| 研究課題/領域番号 |
15K17677
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 |
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研究代表者 |
福本 恵紀 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 研究員 (20443559)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,030千円 (直接経費: 3,100千円、間接経費: 930千円)
2016年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2015年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
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| キーワード | 半導体 / 超高速現象 / イメージング / 光電子顕微鏡 / 半導体光物性 |
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| 研究成果の概要 |
本研究では，半導体表面の光キャリアダイナミクスを高時空間分解で観察できる時間分解光電子顕微鏡に，エネルギー分解能を付与する目的で光学系の改良を申請した．しかし，想定していなかった成果が得られた．この波長可変システムを利用することで，重大な問題である試料帯電を抑制することが可能であることが分かり，これにより，光電子検出では困難と考えられていたワイドギャップ半導体の光キャリア寿命計測に成功した．ワイドギャップ半導体は，ポストSiとして期待される材料であり，この申請研究で開発した装置が新規半導体評価装置になりうると期待され複数の半導体メーカと共同研究が始まった．
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