SiC単結晶基板 / ダイヤモンド単結晶 / XPS分析 / 表面粗さ / TiO_2固体光触媒 / 紫外光線 / SiC単結晶 / 酸化膜 / 研磨加工 / 分子動力学シミュレーション / FT-IR分析
研究概要

将来の素子基板であり精密加工の困難なGaAs, Sic、単結晶ダイヤモンド基板の理想表面を形成する技術と装置を研究・開発することを目的とした。具体的内容は固体触媒と紫外光エネルギーの応用による新しい表面創成技術の研究・開発である。研究成果は以下の通りである。
(1)GaAs基板の精密加工技術 TiO_2光触媒との接触状態で波長350nm以下の紫外光を照射することによりGa_2O_3,As_2O_3,As_2O_5の酸化膜が形成されることをXPS分析より明らかにした。これらの酸化膜を除去することによりGaAsの光触媒による安全で高品質な加工が可能である。接触面への効率的な光照射技術、より高いエネルギー密度の光照射が必要である。また、H_2O_2の応用によるヒドロキシラディカルの応用が新しい加工技術として有効である。
(2)SiC単結晶(Si終端面)の精密加工技術 酸化クロム(Cr_2O_3)微粒子による高品質、高能率な加工技術が明らかになった。Cr_2O_3微粒子のみを結合した新しい砥石により、3μm/hrの高能率加工と表面粗さRa0.2〜0.3nmの超平滑加工が可能となった。また、加工面のCAICISS評価により、表面4〜5原子層オーダまでダメージの無い面であることが確認できた。
SiC表面に250〜350nmの紫外光を照射して石英により加工できることを明らかにした。これはSiCのバンドギャップ3eVに相当するエネルギーを持つ光照射でSiCそのものが光化学反応を起こし、酸化膜を形成して加工されたものと考えられる。
(3)ダイヤモンド単結晶の精密加工技術 250nm〜350nmの紫外光を照射しながら石英基板と摺動させることにより効率良くダイヤモンドの精密加工が可能となった。加工圧力70MPaによって(100)面は2μm/hrの加工能率を得た。また、加工面の粗さはRa0.3〜0.5nm以下と極めて平滑な面となった。以上の加工が可能な光照射加工装置も開発した。

報告書

(4件)
  • 2004 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2003 実績報告書
  • 2002 実績報告書
  • 研究成果

    (46件)

すべて 2006 2005 2004 2003 2002 その他

すべて 雑誌論文 (30件) 図書 (2件) 産業財産権 (4件) 文献書誌 (10件)

  • [雑誌論文] Infrared Study on Graded Lattice Quality in Thin GaN Crystals Grown on Sapphire2006

    • 著者名/発表者名
      N.Kuroda, T.Kitayama, Y.Nishi, K.Saiki, H.Yokoi, J.Watanabe, M.Cho, T.Egawa, H.Ishikawa
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol.45 No.2A

      ページ: 646-650

    • NAID

      40007140203

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Infrared Study on Graded Lattice Quality in Thin GaN Crystals Grown on Sapphire2006

    • 著者名/発表者名
      N.Kuroda, T.Kitayama, Y.Nishi, K.Saiki, H.Yokoi, J.Watanabe, M.Cho, T.Egawa, H.Ishikawa
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.45 No.2A

      ページ: 646-650

    • NAID

      40007140203

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Thinning Technology of Patterned Silicon Wafer for Micro Pressure Sensor2005

    • 著者名/発表者名
      T.Nagano, M.Touge, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Proceedings of the Eighth International Symposium on Advances in Abrasive Technology (発表予定)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Investigation of Chemical Mechanical Polishing of GaAs Wafer by the Effect of a Photocatalyst2005

    • 著者名/発表者名
      S.H.Hong, H.Ishii, M.Touge, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Proceedings of the Eighth International Symposium on Advances in Abrasive Technology (発表予定)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] High precision chemical mechanical polishing of highly-boron-doped Si wafer used for epitaxial substrate2005

    • 著者名/発表者名
      J.Watanabe, G.Yu, O.Eryu, I.Koshiyama, K.Izumi, M.Umeno, K.Nakashima
    • 雑誌名

      Precision Engineering 29巻2号

      ページ: 151-156

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Investigation of Chemical Mechanical Polishing of GaAs Wafer by the Effect of a Photocatalyst2005

    • 著者名/発表者名
      S.H.Hong, H.Ishii, M.Touge, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Proceedings of the Eighth International Symposium on Advances in Abrasive Technology

      ページ: 381-384

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] High precision chemical mechanical polishing of highly-boron-doped Si wafer used for epitaxial substrate2005

    • 著者名/発表者名
      J.Watanabe, G.Yu, O.Eryu, I.Koshiyama, K.Izumi, M.Umeno, K.Nakashima
    • 雑誌名

      Precision Engineering Vol.29 No.2

      ページ: 151-156

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The atomic scale removal mechanism during chemomechanical polishing of Silicon : An atomic force microscopy study2005

    • 著者名/発表者名
      F.Katsuki, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Mater.Res.Soc.Symp.Proc. Vol.841

      ページ: 253-258

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] エアー浮上式精密ベルト研削による高精度加工面の形成 第1報、第2報2004

    • 著者名/発表者名
      豊浦 茂, 峠 睦, 渡邉 純二
    • 雑誌名

      砥粒加工学会誌 47巻、5号 48巻、4号

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 長寿命パッドドレッサーの開発2004

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆, 渡邉 純二
    • 雑誌名

      砥粒加工学会誌 48巻3号

      ページ: 147-152

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書 2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] SiC単結晶の光化学反応とその研磨2004

    • 著者名/発表者名
      横峯和幸, 渡邉純二, 峠 睦
    • 雑誌名

      2004年度砥粒加工学会学術講演会講演論文集

      ページ: 67-68

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] SiC単結晶の固体触媒応用研磨技術の検討2004

    • 著者名/発表者名
      渡邉純二, 横峯和幸, 川向尚, 峠 睦, 黒田規敬, 江龍 修
    • 雑誌名

      2004年度砥粒加工学会学術講演会講演論文集

      ページ: 69-70

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] ダイヤモンド単結晶の光照射研磨の可能性2004

    • 著者名/発表者名
      渡邉純二, 横峯和幸, 川向尚, 洪 錫享, 峠 睦
    • 雑誌名

      2004年度砥粒加工学会学術講演会講演論文集

      ページ: 71-72

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] GaAs基板の光触媒研磨技術の検討2004

    • 著者名/発表者名
      洪 錫亨, 石井秀明, 渡邉純二, 峠 睦
    • 雑誌名

      2004年度砥粒加工学会学術講演会講演論文集

      ページ: 73-74

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 光化学反応を応用したGaAsの精密加工技術2004

    • 著者名/発表者名
      石井秀明, 渡邉純二, 峠 睦, 洪 錫亨
    • 雑誌名

      2004年度精密工学会秋季学術講演会講演論文集

      ページ: 659-660

    • NAID

      130004655684

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] シリコン基板の前処理技術とCVDダイヤモンド膜の特性の関係2004

    • 著者名/発表者名
      財部 剛, 清水正寛, 峠 睦, 渡邉純二
    • 雑誌名

      2004年度精密工学会秋季学術講演会講演論文集

      ページ: 633-634

    • NAID

      130004655669

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 超LSIプロセスにおける平坦化CMP技術と装置の開発2003

    • 著者名/発表者名
      渡邊純二, 藤田 隆, 稲村豊四郎, 別府敏保
    • 雑誌名

      精密工学会誌 69巻、2号

      ページ: 263-267

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Effect of Pre-Thin-Surface Grinding on Copper Chemical Mechanical Polishing2003

    • 著者名/発表者名
      J.Watanabe, T.Hisamatsu, M.Hirano
    • 雑誌名

      Proceedings of the Sixth International Symposium on Advances in Abrasive Technology

      ページ: 407-412

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Development of Ultra Thin Quartz by Abrasive Machining2003

    • 著者名/発表者名
      M.Touge, J.Watanabe, Y.Ohbuchi, H.Sakamoto, N.Ueda
    • 雑誌名

      Proceedings of the Sixth International Symposium on Advances in Abrasive Technology

      ページ: 123-128

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Surface Treatment of Silicon Carbide Using TiO2(IV) Photocatalyst2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Ishikawa, Y.Matsumoto, Y.Nishida, S.Taniguchi, J.Watanabe
    • 雑誌名

      J. Am. Chem. Soc. 125巻、21号

      ページ: 6558-6562

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Infrared Attenuated Total Reflection by Chemomechanically Polished (0001) Surface of 6H-SiC2003

    • 著者名/発表者名
      N.Kuroda, Y.Iida, T.Shigeta, Hasanudin, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 42巻、10B

    • NAID

      10012450251

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 超LSIプロセスにおける平坦化CMP技術と装置の開発(第2報)パッドドレッシング均一化技術の開発-2003

    • 著者名/発表者名
      藤田 隆, 渡邉 純二, 佐口 明彦
    • 雑誌名

      精密工学会誌 69巻、11号

      ページ: 1610-1614

    • NAID

      110001368363

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Surface Treatment of Silicon Carbide Using TiO2(IV) Photocatalyst2003

    • 著者名/発表者名
      Y.Ishikawa, Y.Matsumoto, Y.Nishida, S.Taniguchi, J.Watanabe
    • 雑誌名

      J.Am.Chem.Soc. Vol.125, No.21

      ページ: 6558-6562

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Infrared Attenuated Total Reflection by Chemomechanically Polished (0001) Surface of 6H-SiC2003

    • 著者名/発表者名
      N.Kuroda, Y.Iida, T.Shigeta, Hasanudin, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.42 10B

    • NAID

      10012450251

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] エアー浮上式精密ベルト研削による高精度加工面の形成 第1報、第2報2003

    • 著者名/発表者名
      豊浦 茂, 峠 睦, 渡邉 純二
    • 雑誌名

      砥粒加工学会誌 47巻、5号, 48巻、4号

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Evaluation of Surfaces of Single SiC Crystal Polished with Various Kinds of Particles2002

    • 著者名/発表者名
      J.Watanabe, M.Fujimoto, Y.Matsumoto, N.Kuroda, O.Eryu
    • 雑誌名

      Proceedings of the Fifth International Symposium on Advances in Abrasive Technology

      ページ: 175-180

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The Atomic-Scale Removal Mechanism during Si Tip Scratching on Si and SiO2 Surfaces in Aqueous KOH with an Atomic Force Microscope2002

    • 著者名/発表者名
      F.Katsuki, A.Saguchi, W.Takahashi, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol. 41, Part 1, No. 7B

      ページ: 4919-4923

    • NAID

      210000051818

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] High Removal Rate Polishing of Glass Substrate Using Epoxy Resin Plate2002

    • 著者名/発表者名
      M.TOUGE, J.WATANABE, H.SAKAMOTO, H.WAN, T.MURAKAMI
    • 雑誌名

      Proceeding of 6th International Conference on Progress of Machining Technology (ICPMT'2002)

      ページ: 357-362

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 加工表面の分析評価に基づいたSiC半導体の加工メカニズムの研究2002

    • 著者名/発表者名
      渡邉純二, 黒田規敬, 藤本誠, 江龍修
    • 雑誌名

      2002年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集

      ページ: 140-140

    • NAID

      130007001948

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The Atomic-Scale Removal Mechanism during Si Tip Scratching on Si and SiO2 Surfaces in Aqueous KOH with an Atomic Force Microscope2002

    • 著者名/発表者名
      F.Katsuki, A.Saguchi, W.Takahashi, J.Watanabe
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.41, Part1, No.7B

      ページ: 4919-4923

    • NAID

      210000051818

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [図書] CMPの実践的基礎技術(石井久男)2004

    • 著者名/発表者名
      渡邊 純二
    • 総ページ数
      86
    • 出版者
      EDリサーチ社
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [図書] CMPの実践的基礎技術2004

    • 著者名/発表者名
      渡邉 純二
    • 総ページ数
      86
    • 出版者
      EDリサーチ社 石井久男
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [産業財産権] 半導体基板の超精密研磨装置2005

    • 発明者名
      渡邉純二, 横峯和幸, 石井秀明
    • 権利者名
      熊本大学
    • 産業財産権番号
      2005-041950
    • 出願年月日
      2005-02-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] 半導体基板の超精密研磨装置2005

    • 発明者名
      渡邉 純二, 横峯 和幸, 石井 秀明
    • 権利者名
      熊本大学
    • 産業財産権番号
      2005-041950
    • 出願年月日
      2005-02-16
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [産業財産権] 研削装置および研削方法2004

    • 発明者名
      渡邊 純二
    • 権利者名
      財・熊本テクノ産業財団
    • 産業財産権番号
      2004-165577
    • 出願年月日
      2004-06-03
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] 研削装置および研削方法2004

    • 発明者名
      渡邉 純二
    • 権利者名
      財・熊本テクノ産業財団
    • 産業財産権番号
      2004-165577
    • 出願年月日
      2004-06-03
    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [文献書誌] J.Watanabe, T.Hisamatsu, M.Hirano: "Effect of Pre-Thin-Surface Grinding on Copper Chemical Mechanical Polishing"Proceedings of the Sixth International Symposium on Advances in Abrasive Technology. 407-412 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] M.Touge, J.Watanabe, Y.Ohbuchi, H.Sakamoto, N.Ueda: "Development of Ultra Thin Quartz by Abrasive Machining"Proceedings of the Sixth International Symposium on Advances in Abrasive Technology. 123-128 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Ishikawa, Y.Matsumoto, Y.Nishida, S.Taniguchi, J.Watanabe: "Surface Treatment of Silicon Carbide Using TiO2(IV) Photocatalyst"J.Am.Chem.Soc.. 125巻、21号. 6558-6562 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] N.Kuroda, Y.Iida, T.Shigeta, Hasanudin, J.Watanabe: "Infrared Attenuated Total Reflection by Chemomechanically Polished (0001) Surface of 6H-SiC"Jpn.J.Appl.Phys.. 42巻 10B. L1241-L1243 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 藤田 隆, 渡邉 純二, 佐口明彦: "超LSIプロセスにおける平坦化CMP技術と装置の開発(第2報)-パッドドレッシング均一化技術の開発-"精密工学会誌. 69巻11号. 1610-1614 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] J.Watanabe, M.Fujimoto, Y.Matsumoto, N.Kuroda, O.Eryu: "Evaluation of Surfaces of Single SiC Crystal Polished with Various Kinds of Particles"Proceedings of the Fifth International Symposium on Advances in Abrasive Technology. 175-180 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] F.Katsuki, A.Saguchi, W.Takahashi, J.Watanabe: "The Atomic-Scale Removal Mechanism during Si Tip Scratching on Si and SiO2 Surfaces in Aqueous KOH with an Atomic Force Microscope"Jpn. J. Appi. Phys.. Vol.41, Part1, No.7B. 4919-4923 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
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公開日: 2002-04-01   更新日: 2016-04-21  

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