原子間力顕微鏡による単原子の電気陰性度の計測

• 研究課題/領域番号: 15H03566
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 東京大学
• 研究代表者: 杉本 宜昭 東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 准教授 (00432518)
• 研究期間 (年度): 2015-04-01 – 2018-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2017年度)
• 配分額: 17,290千円 (直接経費: 13,300千円、間接経費: 3,990千円); 2017年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円); 2016年度: 7,540千円 (直接経費: 5,800千円、間接経費: 1,740千円); 2015年度: 8,710千円 (直接経費: 6,700千円、間接経費: 2,010千円)
• キーワード: 原子間力顕微鏡 / 走査プローブ顕微鏡 / 走査型プローブ顕微鏡

研究成果の概要

原子間力顕微鏡（AFM）を用いた化学結合力測定による単一原子の元素同定が期待されている。これが実現すると、構成原子・欠陥・ドーパントが重要な役割を果たす触媒や微細化されたトランジスターなど、広い範囲の応用につながる。AFMを使えば、探針先端の1つの原子と表面の1つの原子との間の1対1の原子間力や結合エネルギーを精密に計測できる。今回、1932年にPaulingによって導入された電気陰性度の計測に成功した。それによって、原子が持つイオン性の情報を得ることができる。本研究は量子化学を単原子レベルで検証することにつながり、その知見は単一原子の元素同定などへ応用することができる。

研究成果

• [国際共同研究] イスタンブール工科大学(トルコ)
• [国際共同研究] チェコ科学アカデミー(チェコ)
• [国際共同研究] マドリッド自治大学(スペイン)
• [国際共同研究] チェコ科学アカデミー(チェコ)
• [国際共同研究] University College London(英国)
• [雑誌論文] Water-NO Complex Formation and Chain Growth on Cu(111) (2018)
  • 著者名/発表者名: Koshida Hiroyuki、Hatta Shinichiro、Okuyama Hiroshi、Shiotari Akitoshi、Sugimoto Yoshiaki、Aruga Tetsuya
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 122 号: 16 ページ: 8894-8900
  • DOI: 10.1021/acs.jpcc.7b12447
  • 査読あり
• [雑誌論文] Chiral Discrimination and Manipulation of Individual Heptahelicene Molecules on Cu(001) by Noncontact Atomic Force Microscopy (2018)
  • 著者名/発表者名: Shiotari Akitoshi, Tanaka Koichi, Nakae Takahiro, Mori Shigeki, Okujima Tetsuo, Uno Hidemitsu, Sakaguchi Hiroshi, Sugimoto Yoshiaki
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 122 号: 9 ページ: 4997-5003
  • DOI: 10.1021/acs.jpcc.8b00487
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-resolution imaging of silicene on an Ag(111) surface by atomic force microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: Onoda Jo、Yabuoshi Keisuke、Miyazaki Hiroki、Sugimoto Yoshiaki
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 96 号: 24
  • DOI: 10.1103/physrevb.96.241302
  • 査読あり
• [雑誌論文] Atom manipulation method to substitute individual adsorbate atoms into a Si(111)-(7 × 7) substrate at room temperature (2017)
  • 著者名/発表者名: Yurtsever Ayhan、Abe Masayuki、Morita Seizo、Sugimoto Yoshiaki
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: 111 号: 23 ページ: 233102-233102
  • DOI: 10.1063/1.5008503
  • 査読あり
• [雑誌論文] First-principles study of lateral atom manipulation assisted by structural relaxation of a scanning tip apex (2017)
  • 著者名/発表者名: Enkhtaivan Batnyam、Sugimoto Yoshiaki、Oshiyama Atsushi
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 96 号: 15 ページ: 1554171-7
  • DOI: 10.1103/physrevb.96.155417
  • 査読あり
• [雑誌論文] Investigation of atomic species in Pt-induced nanowires on Ge(001) surface by combined atomic force and scanning tunneling microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: Inami Eiichi、Sugimoto Yoshiaki、Shinozaki Takuya、Gurlu Oguzhan、Yurtsever Ayhan
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 96 号: 15 ページ: 1554151-7
  • DOI: 10.1103/physrevb.96.155415
  • 査読あり / 国際共著
• [雑誌論文] Role of lateral forces on atom manipulation process on Si(111)-(7×7) surface in dynamic force microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: Yurtsever Ayhan、Abe Masayuki、Morita Seizo、Sugimoto Yoshiaki
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 96 号: 15 ページ: 1554121-8
  • DOI: 10.1103/physrevb.96.155412
  • 査読あり
• [雑誌論文] Strain-induced skeletal rearrangement of a polycyclic aromatic hydrocarbon on a copper surface (2017)
  • 著者名/発表者名: Shiotari Akitoshi, Nakae Takahiro, Iwata Kota, Mori Shigeki, Okujima Tetsuo, Uno Hidemitsu, Sakaguchi Hiroshi, Sugimoto Yoshiaki
  • 雑誌名: Nature Communications 巻: 8 号: 1 ページ: 16089-16089
  • DOI: 10.1038/ncomms16089
  • NAID: 120006329156
  • 査読あり / オープンアクセス
• [雑誌論文] Electronegativity determination of individual surface atoms by atomic force microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Nature Communications 巻: 8 号: 1 ページ: 151551-6
  • DOI: 10.1038/ncomms15155
  • NAID: 130007647589
  • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] The Local electronic properties of individual Pt atoms adsorbed on TiO2(110) studied by Kelvin probe force microscopy and first-principles simulations (2017)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, D. Fernandez-Torre, J. Onoda, M. Abe, S. Morita, Y. Sugimoto, and R. Perez
  • 雑誌名: Nanoscale 巻: 9 号: 18 ページ: 1-10
  • DOI: 10.1039/c6nr07550a
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Ultrahigh-resolution imaging of water networks by atomic force microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: A. Shiotari, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Nature Communications 巻: 8 号: 1 ページ: 143131-7
  • DOI: 10.1038/ncomms14313
  • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Mechanical properties on In/Si(111)-(8x2) investigated by atomic force microscopy (2017)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, S. Yamazaki, A. Shiotari, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 巻: 56 号: 1 ページ: 0157011-4
  • DOI: 10.7567/jjap.56.015701
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Straight Imaging and Mechanism behind Grain Boundary Electron Emission in Pt-doped Ultrananocrystalline Diamond Films (2017)
  • 著者名/発表者名: K. Panda, E. Inami, Y. Sugimoto, K.J. Sankaran, and I.-N. Lin
  • 雑誌名: Carbon 巻: 111 ページ: 8-17
  • DOI: 10.1016/j.carbon.2016.09.062
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Effects of Pb intercalation on the structural and electronic properties of epitaxial graphene on SiC (2016)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, Jo Onoda, T. Iimori, K. Niki, T. Miyamachi, M. Abe, S. Mizuno, S. Tanaka, F. Komori, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Small 巻: 12 号: 29 ページ: 3956-3966
  • DOI: 10.1002/smll.201600666
  • 査読あり
• [雑誌論文] Combined atomic force microscopy and voltage pulse technique to accurately measure electrostatic force (2016)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 巻: 55 号: 8S1 ページ: 08NB05-08NB05
  • DOI: 10.7567/jjap.55.08nb05
  • NAID: 210000146972
  • 査読あり / オープンアクセス / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Imaging the TiO2(011)-(2x1) Surface using Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy (2016)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, J. Onoda, M. Abe, C.L. Pang, Y. Sugimoto
  • 雑誌名: The Journal of Physical Chemistry C 巻: 120 号: 6 ページ: 3390-3395
  • DOI: 10.1021/acs.jpcc.5b11703
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Atomic Force Microscopy for Imaging, Identification and Manipulation of Single Atoms (2016)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto
  • 雑誌名: e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 巻: 14 号: 0 ページ: 28-34
  • DOI: 10.1380/ejssnt.2016.28
  • NAID: 130005125893
  • ISSN: 1348-0391
  • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Interplay between switching driven by the tunneling current and atomic force of a bistable four-atom Si quantum dot (2015)
  • 著者名/発表者名: S. Yamazaki, K. Maeda, Y. Sugimoto, M. Abe, V. Zobac, P. Pou, L. Rodrigo, P. Mutombo, R. Perez, P. Jelinek, and S. Morita
  • 雑誌名: Nano Letters 巻: 15 号: 7 ページ: 4356-4363
  • DOI: 10.1021/acs.nanolett.5b00448
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Accurate extraction of electrostatic force by a voltage pulse force spectroscopy (2015)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Physical Review Letters 巻: 114 号: 24 ページ: 2461021-5
  • DOI: 10.1103/physrevlett.114.246102
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Chemical structure imaging of a single molecule by atomic force microscopy at room temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, S. Yamazaki, P. Mutombo, P. Hapala, M. Ondracek, P. Jelinek, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Nature Communications 巻: 6 号: 1 ページ: 77661-7
  • DOI: 10.1038/ncomms8766
  • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [雑誌論文] Identification of Si and Ge atoms by atomic force microscopy (2015)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, K. Niki, and Y. Sugimoto
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: 92 号: 15 ページ: 1553091-6
  • DOI: 10.1103/physrevb.92.155309
  • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
• [学会発表] AFMによる有機分子の高分解能室温観察 (2016)
  • 著者名/発表者名: 岩田 孝太、山崎 詩郎、Pingo Mutombo、Prokop Hapala、Martin Ondracek、Pavel Jelinek、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第63回応用物理学会 春季学術講演会
  • 発表場所: 東京工業大学 大岡山キャンパス（東京都目黒区）
  • 年月日: 2016-03-19
• [学会発表] TiO2(110)表面上の帯電領域のNC-AFM/KPFM観察 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣、Chi Lun Pang、Ayhan Yurtsever、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第63回応用物理学会 春季学術講演会
  • 発表場所: 東京工業大学 大岡山キャンパス（東京都目黒区）
  • 年月日: 2016-03-19
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたSiとGe原子の識別 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣、仁木 康平、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第63回応用物理学会 春季学術講演会
  • 発表場所: 東京工業大学 大岡山キャンパス（東京都目黒区）
  • 年月日: 2016-03-19
• [学会発表] Si(111)-(7x7)表面上のSiテトラマーのスイッチ操作 (2016)
  • 著者名/発表者名: 山崎詩郎、前田圭亮、杉本宜昭、阿部真之、Vladimir Zobac、Pablo Pou、Lucia Rodrigo、Pingo Mutombo、Ruben Perez、Pavel Jelinek、森田清三
  • 学会等名: 第63回応用物理学会 春季学術講演会
  • 発表場所: 東京工業大学 大岡山キャンパス（東京都目黒区）
  • 年月日: 2016-03-19
• [学会発表] 超高真空原子間力顕微鏡を用いた超高解像計測 (2016)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: ニューガラスフォーラム 評価技術研究会
  • 発表場所: 日本ガラス工業センター（東京都新宿区）
  • 年月日: 2016-01-29
  • 招待講演
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による単原子の元素識別 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣、Ondracek Martin、Jelinek Pavel、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第64回応用物理学会 春季学術講演会
• [学会発表] Al蒸着Si(111)-(7x7)上のフォーススペクトロスコピー (2016)
  • 著者名/発表者名: 宮嵜 洋記、小野田 穣、塩足 亮隼、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第64回応用物理学会 春季学術講演会
• [学会発表] 隣接するSi4原子スイッチの相互作用 (2016)
  • 著者名/発表者名: 山崎 詩郎、前田 圭亮、杉本 宜昭、阿部 真之、Pablo Pou、Lucia Rodrigo、Ruben Perez、Pingo Mutombo、Pavel Jelinek、森田 清三
  • 学会等名: 第64回応用物理学会 春季学術講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による水単分子層の高分解能観察 (2016)
  • 著者名/発表者名: 塩足 亮隼、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第64回応用物理学会 春季学術講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による有機分子の超高分解能計測 (2016)
  • 著者名/発表者名: 杉本 宜昭
  • 学会等名: 第15 回 SPring-8 ユーザー協同体顕微ナノ材料科学研究会、 第12 回 日本表面科学会放射光表面科学研究部会 合同シンポジウム
  • 招待講演
• [学会発表] AFMによる個々の原子のフォーススペクトロスコピー (2016)
  • 著者名/発表者名: 杉本 宜昭
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会 走査型プローブ顕微鏡分科会 研究会「超高真空原子間力顕微鏡の最前線」
  • 招待講演
• [学会発表] Electronegativity of Individual Surface Atoms Determined by AFM (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
  • 国際学会
• [学会発表] Observation of Azulene-to-fulvalene Rearrangement by AFM (2016)
  • 著者名/発表者名: A. Shiotari, K. Iwata, T. Nakae, Y. Shinagawa, S. Mori, T. Okujima, H. Uno, H. Sakaguchi and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
  • 国際学会
• [学会発表] Chemical Identification of Individual Surface Atoms by AFM (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
  • 国際学会
• [学会発表] Characterization of TiO2(011)-(2×1) Surface by AFM and STM (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, A. Yurtsever, M. Abe, C. L. Pang and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
  • 国際学会
• [学会発表] Interacting Si atom switches induced by force and current (2016)
  • 著者名/発表者名: S. Yamazaki, K. Maeda, Y. Sugimoto, M. Abe, P. Pou, L. Rodrigo, R. Perez, P. Mutombo, P. Jelinek and S. Morita
  • 学会等名: 24th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM24)
  • 国際学会
• [学会発表] 走査プローブ顕微鏡による原子スイッチの組立と制御 (2016)
  • 著者名/発表者名: 稲見 栄一、浜田 幾太郎、上田 啓一、阿部 真之、森田 清三、杉本 宜昭
  • 学会等名: 分子研研究会「表面科学の最先端技術と分子科学 ～第7回 真空・表面科学若手研究会～」
• [学会発表] Chemical Identification of Individual Surface Atoms by AFM (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek, and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 分子研研究会「表面科学の最先端技術と分子科学 ～第7回 真空・表面科学若手研究会～」
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた単原子分子計測 (2016)
  • 著者名/発表者名: 杉本 宜昭
  • 学会等名: 分子研研究会「表面科学の最先端技術と分子科学 ～第7回 真空・表面科学若手研究会～」
  • 招待講演
• [学会発表] ナノクラスターを利用した室温スイッチ素子の創成 (2016)
  • 著者名/発表者名: 稲見 栄一, 浜田 幾太郎, 上田 啓一, 阿部 真之, 森田 清三, 杉本 宜昭
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] AFM/STMによるTiO2(011)表面の解析 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣, Ayhan Yurtsever, 阿部 真之, Pang Chi Lun, 杉本 宜昭
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡によるアズレン-フルバレン転位反応の高分解能測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 塩足 亮隼, 岩田 孝太, 中江 隆博, 品川 友志, 森 重樹, 奥島 鉄雄, 宇野 英満, 坂口 浩司, 杉本 宜昭
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] In/Si(111)-8×2表面の原子間力顕微鏡測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 岩田 孝太, 山崎 詩郎, 塩足 亮隼, 杉本 宜昭
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡によるAlナノクラスターの研究 (2016)
  • 著者名/発表者名: 宮嵜 洋記, 小野田 穣, 杉本 宜昭, 塩足 亮隼
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度の決定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣, Ondracek Martin, Jelinek Pavel, 杉本 宜昭
  • 学会等名: 2016真空・表面科学合同講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡によるアズレン―フルバレン転位反応の高分解能測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 塩足 亮隼、岩田 孝太、中江 隆博、品川 友志、森 重樹、奥島 鉄雄、 宇野 英満、坂口 浩司、杉本 宜昭
  • 学会等名: 物性研短期研究会「走査トンネル顕微鏡による物性研究の現状と展望」
• [学会発表] 室温AFMによるSi(111)-(7×7)表面上の有機分子の観察 (2016)
  • 著者名/発表者名: 岩田 孝太、山崎 詩郎、Pingo Mutombo、Prokop Hapala、Martin Ondracek、 Pavel Jelinek、杉本 宜昭
  • 学会等名: 物性研短期研究会「走査トンネル顕微鏡による物性研究の現状と展望」
• [学会発表] 室温STMを用いたAuナノクラスターの作製とその特性評価 (2016)
  • 著者名/発表者名: 宮嵜 洋記、仁木 康平、塩足 亮隼、杉本 宜昭
  • 学会等名: 物性研短期研究会「走査トンネル顕微鏡による物性研究の現状と展望」
• [学会発表] 原子間力顕微鏡によるアズレン―フルバレン転位反応の高分解能測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 塩足 亮隼、岩田 孝太、中江 隆博、品川 友志、森 重樹、奥島 鉄雄、 宇野 英満、坂口 浩司、杉本 宜昭
  • 学会等名: 分子アーキテクトニクス研究会 第7回研究会
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたAl ナノクラスターの弾性測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 宮嵜 洋記、小野田 穣、塩足 亮隼、杉本 宜昭
  • 学会等名: 日本表面科学会関東支部第4回関東支部セミナー 表面・薄膜分析シリーズVol.2
• [学会発表] Interaction between adjacent twin Si4 atom switches (2016)
  • 著者名/発表者名: S. Yamazaki, K. Maeda, Y. Sugimoto, M. Abe, P. Pou, L. Rodrigo, R. Perez, P. Mutombo, P. Jelinek, S. Morita
  • 学会等名: 13th International Conference on Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures
  • 国際学会
• [学会発表] TiO2(011)-(2×1) 表面のAFM/STM による研究 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣、Ayhan Yurtsever、阿部 真之、Chi Lun Pang、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第77回応用物理学会 秋季学術講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡によるIn/Si(111)-8×2表面の測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 岩田 孝太、山崎 詩郎、塩足 亮隼、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第77回応用物理学会 秋季学術講演会
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡によるAl ナノクラスターの研究 (2016)
  • 著者名/発表者名: 宮嵜 洋記、小野田 穣、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第77回応用物理学会 秋季学術講演会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による単一原子の電気陰性度測定 (2016)
  • 著者名/発表者名: 小野田 穣、Martin Ondracek、Pavel Jelinek、杉本 宜昭
  • 学会等名: 第77回応用物理学会 秋季学術講演会
• [学会発表] 走査プローブ顕微鏡を用いた原子スイッチの組立と制御 (2016)
  • 著者名/発表者名: 稲見 栄一、浜田 幾太郎、上田 啓一、阿部 真之、森田 清三、杉本 宜昭
  • 学会等名: 日本物理学会 2016年秋季大会
• [学会発表] Electronegativity of single atoms determined by atomic force microscopy (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 20th International Vacuum Congress (IVC-20)
  • 国際学会
• [学会発表] AFM/STM observation of azulene-to-fulvalene rearrangement in a small molecule (2016)
  • 著者名/発表者名: A. Shiotari, K. Iwata, T. Nakae, Y. Shinagawa, S. Mori, T. Okujima, H. Uno, H. Sakaguchi and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 19th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2016)
  • 国際学会
• [学会発表] Electronegativity of individual surface atoms determined by AFM (2016)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 19th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2016)
  • 国際学会
• [学会発表] TiO2(011)-(2×1) Surface characterized by atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy (2016)
  • 著者名/発表者名: J.Onoda, A. Yurtsever, M. Abe, C. L. Pang and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 19th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2016)
  • 国際学会
• [学会発表] Imaging the Chemical Structure of Single Molecule by Atomic Force Microscopy at Room Temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, S. Yamazaki, P. Mutombo, P. Hapala, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 23th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
  • 発表場所: Hilton Niseko Villege（北海道虻田郡）
  • 年月日: 2015-12-10
  • 国際学会
• [学会発表] Chiral Switch Operated at Room Temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, I. Hamada, K. Ueda, M. Abe, S. Morita and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 23th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
  • 発表場所: Hilton Niseko Villege（北海道虻田郡）
  • 年月日: 2015-12-10
  • 国際学会 / 招待講演
• [学会発表] SiGe混晶表面での非接触原子間力顕微鏡による元素識別 (2015)
  • 著者名/発表者名: 小野田穣，仁木康平，杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年真空・表面科学合同講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] 原子間力顕微鏡による静電気力の精密測定法 (2015)
  • 著者名/発表者名: 稲見栄一，杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年真空・表面科学合同講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] NC-AFM/KPFM を用いたTiO2 (110)表面上の帯電領域の観察 (2015)
  • 著者名/発表者名: 小野田穣，PangChi Lun，YurtseverAyhan，杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年真空・表面科学合同講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] 走査型プローブ顕微鏡による原子スイッチの組立 (2015)
  • 著者名/発表者名: 稲見栄一，濱田幾太郎、上田啓市、阿部真之、森田清三、杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年真空・表面科学合同講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] 隣接するSi4原子スイッチ間の相互作用 (2015)
  • 著者名/発表者名: 山崎詩郎，前田圭亮，高谷玲平，澤田大輔，杉本宜昭，阿部真之，Pablo Pou、Lucia Rodrigo，Pingo Mutobb，Ruben Perez、Pavel Jelinek，森田清三
  • 学会等名: 2015年真空・表面科学合同講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-12-01
• [学会発表] Identification of Individual Si and Ge Atoms by AFM (2015)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, K. Niki and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’15 (ALC ’15)
  • 発表場所: Kunibiki Messe（島根県松江市）
  • 年月日: 2015-10-25
  • 国際学会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いたGe/Si混在表面での元素識別 (2015)
  • 著者名/発表者名: 小野田穣，仁木康平，杉本宜昭
  • 学会等名: 日本物理学会 2015年秋季大会
  • 発表場所: 関西大学 千里山キャンパス（大阪府吹田市）
  • 年月日: 2015-09-16
• [学会発表] Chemical identification on the Si-Ge intermixed surfaces by AFM (2015)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, K. Niki and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 18th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2015)
  • 発表場所: Cassis Convention Center（France）
  • 年月日: 2015-09-07
  • 国際学会
• [学会発表] Accurate extraction of electrostatic force by a voltage–pulse force spectroscopy (2015)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 18th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2015)
  • 発表場所: Cassis Convention Center（France）
  • 年月日: 2015-09-07
  • 国際学会
• [学会発表] Exclusion of H atoms at the subsurface charged regions on TiO2(110) (2015)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, C. L. Pang, A. Yurtsever and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 18th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2015)
  • 発表場所: Cassis Convention Center（France）
  • 年月日: 2015-09-07
  • 国際学会
• [学会発表] Single Molecule on Si(111)-(√7x√7) Imaged by AFM at Room Temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, S. Yamazaki, P. Mutombo, P. Hapala, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: 18th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy (nc-AFM 2015)
  • 発表場所: Cassis Convention Center（France）
  • 年月日: 2015-09-07
  • 国際学会
• [学会発表] Twisted Pi-conjugated molecules measured by atomic force microscopy (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, A. Shiotari, T. Nakae, Y. Shinagawa, S. Mori, T. Okujima, H. Uno, H. Sakaguchi and Y. Sugimoto
  • 学会等名: International Workshop on Molecular Architectonics(IWMA 2015)
  • 発表場所: Shiretoko Grand Hotel（北海道斜里郡）
  • 年月日: 2015-08-03
  • 国際学会
• [学会発表] Chiral switch operated at room temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, I. Hamada, K. Ueda, M. Abe, S. Morita and Y. Sugimoto
  • 学会等名: International Workshop on Molecular Architectonics(IWMA 2015)
  • 発表場所: Shiretoko Grand Hotel（北海道斜里郡）
  • 年月日: 2015-08-03
  • 国際学会
• [学会発表] Atom Switch Assembled by Atom Manipulation (2015)
  • 著者名/発表者名: E. Inami, I. Hamada, K. Ueda, M. Abe, S. Morita, and Y. Sugimoto
  • 学会等名: NIMS Conference 2015
  • 発表場所: Epochal Tsukuba（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-07-14
  • 国際学会
• [学会発表] (2n×1) Reconstructions of TiO2(011) Elucidated by AFM and STM (2015)
  • 著者名/発表者名: J. Onoda, C.L. Pang, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, and G. Thornton
  • 学会等名: NIMS Conference 2015
  • 発表場所: Epochal Tsukuba（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-07-14
  • 国際学会
• [学会発表] Chemical Identification of Si and Ge atoms by AFM force spectroscopy (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Niki, J. Onoda, and Y. Sugimoto
  • 学会等名: NIMS Conference 2015
  • 発表場所: Epochal Tsukuba（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-07-14
  • 国際学会
• [学会発表] Energy Dissipation of Tunneling Electrons as a Tool to Directly Detect Electron Emission Sites in Doped Ultrananocrystalline Diamond Films (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Panda, E. Inami, K. J Sankaran, Y. Sugimoto, N-H Tai, and I-N Lin
  • 学会等名: NIMS Conference 2015
  • 発表場所: Epochal Tsukuba（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-07-14
  • 国際学会
• [学会発表] Structure of Molecule Imaged by Atomic Force Microscopy at Room Temperature (2015)
  • 著者名/発表者名: K. Iwata, S. Yamazaki, P. Mutombo, P. Hapala, M. Ondracek, P. Jelinek and Y. Sugimoto
  • 学会等名: NIMS Conference 2015
  • 発表場所: Epochal Tsukuba（茨城県つくば市）
  • 年月日: 2015-07-14
  • 国際学会
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた単原子分子計測と操作 (2015)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 第13回 学融合ビジュアライゼーションシンポジウム
  • 発表場所: 東京大学 柏キャンパス（千葉県柏市）
  • 年月日: 2015-06-30
• [学会発表] Si(111)表面上単一有機分子の室温原子間力顕微鏡測定 (2015)
  • 著者名/発表者名: 岩田孝太、山崎詩郎、P. Mutombo、P. Hapala、M. Ondracek、P. Jelinek、杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年度前期 物性研究所 短期研究会
  • 発表場所: 東京大学 柏キャンパス（千葉県柏市）
  • 年月日: 2015-06-24
• [学会発表] 室温で動作する原子スイッチの組立 (2015)
  • 著者名/発表者名: 稲見栄一、濱田幾太郎、上田啓市、阿部真之、森田清三、杉本宜昭
  • 学会等名: 2015年度前期 物性研究所 短期研究会
  • 発表場所: 東京大学 柏キャンパス（千葉県柏市）
  • 年月日: 2015-06-24
• [備考] 研究室HP
  • URL: http://www.afm.k.u-tokyo.ac.jp
• [備考] 杉本研究室
  • URL: http://www.afm.k.u-tokyo.ac.jp/