| 研究課題/領域番号 |
15K06109
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計測工学
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| 研究機関 | 島根大学 |
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研究代表者 |
横田 正幸 島根大学, 総合理工学研究科, 教授 (80323335)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2017年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
2016年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2015年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
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| キーワード | ディジタルホログラフィ / 偏光解析 / 乾燥過程 / 顕微鏡 / 二波長法 / 逐次記録法 / 塗膜解析 / 乾燥・硬化過程の解析 / ディジタルホログラフィック顕微鏡 / FFTを用いたフィルタ処理 |
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| 研究成果の概要 |
塗膜の乾燥や硬化過程の解析を高度化するために，DH顕微鏡や塗膜透過光の偏光状態の解析，更に塗膜の変形や形状計測を行う実験系を構築し，それぞれにおいて研究を進めた．形状計測では，二波長を用いた塗膜の形状計測を行ったが，十分な透過光強度が得られず正確な塗膜形状の検出ができなった．しかし，透過光の偏光状態を記録する方法においては，その偏光状態を記録，解析することができた．また，DH顕微鏡においては，微小インクドットの乾燥過程の解析が実現でき，その変形が5万秒以上継続することが明らかになった．
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