| 研究課題/領域番号 |
15H02677
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 京都工芸繊維大学 |
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研究代表者 |
小林 和淑 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 教授 (70252476)
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| 研究分担者 |
古田 潤 京都工芸繊維大学, 電気電子工学系, 助教 (30735767)
西澤 真一 埼玉大学, 理工学研究科, 助教 (40757522)
吉河 武文 富山県立大学, 工学部, 教授 (60636702)
松本 高士 東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 助教 (70417369)
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| 研究協力者 |
Stoffels Steve Interuniversity Microelectronics Centre
Posthuma Niels Interuniversity Microelectronics Centre
Li Xiangdong Interuniversity Microelectronics Centre
Decoutere Stefaan Interuniversity Microelectronics Centre
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
15,990千円 (直接経費: 12,300千円、間接経費: 3,690千円)
2018年度: 3,380千円 (直接経費: 2,600千円、間接経費: 780千円)
2017年度: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2016年度: 4,550千円 (直接経費: 3,500千円、間接経費: 1,050千円)
2015年度: 3,640千円 (直接経費: 2,800千円、間接経費: 840千円)
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| キーワード | IoT / ソフトエラー / 経年劣化 / パワーエレクトロニクス / 一時故障 / 永久故障 / NBTI / RTN / 信頼性 / ランダムテレグラフノイズ / BTI / パワエレ / FDSOI / バルク / スタックトランジスタ |
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| 研究成果の概要 |
高効率かつ高信頼で長時間動作可能な「もの」のインターネット機器の実現を目指して，次の項目の研究を行った．
1．一時故障に強靭な回路，2．経年劣化に強靭な回路，3．電源の小型化による信頼性の向上
1.では試作LSIをα線/中性子/重イオンを照射し従来回路の100倍程度の強靭さを確認した．2．では数ヶ月の長期にわたって高温かつ電源電圧の高い環境に置き，劣化の様子を観測した．3.では，横型GaN HEMTを用いた集積回路を試作し正常動作を確認した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
インターネットの普及によりそれに接続される電子機器の数は急速に増加している．一旦接続されたIoT機器は，放置され続ける場合がほとんどであり，長時間にわたってエラーなく動作することが要求される．またその小型化も重要な課題である．本研究成果により，そのようなIoTの実現の可能性が大きく高まった．本成果は民間企業などへの移転を計画中であり，社会に成果を還元する予定である．
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