| 研究課題/領域番号 |
15K17684
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構 |
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研究代表者 |
酒巻 真粧子 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 助教 (90598880)
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| 研究協力者 |
雨宮 健太 高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (80313196)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2017-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2016年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2016年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2015年度: 3,250千円 (直接経費: 2,500千円、間接経費: 750千円)
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| キーワード | 深さ分解 / X線吸収分光 / 電界効果 / X線磁気円二色性 / 表面・界面 / 磁性薄膜 |
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| 研究成果の概要 |
本提案では、軟X線カメラを用いた蛍光収量型深さ分解X線磁気円二色性(XMCD)スペクトル検出システムの開発、およびマルチフェロイック特性に対する界面酸化物の機能解明を目的に研究を行った。試料周りに永久磁石を配置し、放射光円偏光を照射することで、磁場中における深さ分解XMCDスペクトル測定が可能になり、試料とカメラの距離を調整することでサブnmの深さ分解能を達成した。さらに試料ホルダーを改良し、電界を印加した状態でXMCD測定を行えるようになった。
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