• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

陽電子による重要部材余寿命非破壊診断システムの構築

研究課題

研究課題/領域番号 14350370
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 構造・機能材料
研究機関大阪大学

研究代表者

白井 泰治  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20154354)

研究分担者 荒木 秀樹  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (20202749)
水野 正隆  大阪大学, 大学院・工学研究科, 助手 (50324801)
研究期間 (年度) 2002 – 2003
研究課題ステータス 完了 (2003年度)
配分額 *注記
14,800千円 (直接経費: 14,800千円)
2003年度: 4,000千円 (直接経費: 4,000千円)
2002年度: 10,800千円 (直接経費: 10,800千円)
キーワード陽電子消滅 / 非破壊検査 / 欠陥検出 / 疲労 / 材料評価 / 構造材料 / 金属材料 / 格子欠陥
研究概要

まずデスクトップ型の陽電子消滅材料構造欠陥分析装置の開発を行った。具体的には、磁場レンズによる磁界中の陽電子飛行軌跡のコンピュータ・シュミレーション、上記シュミレーション結果に基づく陽電子ビームエネルギー選別用小型磁場レンズの設計・製作、シュミレーション結果に基づく真空容器の設計・製作、線源装着部の設計・製作、陽電子検出器(APDによる)及び消滅γ線検出器(B_aF_2シンチレータによる)の設計・製作、寿命測定のための電子計測系の構築、測定された陽電子寿命スペクトル解析のためのソフトウェアの整備、特に一般のユーザーを想定した使いやすい入出力インターフェースの整備、を実施しシステム全体の総合性能を確認した。
一方、可搬型の材料劣化非破壊診断装置の試作に先だって、世界初のAPD陽電子検出器を用い、ステンレス鋼を例に、材料の疲労度合いを非破壊で精度よく検出できることを実証した。この陽電子技術の延長線上にたって、可搬型の材料劣化非破壊診断装置の試作及び性能試験を実施した。開発は、陽電子ビーム照射部及び放射線検出部と計測・制御部の完全分離、陽電子ビーム照射部及び放射線検出部の超コンパクト化・軽量化、遠隔操作による、測定・データの取り込みシステムの構築の順に従って進められた。新システム全体の組立調整の後、陽電子ビームを用いる新しい材料検査装置の実証実験を行い、その有用性を実証した。
陽電子ビームを用いるので試料を切り出す必要がなく、使用中の重要部材中の構造欠陥をその場測定することが可能となった。すなわち、各種構造体の疲労の度合いや照射欠陥などの蓄積度を非破壊で診断することが可能となり、各種構造体の余寿命診断を行ううえで大きな武器となる。陽電子寿命測定により余寿命(疲労、クリープについて)を的確に予測できることを示す基礎データを得ている。

報告書

(3件)
  • 2003 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2002 実績報告書
  • 研究成果

    (18件)

すべて 2004 2003 2002 その他

すべて 雑誌論文 (7件) 図書 (1件) 産業財産権 (3件) 文献書誌 (7件)

  • [雑誌論文] Fatigue Evaluation of Type 316 Stainless Steel Using Positron Annihilation Lineshape Analysis and β^+-γ Coincidence Positron Lifetime Measurement2002

    • 著者名/発表者名
      Y. Kawaguchi, Y. Shirai,
    • 雑誌名

      Journal of NUCLEAR SCIENCE and TECHNOLOGY Vol.39 No.10

      ページ: 1033-1040

    • NAID

      10010021445

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 磁界レンズを用いたエネルギー選別型β^+-γ同時計測陽電子寿命測定装置2002

    • 著者名/発表者名
      Prasert Chalermkarnnon, 宍戸逸朗, 柚賀正雄, 荒木秀樹, 白井泰治,
    • 雑誌名

      日本金属学会誌 Vol.66〔10〕

      ページ: 1004-1008

    • NAID

      10010465354

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] β^+-γ同時計測陽電子寿命測定法によるSUS316鋼の非破壊的疲労評価2002

    • 著者名/発表者名
      Prasert Chalermkarnnon, 河口恭寛, 荒木秀樹, 白井泰治,
    • 雑誌名

      日本金属学会誌 Vol.66〔12〕

      ページ: 1293-1296

    • NAID

      10010600987

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Fatigue Evaluation of Type 316 Stainless Steel Using Positron Annihilation Lineshape Analysis and B_+- y Coincidence Positron Lifetime Measurement2002

    • 著者名/発表者名
      Y., Kawaguchi, Y., Shirai
    • 雑誌名

      Journal of NUCLEAR SCIENCE and TECHNOLOGY Vol.39, No.10

      ページ: 1033-1040

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Non-Destructive Evaluation of Fatigue Damage in Type 316 Stainless Steel by Using B(+)-y Coincidence Positron Lifetime Spectrometer2002

    • 著者名/発表者名
      Prasert, Chalermkarnnon, Itsurou, Shishido, Masao, Yuga, Hideki, Araki, Yasuharu, Shirai
    • 雑誌名

      Journal of Japan Institute of Metals Vol.66(10)

      ページ: 1004-1008

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] B(+)-y Coincidence Positron Lifetime Spectrometer with Positron Energy Selection by Electromagnetic Lens2002

    • 著者名/発表者名
      Prasert, Chalermkarnnon, Yasuhiro, Kawaguchi, Hideki, Araki, Yasuharu, Shirai
    • 雑誌名

      Journal of Japan Institute of Metals Vol.66(12)

      ページ: 1293-1296

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] New B(+)-y coincidence positron lifetime spectrometer and its application to in-situ study of materials at high temperatures2002

    • 著者名/発表者名
      Y., Shirai, M., Yuga, P., Chalermkarnnon, H., Araki
    • 雑誌名

      Proceedings of the 3rd International Workshop on Positron Studies of Semiconductor Defects (PSSD-2002)

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [図書] 非破壊検査工学叢書「非破壊検査の最前線」ナノ技術への挑戦-陽電子消滅によるきずの評価-2002

    • 著者名/発表者名
      白井泰治(分担)
    • 総ページ数
      7
    • 出版者
      社団法人 日本非破壊検査協会
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] 大阪大学2004

    • 発明者名
      白井泰治
    • 権利者名
      白井泰治
    • 出願年月日
      2004
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] 大阪大学2003

    • 発明者名
      白井泰治
    • 権利者名
      白井泰治
    • 出願年月日
      2003
    • 取得年月日
      2004
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [産業財産権] 大阪大学2002

    • 発明者名
      白井泰治
    • 権利者名
      白井泰治
    • 出願年月日
      2002
    • 取得年月日
      2005
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2003 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 白井泰治, 荒木秀樹, 榊浩司: "陽電子が視つけた水素吸蔵に伴う原子空孔生成"日本金属学会誌. 72・7. 660-663 (2002)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Shirai, H.Araki, T.Mori, W.Nakamura, K.Sasaki: "Positron Annihilation Study of Lattice Defects Induced by Hydrogen Absorption in Some Hydrogen Storage Materials"Journal of Alloys and Compounds. 330-332. 125-131 (2002)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] M.Mizuno, K.Sasaki, H.Araki, Y.Shirai: "Theoretical Calculation of PositronLifetimes for LaNi_5-H system"Journal of Alloys and Compounds. 356-357. 186-190 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] I.Tanaka, T.Mizoguchi, M.Matui, S.Yoshioka, H.Adachi, T.Yamamoto, T.Okajima, M.Umesaki, W.Ching, Y.Inoue, M.Mizuno, H.Araki, Y.Shirai: "Identification of Ultradilute Dopants in Ceramics"Nature materials. 2. 541-545 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Masataka Mizuno, Hideki Araki, Yasuharu Shirai: "Energetics and structural relaxation of constitutional defects in CoAl and CoTi from first principles"Physical review B. 68. 1-14 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Prasert Chalermkarnnon, 穴戸逸朗, 柚賀正雄, 荒木秀樹, 白井泰治: "磁界レンズを用いたエネルギー選別β^+-γ同時計測陽電子寿命測定装置"日本金属学会誌. 66. 1004-1008 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書
  • [文献書誌] Prasert Chalermkarnnon, 河口恭寛, 荒木秀樹, 白井泰治: "β^+-γ同時計測陽電子寿命計測法によるSUS316鋼の非破壊的疲労評価"日本金属学会誌. 66. 1293-1296 (2002)

    • 関連する報告書
      2002 実績報告書

URL: 

公開日: 2002-04-01   更新日: 2016-04-21  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi