製造過程でのトロイ回路混入を検知するLSI設計技術に関する研究

• 研究課題/領域番号: 15K00086
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム
• 研究機関: 京都産業大学
• 研究代表者: 吉村 正義 京都産業大学, コンピュータ理工学部, 准教授 (90452820)
• 研究期間 (年度): 2015-04-01 – 2018-03-31
• 研究課題ステータス: 完了 (2017年度)
• 配分額: 4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円); 2017年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円); 2016年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円); 2015年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
• キーワード: トロイ回路 / トロイ検査用回路 / 応答圧縮器 / パタン生成器 / 論理的回路分割 / 回路構造情報 / 情報の保護 / ハードウェアトロイ回路 / トロイ検出用回路 / LSI / 挿入箇所探索アルゴリズム / ベンチマーク回路 / 応答圧縮回路

研究成果の概要

社会情報基盤において、トロイLSI は正常な機能の無効化、機密情報の漏洩や改ざんを引き起こす恐れがある。しかし製造されたLSI にトロイ回路が含まれないことを保証する手段が存在しない。そこで、トロイLSIの市場への流出の対策として、真正なLSI とトロイLSI を判別する技術の確立する必要がある。
研究成果は、(1)製造されたLSI 内部で網羅的に回路構造の情報を生成する手法の開発，(2) 出力された回路構造の情報を保護する仕組みの検討の2点である。これらによって、真正なLSI の設計データに基づいて、製造されたLSI にトロイ回路が含まれるかを区別できる仕組みの基盤技術を確立した。

研究成果

• [雑誌論文] A Don't Care Filling Method for Low Capture Power based on Correlation of FF Transitions Using SAT (2017)
  • 著者名/発表者名: Masayoshi YOSHIMURA, Yoshiyasu TAKAHASHI, Hiroshi YAMAZAKI, Toshinori HOSOKAWA
  • 雑誌名: IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 巻: E100.A 号: 12 ページ: 2824-2833
  • DOI: 10.1587/transfun.E100.A.2824
  • NAID: 130006236532
  • ISSN: 0916-8508, 1745-1337
  • 査読あり
• [学会発表] A Test Register Assignment Method to Reduce the Number of Test Patterns Using Controller Augmentation (2018)
  • 著者名/発表者名: Shun Takeda, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
  • 学会等名: DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
  • 国際学会
• [学会発表] A Secure Design Method to Detect for Trojan Circuit inserted in Manufacturing Process (2018)
  • 著者名/発表者名: Yoshinobu Okuda, Masayoshi Yoshimura, Kohei Ohyama, and Toshinori Hosokawa
  • 学会等名: DUHDe 2018 ― 5th Workshop on Design Automation for Understanding Hardware Designs
  • 国際学会
• [学会発表] コントローラ拡大 を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当 て法 (2018)
  • 著者名/発表者名: 竹内 勇希, 武田 俊, 細川 利典, 山崎 紘史, 吉村 正義
  • 学会等名: ディペンダブルコンピューティング研究会
• [学会発表] トロイ回路を検知する回路の挿入箇所探索手法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 奥田良宣，吉村正義（京都産大）
  • 学会等名: 第9回LSIテストセミナー
  • 発表場所: 福岡市・筑紫会館
  • 年月日: 2017-03-09
• [学会発表] 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 二関森人・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）
  • 学会等名: ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 東京都・機械振興会館
  • 年月日: 2017-02-21
• [学会発表] A Hardware Trojan Circuit Detection Method Using Activation Sequence Generations (2017)
  • 著者名/発表者名: Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo University), Tomohiro Bouyashiki, and Toshinori Hosokawa(Nihon University)
  • 学会等名: The 22nd IEEE Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC 2017)
  • 発表場所: Christchurch, New Zealand
  • 年月日: 2017-01-22
  • 国際学会
• [学会発表] Controller augmentation and test point insertion at RTL for concurrent operational unit testing (2017)
  • 著者名/発表者名: Toshinori Hosokawa, Shun Takeda, Hiroshi Yamazaki, and Masayoshi Yoshimura
  • 学会等名: 2017 IEEE 23rd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS)
  • 国際学会
• [学会発表] A Sequentially Untestable Fault Identification Method Based on State Cube Justification (2017)
  • 著者名/発表者名: Morito Niseki, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki, Masayuki Arai, Masayoshi Yoshimura, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
  • 学会等名: IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
  • 国際学会
• [学会発表] A Low Power Oriented Static Test Compaction Method Based on Don't Care Bits (2017)
  • 著者名/発表者名: Sayuri Ochi, Hiroshi Yamazaki, Toshinori Hosokawa, Masayoshi Yoshimura
  • 学会等名: IEEE The Eighteenth Workshop on RTLT and High Level Testing 2017
  • 国際学会
• [学会発表] フリップフロップ組合せの状態正当化による到達不能状態を用いた順 序回路のテスト不能故障判定法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 二関 森人, 細川 利典, 吉村 正義, 山崎 紘史, 新井 雅之, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
  • 学会等名: DAシンポジウム2017
• [学会発表] ドントケアを用いたキャ プチャセーフテスト集合の静的テスト圧縮法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 越智 小百合, 山崎 紘史, 細川 利典, 吉村 正義
  • 学会等名: DAシンポジウム2017
• [学会発表] IPコアの論理暗号化法の復号化鍵数の評価 (2017)
  • 著者名/発表者名: 橋立 英実, 細川 利典, 吉村正義
  • 学会等名: デザインガイア2017
• [学会発表] コントローラ拡大を用いたレ ジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素の テストレジスタ割当て法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 武田 俊, 細川 利典, 山崎 紘史, 吉村 正義
  • 学会等名: デザインガイア2017
• [学会発表] 製造過程でのトロイ回路混入を検知する 設計手法 (2017)
  • 著者名/発表者名: 奥田 良宣, 吉村 正義, 大山 浩平
  • 学会等名: デザインガイア2017
• [学会発表] A Design for Testability Method at RTL for Concurrent Operational Unit Testing (2016)
  • 著者名/発表者名: Shun Takeda, Toshinori Hosokawa, Hiroshi Yamazaki (Nihon University) and Masayoshi Yoshimura (Kyoto Sangyo University)
  • 学会等名: IEEE The Seventeenth Workshop on RTL and High Level Testing
  • 発表場所: Aki Grand Hotel, Hiroshima, Japan
  • 年月日: 2016-11-24
  • 国際学会
• [学会発表] トロイ回路を検知する回路の考察 (2016)
  • 著者名/発表者名: 大山浩平, 吉村正義
  • 学会等名: 第8回LSIテストセミナー
  • 発表場所: 電気ビル共創館(福岡県福岡市)
  • 年月日: 2016-03-02
• [学会発表] 静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム (2015)
  • 著者名/発表者名: 原侑也, 山崎紘史, 細川利典, 吉村正義
  • 学会等名: デザインガイア2015
  • 発表場所: 長崎県勤労福祉会館(長崎県長崎市)
  • 年月日: 2015-12-03
• [学会発表] A Sequence Generation Method to detect Hardware Trojan Circuits (2015)
  • 著者名/発表者名: Masayoshi Yoshimura, Tomohiro Bouyashiki and Toshinori Hosokawa
  • 学会等名: 16th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing 2015
  • 発表場所: Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
  • 年月日: 2015-11-25
  • 国際学会
• [学会発表] A Don’t Care Filling Method to Reduce Capture Power based on Correlation of FF Transitions (2015)
  • 著者名/発表者名: Masayoshi Yoshimura, Yoshiyasu Takahashi, Hiroshi Yamazaki and Toshinori Hosokawa
  • 学会等名: 24th IEEE Asian Test Symposium 2015
  • 発表場所: Indian Institute of Technology Bombay, Bombay, India
  • 年月日: 2015-11-23
  • 国際学会
• [学会発表] VLSI設計工程時における未遷移信号線情報に基づいたトロイ回路検出法 (2015)
  • 著者名/発表者名: 坊屋鋪知拓，細川利典，吉村正義
  • 学会等名: DAシンポジウム2015
  • 発表場所: 山代温泉 ゆのくに天祥(石川県加賀市)
  • 年月日: 2015-08-28
• [学会発表] BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法 (2015)
  • 著者名/発表者名: 錦織誠, 山崎紘史, 細川利典, 新井雅之, 吉村正義
  • 学会等名: ディペンダブルコンピューティング研究会
  • 発表場所: 機械振興会館, 東京都
  • 年月日: 2015-06-16