| 研究課題/領域番号 |
15H02244
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(A)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
電子・電気材料工学
|
|---|
| 研究機関 | 公益財団法人高輝度光科学研究センター |
|---|
研究代表者 |
中村 哲也 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 主席研究員 (70311355)
|
|---|
| 研究分担者 |
小谷 佳範 公益財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 研究員 (10596464)
野村 光 大阪大学, 工学研究科, 助教 (20506258)
岡本 聡 東北大学, 多元物質科学研究所, 准教授 (10292278)
菊池 伸明 東北大学, 多元物質科学研究所, 助教 (80436170)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
|
| 配分額 *注記 |
43,160千円 (直接経費: 33,200千円、間接経費: 9,960千円)
2017年度: 8,580千円 (直接経費: 6,600千円、間接経費: 1,980千円)
2016年度: 19,890千円 (直接経費: 15,300千円、間接経費: 4,590千円)
2015年度: 14,690千円 (直接経費: 11,300千円、間接経費: 3,390千円)
|
|---|
| キーワード | Ｘ線磁気円二色性 / 放射光 / 軟Ｘ線 / スピントロニクス / STM / 電子・電気材料 / スピンエレクトロニクス |
|---|
| 研究成果の概要 |
本研究では、放射光ナノ集光ビームによるＸ線磁気円二色性（XMCD）測定技術の開発を行った。Co/Ni多層膜を試料とした時分割測定により、約100 nmの微小領域に対する磁化ダイナミクスをXMCD信号変化として検出することに成功した。また、さらに高度なナノ磁化検出技術への挑戦として、軟Ｘ線ナノビーム走査プローブ顕微鏡(SR-SPM)を開発した。放射光SPMの励起光源として軟X線集光ビーム生成し、SPM探針直下の試料位置に照射する特徴を有する。従来技術に比べ、SPM探針直下に約1000倍の密度の軟Ｘ線ビームを照射可能である。本装置を用い、パーマロイ磁気ドットのXMCD観察に成功した。
|
