研究課題/領域番号 |
15K05708
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
機械材料・材料力学
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研究機関 | 富山県工業技術センター |
研究代表者 |
佐山 利彦 富山県工業技術センター, その他部局等, 課長 (40416128)
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研究分担者 |
森 孝男 富山県立大学, 工学部, 教授 (30275078)
釣谷 浩之 富山県工業技術センター, その他部局等, 主任研究員 (70416147)
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連携研究者 |
上杉 健太朗 財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門イメージングチーム, 主席研究員 (80344399)
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研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2017年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2016年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2015年度: 2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
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キーワード | 信頼性設計 / 高密度実装 / マイクロ接合部 / X線マイクロCT / 放射光 / はんだ / 熱疲労 / 寿命評価 / エレクトロニクス実装 / ヘルスモニタリング / 寿命 |
研究成果の概要 |
実際の電子基板接合部における強度信頼性をマネージメントすることを目的として、放射光ラミノグラフィを適用したモニタリングの実用研究を行いました。繰返し通電加熱を受ける接合部における疲労き裂の発生から破断に至るまでの過程を、電子基板を破壊することなくその場モニタリングして、その余寿命を総合的に推定する技術を開発できました。この技術は、電子機器の信頼性の向上と新しい機器の開発に貢献するものです。
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