| 研究課題/領域番号 |
15K17489
|
|---|
| 研究種目 |
若手研究(B)
|
| 配分区分 | 基金 |
|---|
| 研究分野 |
量子ビーム科学
|
|---|
| 研究機関 | 京都大学 |
|---|
研究代表者 |
小川 絋樹 京都大学, 化学研究所, 助教 (00535180)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2017-03-31
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
|
| 配分額 *注記 |
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2016年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2015年度: 2,730千円 (直接経費: 2,100千円、間接経費: 630千円)
|
|---|
| キーワード | 表面・界面 / 高分子薄膜 / 小角X線散乱 / 斜入射小角X線散乱 / 表面界面 / コンピュータトモグラフィー / 斜入射小角散乱 / コンピュータートモグラフィー |
|---|
| 研究成果の概要 |
本研究では、GISAXS法にCT法を組み合わせることで、面内方向におけるナノ界面構造を可視化することに成功した。GISAXS-CTシステムの構築のため、高精度並進(X)・回転(φ)機構を有した真空チャンバーの製作を行った。また、測定後の得られるデータは非常に膨大であるため、それらを解析するためのソフトウェアを開発した。実証実験として、パターンした金蒸着した試料上に、機能性高分子ブロック薄膜を2つの円上に塗布した試料を作製した。入射角を制御することで斜入射小角X線散乱を測定し、像を再構成したところ、金及び高分子材料を別々に再構成することに成功した。
|
