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3次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡の開発と3次元ドメインエンジニアリング

研究課題

研究課題/領域番号 15760234
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 電子デバイス・電子機器
研究機関東北大学

研究代表者

小田川 裕之  東北大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (00250845)

研究期間 (年度) 2003 – 2004
研究課題ステータス 完了 (2004年度)
配分額 *注記
3,700千円 (直接経費: 3,700千円)
2004年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
2003年度: 2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
キーワードSNDM / 走査型非線形誘電率顕微鏡 / 強誘電分離 / 分極分布計測 / 3次元ベクトル / 強誘電体 / 強誘電ドメイン / 強誘電分極
研究概要

本研究では、強誘電体材料の強誘電分極の向きが試料表面に対して傾斜しているような場合でも計測し、ベクトル表示することが可能な3次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡システムを開発し、強誘電材料のドメインの評価と、人工的に形成したドメインを利用した3次元ドメインエンジニアリング技術へ応用するための基礎研究を目的とした。
昨年度までの研究で、面内方向については、分極の向き(角度)を絶対値で求めることが可能となっており、仰角方向には、上向きの成分(或いは下向きの成分)の強弱と、材料がとりうるドメインとを併せて考えることで3次元的な分極方向を決定することが可能となったが、仰角の絶対値を求めるには至っていなかった。
本年度は、座標回転後の非線形誘電率の値を元に、計測している容量変化から仰角方向の絶対値計測を行うことを試みた。実際に電圧印加により作製された周期分極反転LiNbO_3単結晶を、分極の向きが仰角方向に45度傾斜するように切り出し、その分極の向きの絶対値計測を行った。その結果、誤差1度の精度で角度が求まり本手法の有効性を確認した。
本研究課題による3次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡は、将来の強誘電デバイス材料の評価技術として極めて有効であり、強誘電材料やデバイスの開発へ大きく貢献するものである。また、3次元ベクトル型走査型非線形誘電率顕微鏡は、強誘電体記録の多値記録の読み取りデバイスへの応用も考えられ、将来へ発展する研究成果が得られたと言える。

報告書

(2件)
  • 2004 実績報告書
  • 2003 実績報告書
  • 研究成果

    (4件)

すべて 2005 2004 その他

すべて 雑誌論文 (3件) 文献書誌 (1件)

  • [雑誌論文] 非線形誘電率顕微鏡と次世代超高密度強誘電体記録2005

    • 著者名/発表者名
      長, 小田川, 大原, 平永
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌 J88-C・1

      ページ: 1-12

    • NAID

      110003207329

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Three-Dimensional Measurement for Absolute Value of Polarization Angle Using 3D-Type Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      T.Sugihara, H.Odagawa, Y.Cho
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics (発表予定)

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [雑誌論文] Three-dimensional measurement of ferroelectric polarization using 3D-type scanning nonlinear dielectric microscopy with an electric field correction2004

    • 著者名/発表者名
      T.Sugihara, H.Odagawa, Y.Cho
    • 雑誌名

      Seventh International Conference on non-contact Atomic Force Microscopy Abstracts

      ページ: 84-84

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [文献書誌] H.Odagawa: "Three Dimensional Polarization Direction Measurement Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy with Rotating Electric Field"Journal of Korean Physical Society. 42. S1169-S1173 (2003)

    • 関連する報告書
      2003 実績報告書

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公開日: 2003-04-01   更新日: 2016-04-21  

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