| 研究課題/領域番号 |
15K21007
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| 研究種目 |
若手研究(B)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
教育工学
学習支援システム
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| 研究機関 | 東京学芸大学 |
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研究代表者 |
宮澤 芳光 東京学芸大学, 次世代教育研究推進機構, 助教 (70726166)
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| 研究期間 (年度) |
2015-04-01 – 2018-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2017年度)
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| 配分額 *注記 |
4,160千円 (直接経費: 3,200千円、間接経費: 960千円)
2017年度: 910千円 (直接経費: 700千円、間接経費: 210千円)
2016年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2015年度: 2,600千円 (直接経費: 2,000千円、間接経費: 600千円)
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| キーワード | 適応型テスト / 複数等質テスト構成 / eテスティング / 項目反応理論 / 等質テスト構成 / CBT / Computer Based Testing / 複数等質テスト / 複数質テスト |
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| 研究成果の概要 |
適応型テストとは，測定精度を減少させずに受検時間や項目数を軽減させるため，受検者の能力に応じて測定精度が最も高い項目を出題するコンピュータ・テスティングの出題形式である。しかし，従来の適応型テストでは，能力が同等な受検者には全く同じ項目群が出題される可能性がある。本研究では，能力が同等な受検者であっても異なる項目を同一の測定精度を保ちつつ適応的に出題できる等質適応型テストを提案する。具体的には，1）異なる項目で構成されるが測定精度が等質になるような等質テストを多数構成する。2）受検者ごとに異なる等質テストを一つ割り当て，そのテスト内の項目集合をアイテムバンクとみなして適応型テストを実施する。
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