| 研究課題/領域番号 |
15656022
|
|---|
| 研究種目 |
萌芽研究
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 研究分野 |
応用物理学一般
|
|---|
| 研究機関 | 京都大学 |
|---|
研究代表者 |
戸崎 充男 京都大学, 放射性同位元素総合センター, 助手 (70207570)
|
|---|
| 研究分担者 |
大澤 大輔 京都大学, 放射性同位元素総合センター, 助手 (90324681)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2003 – 2004
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2004年度)
|
| 配分額 *注記 |
3,400千円 (直接経費: 3,400千円)
2004年度: 700千円 (直接経費: 700千円)
2003年度: 2,700千円 (直接経費: 2,700千円)
|
|---|
| キーワード | イメージングプレート(IP) / 4π計測 / 炭素ビーム / Heビーム / 粒子弁別 / フェイディング / ダイレクトビーム / グローリー散乱 / 散乱角度 / ダブルコリメーター / イオンビーム散乱実験 / タンデム・バンデグラフ加速器 |
|---|
| 研究概要 |
我々は、重イオン衝突系の散乱荷電粒子の強度角度分布測定用に、イメージングプレート(IP)を利用した線量蓄積型の4π計測システムの開発を2ヶ年計画で進め、今年度は2年目にあたる。初年度に実験開発用に工夫を施し構築した装置をさらに発展させ、ダイレクトビームと散乱ビーム系の2つの測定系を組み込み、開発用の装置として完成できた。
研究は、重イオンの最前方散乱でおこるグローリー散乱測定への応用に的を絞って計測システムの開発を進めた。重イオン衝突として、金および炭素の薄膜を標的に、エネルギー16MeVの炭素ビームおよび6MeVのHeビームの散乱強度をIPで測定した。IPに対する炭素ビームの線量等の定量的な評価のために、装置に半導体検出器を組み込み、IP測定と同じ測定条件でビーム量を評価した。特に、Heビームの評価として、標準線源Am-241からのα線(5.486MeV)を利用した。IPの輝度と線量の相関を定量的に評価できる手法は確立できた。しかし、フェイディングに関してはまだ正しい評価はできてない。
IPは、電子、X線、散乱イオンとあらゆるものに感じるため、最大の問題点は粒子弁別であったが、フィルタを入れることでイオンの弁別が可能なことが分かった。さらに、測定したい散乱ビームとバックグランドとのS/Nを改善する余地はあるが、アッテネータで制御することで、ダイレクトビームとその散乱ビームを、IPのダイナミックレンジ内で同時に測定出来るようになった。計測システムの完成にあたり改良すべき問題点を明らかにできた。
加速器からのイオンビームを用いた実験と平行して、各種放射線に対するIPの基本的な応答等について、当放射性同位元素総合センターにて、RIからの放射線を用いた評価実験を進めている。
|
