| 研究概要 |
符号化率の高い符号を構成符号とする積符号に対しては,限界距離復号法(BDD)を複数回用いる軟値入出力Chaseタイプ復号法が,符号化率の低い符号を構成符号とする積符号に対しては,符号化に基づく復号法(EBD)を複数回用いる軟値入出力OSDタイプ復号法が,良い誤り制御特性を持つ事が計算機模擬によって示されている.そこでBDDとEBDを用いる逐次型復号法を研究対象とした.復号法内部では,受信系列の硬判定系列とテスト系列集合の各系列の和を入力系列とし,テスト系列に応じてBDDかEBDが実行される.この様な復号法の誤り制御特性は,テスト系列集合から多大な影響を受ける事が知られている.そこで新たなテスト系列集合の選択方法の提案を行った.提案方法では,最初に候補テスト系列集合の構成を行う.対象符号が,符号長N,情報ビット数Kの2元符号であれば,復号法内部でBDDとEBDを用いる事より,それぞれの復号器に対する候補テスト系列集合は,それぞれ長さNとKのすべての2元系列となる.しかしながら符号長の増加に伴って,候補テスト系列数は膨大となる.そこで信頼度の低いビット位置に被覆符号の符号語,残りのビット位置に2元系列による集合をBDD用の候補テスト系列集合とした.その集合とEBD用のテスト系列集合の和集合を候補テスト系列集合として構成した.そして,計算機模擬によって膨大数のサンプル硬判定系列集合を構成し,候補テスト系列集合の中でサンプル硬判定系列を最も送信語に復号する系列をテスト系列として選択し,そのテスト系列によって送信語に復号されるサンプル硬判定系列を集合から除く手順を必要数のテスト系列が得られるまで繰り返し,テスト系列集合の構成を行った.提案方法によって予め選択されたテスト系列集合を用いた対象復号法は,かなり少ないBDD, EBDの繰り返し回数でChase, OSDタイプ復号法とほぼ同じ誤り制御特性を持つ事を計算機模擬によって示した.
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