| 研究課題/領域番号 |
15K04685
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 (2016-2017)
国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 (2015) |
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研究代表者 |
今園 孝志 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構, 関西光科学研究所 光量子科学研究部, 主幹研究員(定常) (50370359)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
5,070千円 (直接経費: 3,900千円、間接経費: 1,170千円)
2017年度: 520千円 (直接経費: 400千円、間接経費: 120千円)
2016年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2015年度: 3,510千円 (直接経費: 2,700千円、間接経費: 810千円)
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| キーワード | ビーム強度モニタ / 偏光解析 / 絶対反射率 / Ｘ線レーザー / 多層膜偏光素子 / フォトダイオード / 回折格子 / 偏光計測 / 軟Ｘ線回折格子 / 偏光素子 / 多層膜 / ビームスプリッタ / 多層膜回折格子 / 多層膜偏光子 |
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| 研究成果の概要 |
本研究は、レーザーアブレーション等の短パルスレーザーと物質の相互作用の理解に資するレーザー駆動プラズマＸ線レーザー（XRL）による時間分解偏光計測技術を確立することを目的とする。本課題の達成には、ショット毎に大きく変動するXRLのビーム強度を正確に計測し、偏光状態を高精度に観測することが要求される。本研究では、時間分解偏光計測技術の基盤技術である以下の研究開発を実施した。（1）波長13.9 nmのXRLに対応する2種類のビーム強度モニタ（Mo/Si多層膜コートフォトダイオード検出器、Moコート回折格子）、（2）絶対反射率計測に基づく多層膜偏光素子を用いた軟Ｘ線偏光解析法。
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