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原子間力顕微鏡による原子分子の力学的操作とナノ構造構築

研究課題

研究課題/領域番号 15201020
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 ナノ構造科学
研究機関大阪大学

研究代表者

菅原 康弘  大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (40206404)

研究期間 (年度) 2003 – 2005
研究課題ステータス 完了 (2005年度)
配分額 *注記
40,560千円 (直接経費: 31,200千円、間接経費: 9,360千円)
2005年度: 7,800千円 (直接経費: 6,000千円、間接経費: 1,800千円)
2004年度: 15,340千円 (直接経費: 11,800千円、間接経費: 3,540千円)
2003年度: 17,420千円 (直接経費: 13,400千円、間接経費: 4,020千円)
キーワード原子間力顕微鏡 / AFM / 原子分子操作 / 力学的操作 / 微細組み立て / ナノ構造 / ナノ物質 / ナノテクノロジー
研究概要

本研究では、「絶縁体も扱える非接触原子間力顕微鏡を駆使して、原子分子を力学的に操作する未踏の技術を実現する」ことを目的とする。具体的には以下の3点を課題とする。(1非接触原子間力顕微鏡を超高感度化する。(2)力学的に原子分子操作を行うための機構や制御条件を解明する。(3)原子分子操作によりナノ構造を構築し、その物性を解明する。具体的には、下記の成果が得られている。
1)垂直方向の原子操作の機構と制御条件の検討
表面の原子を引き抜いたり、付与させたりといった垂直方向の原子操作について、探針の振動振幅や探針・試料間距離、温度などを変化させて系統的に調べ、その機構と制御条件を検討した。なお、そのための試料としては、垂直方向の原子操作に成功しているシリコン表面を取り上げた。
2)修飾探針を用いた垂直方向の原子操作の制御因子に関する検討
探針を修飾することにより、探針先端部の電子状態を制御することができる。このような修飾した探針は、力学的な原子操作の制御因子を解明するためには極めて重要である。このような修飾した探針を用いて、垂直方向の原子操作の機構について検討した。
3)水平方向の原子操作の機構と制御条件の検討
原子を引き抜いたり、付与させたりといった垂直方向の原子操作だけでなく、原子を水平方向に移動させたりする水平方向の原子操作を試み、その機構と制御条件を検討する。試料表面としては、吸着エネルギーが比較的小さい、アルカリハライド結晶表面の吸着金属原子やシリコン表面上の吸着不活性原子を取り上げた。
4)分子操作の新しい制御方法の提案と制御条件の検討
操作対象に試料表面上の分子量の小さな吸着分子を取り上げ、これを力学的に垂直・水平方向に操作するための因子を明らかにした。

報告書

(4件)
  • 2005 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2004 実績報告書
  • 2003 実績報告書
  • 研究成果

    (38件)

すべて 2006 2005 2004 2003 その他

すべて 雑誌論文 (21件) 図書 (5件) 文献書誌 (12件)

  • [雑誌論文] The origin of p(2x1) phase on Si(001) by NC-AFM at 5k2006

    • 著者名/発表者名
      Y.J.Li et al.
    • 雑誌名

      Phys.Rev.Lett. 96

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The origin of p(2x1) phase on Si(001) by NC-AFM at 5k2006

    • 著者名/発表者名
      Y.J.Li, H.Nomura, N.Ozaki, Y.Naitoh, M.Kageshima, Y.Sugawara, C.Hobbs, L.Kantorovich
    • 雑誌名

      Phys.Rev.Lett. Vol.96

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The origin of p(2x1) phase on Si(001) by NC-AFM at 5k2006

    • 著者名/発表者名
      Y.J.Li, et al.
    • 雑誌名

      Phys.Rev.Lett., (In press)

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope2004

    • 著者名/発表者名
      S.Morita et al.
    • 雑誌名

      J.Electron Microscopy 53・2

      ページ: 163-168

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要 2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Phase detection method with a positive feedback control using aquartz resonator based atomic force microscope in liquid environment2004

    • 著者名/発表者名
      R.Nishi, K.Kitano, I.Yi, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci. 237

      ページ: 650-652

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing?2004

    • 著者名/発表者名
      T.Uda et al.
    • 雑誌名

      Progress in Surface Science 76・6-8

      ページ: 147-162

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Atom-selective imaging and mechanical atom manipulation using the non-contact atomic force microscope2004

    • 著者名/発表者名
      S.Morita, Y.Sugimoto, N.Oyabu, R.Nishi, O.Custance, Y.Sugawara, M.Abe
    • 雑誌名

      J.Electron Microscopy Vol.53, No.2

      ページ: 163-168

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Phase detection method with a positive feedback control using a quartz resonator based atomic force microscope in liquid environment2004

    • 著者名/発表者名
      R.Nishi, K.Kitano, I.Yi, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci. Vol.237

      ページ: 650-652

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Ground state of Si(001) surface revisited----Is seeing believing ?2004

    • 著者名/発表者名
      T.Uda, H.Shigekawa, Y.Sugawara, S.Mizuno, Y.Yamashita, J.Yoshinobu, K.Nakatsuji, H.Kawai, F.Komori
    • 雑誌名

      Progress in Surface Science Vol.76, No.6-8

      ページ: 147-162

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Ground state of Si(OO1) surface revisited----Is seeing believing ?2004

    • 著者名/発表者名
      T.Uda et al.
    • 雑誌名

      Progress in Surface Science 76・6-8

      ページ: 147-147

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 原子間力顕微鏡のABC2004

    • 著者名/発表者名
      菅原康弘
    • 雑誌名

      顕微鏡 39・3

      ページ: 185-185

    • NAID

      10014163818

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Atom Selective Imaging by NC-AFM : Case of Oxygen Adsorbed on a Si(111)7x7 Surface2003

    • 著者名/発表者名
      R.Nishi, S.Araragi, K.Shirai, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci 210・1-2

      ページ: 90-92

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] KPFM Imaging of Si(111)5【square root】3×5【square root】3-Sb Surface for Atom Distinction Using NC-AFM2003

    • 著者名/発表者名
      K.Okamoto, K.Yoshimoto, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci 210・1-2

      ページ: 128-133

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Mechanical Vertical Manipulation of Selected Single Atoms by Soft Nanoindentation Using Near Contact Atomic Force Microscopy2003

    • 著者名/発表者名
      N.Oyabu, O.Custance, I.Yi, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Phys.Rev.Lett 90・17

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The Imaging Mechanism of the Atomic-Scale Kelvin Probe Force Microscopy and Its Application to Atomic-Scale Force Mapping2003

    • 著者名/発表者名
      K.Okamoto, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys 42・11

      ページ: 7163-7168

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force Microscope Method2003

    • 著者名/発表者名
      S.Morita et al.
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 1

      ページ: 158-170

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Atom Selective Imaging by NC-AFM : Case of Oxygen Adsorbed on a Si(111)7×7 Surface2003

    • 著者名/発表者名
      R.Nishi, S.Araragi, K.Shirai, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci. Vol.210, No.1-2

      ページ: 90-92

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] KPFM Imaging of Si(111)5【square root】3×5【square root】3-Sb Surface for Atom Distinction Using NC-AFM2003

    • 著者名/発表者名
      K.Okamoto, K.Yoshimoto, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Appl.Surf.Sci. Vol.210, No.1-2

      ページ: 128-133

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Mechanical Vertical Manipulation of Selected Single Atoms by Soft Nanoindentation Using Near Contact Atomic Force Microscopy2003

    • 著者名/発表者名
      N.Oyabu, O.Custance, I.Yi, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Phys.Rev.Lett. Vol.90, No.17

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] The Imaging Mechanism of the Atomic-Scale Kelvin Probe Force Microscopy and Its Application to Atomic-Scale Force Mapping2003

    • 著者名/発表者名
      K.Okamoto, Y.Sugawara, S.Morita
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.42, No.11

      ページ: 7163-7168

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Atom Selective Imaging and Mechanical Atom Manipulation based on Noncontact Atomic Force Microscope Method2003

    • 著者名/発表者名
      S.Morita, N.Oyabu, R.Nishi, K.Okamoto, M.Abe, O.Custance, I.Yi, Y.Seino, Y.Sugawara
    • 雑誌名

      e-Journal of Surface Science and Nanotechnology Vol.1

      ページ: 158-170

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [図書] 走査型プローブ顕微鏡 未来予測2005

    • 著者名/発表者名
      菅原康弘(分担)
    • 総ページ数
      198
    • 出版者
      丸善
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [図書] 実戦ナノテクノロジー・走査プローブ顕微鏡と局所分光2005

    • 著者名/発表者名
      菅原康弘(分担)
    • 総ページ数
      429
    • 出版者
      裳華房
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [図書] Scanning Probe Microscopy : Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials2005

    • 著者名/発表者名
      S.Morita et al.
    • 総ページ数
      41
    • 出版者
      Kluwer Academic Publishers(分担)
    • 関連する報告書
      2005 実績報告書 2004 実績報告書
  • [図書] 走査型プローブ顕微鏡 未来予測2005

    • 著者名/発表者名
      菅原康弘
    • 総ページ数
      9
    • 出版者
      丸善(分担)
    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [図書] 実戦ナノテクノロジー・走査プローブ顕微鏡と局所分光2005

    • 著者名/発表者名
      菅原康弘
    • 総ページ数
      33
    • 出版者
      裳華房(分担)
    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [文献書誌] R.Nishi at al.: "Atom Selective Imaging by NC-AFM : Case of Oxygen Adsorbed on a Si(111)7×7 Surface"Appl.Surf.Sci.. 210・1-2. 90-92 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] K.Okamoto et al.: "KPFM Imaging of Si(111)5【square root】3x5【square root】3-Sb Surface for Atom Distinction Using NC-AFM"Appl.Surf.Sci.. 210・1-2. 128-133 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] N.Oyabu et al.: "Mechanical Vertical Manipulation of Selected Single Atoms by Soft Nanoindentation Using Near Contact Atomic Force Microscopy"Phys.Rev.Lett.. 90・17. 176102-1-176102-4 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] K.Okamoto et al.: "The Imaging Mechanism of the Atomic-Scale Kelvin Probe Force Microscopy and Its Application to Atomic-Scale Force Mapping"Jpn.J.Appl.Phys.. 41・11. 7163-7168 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] S.Morita, Y.Sugawara: "Noncontact Atomic Force Microscopy on Semiconductor Surfaces"Surface and Interface Analysis. (In press). (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 菅原康弘: "原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成"精密工学会誌. 69・2. 154-157 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 菅原康弘: "STMおよびAFM、原理と応用"電子顕微鏡. 38・1. 13-18 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 森田清三他: "原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察"静電気学会誌. 27・2. 64-68 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 菅原康弘, 清野宜秀: "原子間力近接場光学顕微鏡によるニア原子分解能の達成"応用物理. 72・8. 1020-1026 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 菅原康弘: "イオン工学ハンドブック"イオン工学研究所. 4 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 菅原康弘: "ナノテクノロジーハンドブック"オーム社. 4 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] Y.Sugawara, S.Morita: "Springer Handbook of Nanotechnology"Springer. 7 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書

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公開日: 2003-04-01   更新日: 2016-04-21  

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