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出荷前(加速)試験データと使用中inspectionデータを統合した新寿命推定法

研究課題

研究課題/領域番号 15510134
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 社会システム工学・安全システム
研究機関九州工業大学

研究代表者

廣瀬 英雄  九州工業大学, 情報工学部, 教授 (60275401)

研究期間 (年度) 2003 – 2004
研究課題ステータス 完了 (2004年度)
配分額 *注記
1,600千円 (直接経費: 1,600千円)
2004年度: 700千円 (直接経費: 700千円)
2003年度: 900千円 (直接経費: 900千円)
キーワード加速劣化試験 / 余寿命 / inspection / ワイブル分布 / cumulative exposure model / power law(べき乗則) / step-up test(上昇法) / 条件付き確率 / power law (べき乗則) / step-up test (上昇法)
研究概要

加速劣化試験は、新製品が市場に出る前までに寿命を推定するための唯一の手段である。しかし、出荷前での加速劣化寿命予測と使用環境下でのinspectionによる余寿命を比較した場合、両者の乖離は大きく、加速劣化試験そのものの意義が問われている。両者の試験法を結びつける方法として提案されているcumulative exposure modelを用いてパラメータ推定についての実現性について調査を行った結果、パラメータ推定については、1.故障履歴(一定期間内に故障した個数やさらに正確には故障時間)を計算に取り込むことができれば、あらかじめ設定しておいた「べき乗則」のパラメータを推定できることが分かった。2.しかし、故障履歴が分からず、生き残った製品を用いての破壊試験によって「べき乗則」のパラメータを推定するには、条件付き確率による数値計算上の不安定さが確認され、この状態のときには推定不能の可能性が高いことが判明するなど、このモデルを用いたパラメータ推定については種々の困難性があることが分かり、一定期間使用後のinspectionから得られたサンプルを用いて破壊強度を求めるための「上昇法による破壊値推定」の基本的な問題から取り組まなければならないことが分かった。そこで、この基本的な問題の解決について検討を行った結果、背後に種々の確率分布を仮定したときに、得られた見かけ上の破壊値をそのまま利用するのではなく、背後の確率分布にフィットするパラメータを使うことで普遍性が得られるということが分かった。

報告書

(3件)
  • 2004 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2003 実績報告書
  • 研究成果

    (11件)

すべて 2004 2003

すべて 雑誌論文 (11件)

  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method in the Weibull model2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., Dielectrics and Electrical Insulation Vol.11, No.3

      ページ: 418-423

    • NAID

      120002440949

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] More Accurate Breakdown Voltage Estimation for the New Step-up Test Method for Various Probability Disribution Models2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IJEE Trans., A Vol.124, No.7

      ページ: 587-592

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 新段階昇圧法を用いた低破壊値の推定法について2004

    • 著者名/発表者名
      廣瀬英雄
    • 雑誌名

      統計数理 Vol.52, No.1

      ページ: 175-187

    • NAID

      120006019095

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method in the Weibull model2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., DEI 11

      ページ: 418-423

    • NAID

      120002440949

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method for various probability distribution models2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., DEI 124

      ページ: 587-592

    • NAID

      10013267728

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Low probability breakdown voltage estimation for the new step-up test method2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      Proceedings of the Institute of Statistical Mathematics 52

      ページ: 175-187

    • NAID

      120006019095

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method in the Weibull model2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., Dielectrics Electrical Insulation Vol.11, No.3

      ページ: 418-423

    • NAID

      120002440949

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] More Accurate Breakdown Voltage Estimation for the New Step-up Test Method for Various Probability Distribution Models2004

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IJEE Trans., A Vol.74, No.1

      ページ: 587-592

    • NAID

      10013267728

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] 新段階昇圧法を用いた低破壊値の推定法について2004

    • 著者名/発表者名
      廣瀬英雄
    • 雑誌名

      統計数理 Vol.124, No.7

      ページ: 175-187

    • NAID

      120006019095

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method2003

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., Dielectrics and Electrical Insulation Vol.10, No.3

      ページ: 475-482

    • NAID

      120002440950

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] More accurate breakdown voltage estimation for the new step-up test method in the Weibull model2003

    • 著者名/発表者名
      H.Hirose
    • 雑誌名

      IEEE Trans., DEI 10

      ページ: 475-482

    • NAID

      120002440949

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2004 研究成果報告書概要

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公開日: 2003-04-01   更新日: 2016-04-21  

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