研究課題/領域番号 |
15K05952
|
研究種目 |
基盤研究(C)
|
配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
電力工学・電力変換・電気機器
|
研究機関 | 工学院大学 |
研究代表者 |
市川 紀充 工学院大学, 工学部, 准教授 (60415833)
|
研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
|
研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
|
配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2017年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2016年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2015年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
|
キーワード | 放電・静電気 / 帯電物体の移動 / 静電誘導 / 誘導電圧 / 電子機器の故障や誤動作 / 金属筐体 / 球ギャップと電磁波センサ / パッシェン電圧 / 二つの金属筐体 / 金属筐体内の誘導電圧 / 球ギャップ / EMI・EMC / 金属筐体間の距離 / 静電誘導電圧 / 電子機器の誤動作 / 金属筐体の奥行き / q=cv則 / 誤動作・故障 / A4サイズのノートパソコン / 電子機器の設計指針 / 帯電物体の接近と孤立 |
研究成果の概要 |
マイクロエレクトロニクス化により,放電・静電気が原因で起こる電子機器の故障や誤動作の問題が無視できない大きな問題となる。パソコン等の金属筐体内の電子部品は5 V以下の電圧で故障や誤動作が起こり、人体は歩行動作等で10 kVに帯電する。しかし人体等の帯電した物体の移動と電子機器の金属筐体および筐体内に生じる誘導電圧の関係は明らかにされていない。本研究では帯電した物体が金属筐体から遠ざかるとき,二つの金属筐体および筐体内に生じる誘導電圧を明らかにした。本研究成果は,予見可能な電子機器の故障や誤動作を防止できる信頼性の高い電子機器の設計に役立つだけでなく,電子機器の試験法として役立つと思われる。
|