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テストデータの圧縮・展開を指向したテストアーキテクチャに関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 15300021
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関広島市立大学

研究代表者

市原 英行  広島市立大学, 情報科学部, 助教授 (50326427)

研究分担者 井上 智生  広島市立大学, 情報科学部, 教授 (40252829)
研究期間 (年度) 2003 – 2005
研究課題ステータス 完了 (2005年度)
配分額 *注記
9,500千円 (直接経費: 9,500千円)
2005年度: 2,700千円 (直接経費: 2,700千円)
2004年度: 3,100千円 (直接経費: 3,100千円)
2003年度: 3,700千円 (直接経費: 3,700千円)
キーワードLSIテスト / データ圧縮 / 展開器 / テストデータ / 統計型符号 / テストコスト / 再構成可能性 / アーキテクチャ / 圧縮器 / 再構成可能 / テストベクトル / ハフマン符号 / LSIテスター
研究概要

本研究では,VLSIテストにおける,実用性を重視したテストデータの圧縮・展開手法について研究・開発を行った.
平成15年度は,まず圧縮・展開アルゴリズムとテスト実行の関係の解析を行い,この解析に従ってバッファ付き展開器モデルを提案した.これによりテスト実行におけるいくつかの制約を緩和することができようになった.さらに,テスト展開器のオーバーヘッド削減のために,テストの品質を落とすことなくテストベクトルを並べ替える手法も提案した.一方で,テスト応答を圧縮するために,ハフマン符号をベースとした新しい出力応答圧縮用符号を提案した.加えて,これらの研究を行う際に行った他の研究の動向調査を基に,他大学の研究者とともにサーベイ論文としてまとめた.
平成16年度は,初年度の解析を一般的な統計型符号に拡張し,新たなテスト入力用の符号化手法を提案した.提案した符号化手法は,符号語長とその圧縮率を適切に調整することで,テスト環境に応じたテストデータの圧縮・展開を行うことができる.さらに,テスト圧縮に有効なテストデータの生成法についても研究を行った.この手法はテストベクトル数を増やすことなく圧縮率が高いテストデータを生成することを可能とした.さらに,ランレングス符号やゴーロム符号などの可変長符号についての解析を進め,埋込み展開器の柔軟性について考察を行った.
平成17年度は,前年度の考察を発展させ,再構成可能な埋込み展開器アーキテクチャを提案した.このアーキテクチャは,テストデータに応じた高い圧縮率を得られるだけでなく,SoCのテストにも柔軟に対応できる特徴を持つ.さらに,従来のLSI設計フローに適切に組み込むことができるため,実用性が高い展開器であると考えられる.
以上のように,実用性を意識して,様々な角度からテストデータの圧縮・展開手法に関して研究を行ってきた.

報告書

(4件)
  • 2005 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2004 実績報告書
  • 2003 実績報告書
  • 研究成果

    (26件)

すべて 2006 2005 2004 2003 その他

すべて 雑誌論文 (22件) 文献書誌 (4件)

  • [雑誌論文] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IPSJ Journal Vol.47, No.6

    • NAID

      130000058362

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Reconfigurable Embedded Decompressor for Test Compression2006

    • 著者名/発表者名
      T.Saiki
    • 雑誌名

      IEEE Proc.International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA2006)

      ページ: 301-306

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] An Adaptive Decompressor for Test Application with Variable-Length Coding2006

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IPSJ Journal Vol.47,No.6

    • NAID

      130000058362

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Reconfigurable Embedded Decompressor for Test Compression2006

    • 著者名/発表者名
      T.Saiki
    • 雑誌名

      IEEE Proc.International Workshop on Electronic Design, Test & Applications

      ページ: 301-306

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Reconfigurable Embedded Decompressor for Test Compression2006

    • 著者名/発表者名
      T.Saiki
    • 雑誌名

      Proc. IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA2006)

      ページ: 301-306

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Huffman-Based Test Response Coding2005

    • 著者名/発表者名
      H.Ishihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf.& Syst. E88-D・1

      ページ: 158-161

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005

    • 著者名/発表者名
      市原 英行
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I J88-D-I・6

      ページ: 1021-1028

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Huffman-based coding with efficient test application2005

    • 著者名/発表者名
      M.Shintani
    • 雑誌名

      IEEE Proc.ASP-DAC

      ページ: 75-78

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Huffman-Based Test Response Coding2005

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf. & Syst. Vol.E88-D, No.1

      ページ: 158-161

    • NAID

      110003214149

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Test Generation for Compressible and Compact Test Sets2005

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IEICE Trans.D-I Vol.J88-D-I, No.6

      ページ: 1021-1028

    • NAID

      110003203375

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005

    • 著者名/発表者名
      市原 英行
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-1 J88D-1・6

      ページ: 1021-1028

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について2005

    • 著者名/発表者名
      佐伯友之
    • 雑誌名

      信学技報 105・102

      ページ: 1-6

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] 高圧縮可能かつコンパクトなテスト生成について2005

    • 著者名/発表者名
      市原 英行, 井上智生
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D-I J88D-I・6

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Huffman-Based Test Response Coding2005

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara, M.Shintani, T.Inoue
    • 雑誌名

      IEICE Trans.Inf. & Syst. E88-D・1

      ページ: 158-161

    • NAID

      110003214149

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] A Huffman-based coding with efficient test application2005

    • 著者名/発表者名
      M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
    • 雑誌名

      Proc.ASP-DAC

      ページ: 75-78

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について2005

    • 著者名/発表者名
      新谷道広, 市原英行, 越智正邦, 井上智生
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告 104・629

      ページ: 35-40

    • NAID

      110003318242

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量および実行時間の削減-2004

    • 著者名/発表者名
      樋上喜信
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌(DI) J87-D-I・3

      ページ: 291-307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Test Cost Reduction for Logic Circuits -Reduction of test data volume and testing time-2004

    • 著者名/発表者名
      Y.Higami
    • 雑誌名

      IEICE Trans.D-I Vol.J87-D-I, No.3

      ページ: 291-307

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding2004

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara, M.Ochi, M.Shintani, T.Inoue
    • 雑誌名

      IEEE Proc.Asian Test Symp.

      ページ: 426-431

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] A Test Compression Algorithm for Reducing Test Application Time2004

    • 著者名/発表者名
      M.Shintani, T.Ohara, H.Ichihara, T.Inoue
    • 雑誌名

      5th Workshop on RTL and High Level Testing

      ページ: 53-58

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Test Response Compression Based on Huffman Coding2003

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IEEE Proc.Asian Test symposium

      ページ: 446-449

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Test Response Compression Based on Huffman Coding2003

    • 著者名/発表者名
      H.Ichihara
    • 雑誌名

      IEEE Proc.Asian Test Symposium

      ページ: 446-449

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [文献書誌] 樋上喜信: "論理回路に対するテストコスト削減法-テストデータ量および実行時間の削減-"電子情報通信学会論文誌(DI). J87-D-I・3. 291-307 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 越智正邦: "テスト展開器のオーバーヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて"電子情報通信学会技術研究報告. 103・668. 41-46 (2004)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] H.Ichihara: "Test Response Compression Based on Huffman Coding"Proc.Asian Test symposium. 446-449 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書
  • [文献書誌] 新谷道広: "ハフマン符号に基づくテストデータ展開機構について"電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集. 602-608 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書

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公開日: 2003-04-01   更新日: 2016-04-21  

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