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タイミングウインドウ内の電荷供給量によるICの電流テスト法に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 15K12002
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 計算機システム
研究機関徳島大学

研究代表者

橋爪 正樹  徳島大学, 大学院理工学研究部, 教授 (40164777)

研究期間 (年度) 2015-04-01 – 2017-03-31
研究課題ステータス 完了 (2016年度)
配分額 *注記
2,860千円 (直接経費: 2,200千円、間接経費: 660千円)
2016年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2015年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
キーワードIC検査 / 電流テスト / 電荷注入 / 断線故障 / 電気検査 / 欠陥検出 / IC / 断線 / 短絡 / 電荷量
研究成果の概要

電源からICに流れ込む電源電流でICを検査する検査法は「電流テスト法」と呼ばれている。IC内に断線や短絡故障が発生すると、ICへの検査入力印加後に流れる電源電流値だけでなく、「タイミングウインドウ」と呼ばれるある時間範囲内に電源から供給される電荷量に顕著な影響が現れる。本研究では従来の電流テスト法のように電源電流値で検査するのでなく、タイミングウインドウ内で電源から供給される電荷量による検査を可能にするIC内組み込み型検査回路を開発し、それを用いた検査法とその検査入力生成法の開発を行った。それにより既存の検査法では発見できない断線故障が開発した検査法で発見できることを明らかにした。

報告書

(3件)
  • 2016 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2015 実施状況報告書
  • 研究成果

    (11件)

すべて 2017 2016 2015 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (4件) (うち国際共著 2件、 査読あり 4件、 謝辞記載あり 4件) 学会発表 (5件) (うち国際学会 1件) 備考 (1件)

  • [国際共同研究] National Taiwan Univ. of Sci. and Tech.(Taiwan)

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Injected Charge Tests of Open Defects in CMOS ICs2016

    • 著者名/発表者名
      Kouhei Ohtani, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2016

      巻: - ページ: 291-294

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] A Power Supply Circuit for Interconnect Tests Based on Injected Charge Volume of 3D IC2016

    • 著者名/発表者名
      Kouhei Ohtani, Masaki Hashizume, Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan 2016

      巻: - ページ: 139-140

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Electrical Interconnect Test Method of 3D ICs by Injected Charge Volume2015

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Suga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 雑誌名

      Proc. of IEEE 3D System Integration Conference 2015

      巻: _ ページ: TS8.19.1-TS8.19.6

    • DOI

      10.1109/3dic.2015.7334588

    • 関連する報告書
      2015 実施状況報告書
    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge2015

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Suga, Hiroyuki Yotsuyanagi, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
    • 雑誌名

      Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2015

      巻: _ ページ: 653-656

    • 関連する報告書
      2015 実施状況報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [学会発表] 電荷注入回数によるIC間配線の試験回路2017

    • 著者名/発表者名
      大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      第31回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
    • 発表場所
      慶應義塾大学(神奈川県横浜市)
    • 年月日
      2017-03-06
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] 電荷注入量による断線不良検出の回路規模に対する影響調査2016

    • 著者名/発表者名
      大谷 航平, 菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2016-09-17
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] IDDT出現時間を用いる断線故障検査法の伝搬不能故障検出に対する有効性調査2016

    • 著者名/発表者名
      三好 大地, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会
    • 発表場所
      徳島大学(徳島県徳島市)
    • 年月日
      2016-09-17
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] A Power Supply Circuit for Detecting Open Defects in SoCs by Amount of Injected Charge2016

    • 著者名/発表者名
      Masaki Hashizume,Kohei Ohtani,Daisuke Suga,Hiroyuki Yotsuyanagi and Shyue-Kung Lu
    • 学会等名
      Taiwan and Japan Conference on Circuits and Systems(TJCAS2016)
    • 発表場所
      National Cheng Kung University(Tainan,Taiwan)
    • 年月日
      2016-07-31
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 電荷注入量によるIC間配線の電流テストの可能性評価2015

    • 著者名/発表者名
      菅 大介, 四柳 浩之, 橋爪 正樹
    • 学会等名
      電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
    • 発表場所
      高知工科大学(高知県香美市)
    • 年月日
      2015-09-26
    • 関連する報告書
      2015 実施状況報告書
  • [備考] 研究成果紹介

    • URL

      http://tameone.ee.tokushima-u.ac.jp/~tume/RSP/charge/

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書 2015 実施状況報告書

URL: 

公開日: 2015-04-16   更新日: 2022-02-16  

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