| 研究課題/領域番号 |
16360018
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
岡野 達雄 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (60011219)
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| 研究分担者 |
川村 隆明 山梨大学, 教育人間科学部, 教授 (20111776)
福谷 克之 東京大学, 生産技術研究所, 教授 (10228900)
松本 益明 東京大学, 生産技術研究所, 助教 (40251459)
WILDE Markus 東京大学, 生産技術研究所, 助教 (10301136)
張 小威 高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 助教 (80217257)
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2006
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| 研究課題ステータス |
完了 (2006年度)
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| 配分額 *注記 |
14,800千円 (直接経費: 14,800千円)
2006年度: 4,300千円 (直接経費: 4,300千円)
2005年度: 4,500千円 (直接経費: 4,500千円)
2004年度: 6,000千円 (直接経費: 6,000千円)
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| キーワード | 放射光 / 核共鳴 / 原子拡散 / コヒーレンス / 固体表面 / 表面拡散 / 核共鳴散乱 / 内部転換電子 / 核共鳴X線散乱 / 鉄シリサイド |
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| 研究概要 |
核共鳴X線散乱・内部転換電子分光法を表面単原子層の測定に適用するために必要な計測システムの開発を行うとともに、本測定法の特徴が発揮できるような試料作成を進めた。
1. 核共鳴X線散乱・内部転換電子分光装置の開発
放射光施設ビームラインにおいて,表面局所構造を観測した上で,核共鳴X線散乱を測定することができる超高真空実験装置の開発を進めた。核共鳴X線散乱・内部転換電子分光の測定を行い、性能の評価を行った。57Fe薄膜を試料とした核共鳴X線前方散乱の時間スペクトル測定を行い、原子拡散に由来する指数関数的な散乱強度の減衰を確認した。
2. 鉄極薄膜の構造と磁気構造に関する研究
低速電子線回折と内部転換電子メスバウアー分光法によって行い、表面層の磁気的性質を研究した。1nm以下の厚さの鉄薄膜が超常磁性的な性質を示すことを見出した。
3.異方性表面拡散現象の探索に関する研究
PtおよびIr単結晶表面における金属島状金属薄膜の生成過程の研究を、走査トンネル顕微鏡観察と原子拡散過程のモンテカルロシミュレーションによって研究し,エッジに沿う原子拡散の異方性によって,単結晶表面に形成されるフラクタル構造の特徴を明快に説明できることを明らかにした。ステップエッジに沿う拡散過程において,エッジ方位による表面拡散係数の相違が存在することが裏付けられ、当初から目指していた、励起ビームに対する表面の面内方位角を変化させて、表面拡散過程を測定することの妥当性が証明された。
4.アバランシェフォトダイオード(APD)検出器に関する研究
検出器の検出量子効率は、高輝度X線の照射によって、比較的早い速度で劣化することが知られている。我々は、昨年度に引き続き,共鳴核反応法によるAPD素子の水素濃度の深さ分析を行い,量子効率の低下と空乏層内の水素濃度変化の相関を明らかにすることを試みた。
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