| 研究課題/領域番号 |
15K13980
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
電子デバイス・電子機器
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| 研究機関 | 東京工芸大学 |
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研究代表者 |
内田 孝幸 東京工芸大学, 工学部, 教授 (80203537)
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| 研究分担者 |
關 成之 仙台高等専門学校, 総合工学科, 准教授 (50449378)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
3,900千円 (直接経費: 3,000千円、間接経費: 900千円)
2017年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2016年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
2015年度: 1,300千円 (直接経費: 1,000千円、間接経費: 300千円)
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| キーワード | 銀ナノ粒子 / フェルミ準位 / スマートウィンドウ / 安定性 / プラズモン / プッシュバック効果 / 核成長 / 銀イオン / プラズモン吸収 / エレクトロクロミズム / 酸化スズ / スプレーCVD / LSPR / エレクトロクロミック / 電気化学素子 / 熱遮蔽 |
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| 研究成果の概要 |
銀の成長過程に基づく銀ナノ粒子の粒径や粒度分布に着目し、それらを電界強度、電圧波形、溶液における銀イオン濃度からコントロールした。その結果、電極界面付近でのイオン濃度によって銀の核発生の頻度が変るために、形成されるナノ粒子の大きさや、粒度分布が異なることによって、透明から鏡や黒といった表示が可能な事を示した。さらに、凝集やマイグレーションが起き易い銀ナノ粒子の安定化のために銀のフェルミ準位（Ef）がその周囲のEfよりも低いときに安定であるという指針を元に、エネルギー準位の観点から検討を行った。その結果、特定の有機化合物の自己組織化単分子膜の形成などによって引き起こされていることを明らかにした。
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