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窒化インジウムガリウムを用いた可視光高速光検出素子の研究

研究課題

研究課題/領域番号 16560313
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 電子デバイス・電子機器
研究機関豊田工業大学

研究代表者

大澤 潤  豊田工業大学, 工学部, 助教授 (20176861)

研究期間 (年度) 2004 – 2005
研究課題ステータス 完了 (2005年度)
配分額 *注記
3,800千円 (直接経費: 3,800千円)
2005年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
2004年度: 3,300千円 (直接経費: 3,300千円)
キーワード光検出素子 / 窒化インジウムガリウム / 窒化物半導体 / 可視光 / 高速動作 / ショットキー形ディテクタ / MSM形ディテクタ / MSMディテクタ
研究概要

本研究の目的は、発光素子への応用に偏っている窒化インジウムガリウム(以下、InGaN)結晶薄膜を、光検出素子用材料として特徴づけ、かつ、高速高感度素子の試作研究を行うことである。
試作研究では、Meta1-Semiconductor-Meta1構造(MSM構造)の受光部1mm×1mmの大面積素子で、10Vで100 pA以下の暗電流、0.1A/W以上の受光感度、および、10ns台のパルス応答を確認した。透明サファイア基板という点、及び、窒化ガリウム(以下、GaN)層上のInGaN薄膜を光感受層とする点、の2つの特徴を活かして、波長400-500nm帯の可視光検出器としての得失を明らかにすることができた。即ち、表面入射と裏面入射の相違を調べ、電極直下部の光電流への寄与を明らにできた。この知見を基にInGaN/GaN2層構造の特異な電圧依存性を解明し、ショットキーダイオード形素子において、バイアス極性による350nmと400nmの2色弁別検出を実証できた。また、下地GaN層の厚さとバイアス電圧の制御により、紫外線に感応しない青色用狭帯域光検出器を実現できた。ここで用いたInGaNは厚さ30nm以下の薄膜であり、ピエゾ効果に基づく内蔵電界を有効に利用した。膜厚を増せば感度は大きく増大するが、暗電流も増大する。これは、歪み緩和による結晶性の変化に依ると解釈できる。なお、高速応答性に関連して深い準位を評価し、DLTS法によりGaN層に深さ約0.5eVの電子トラップ準位の存在を確認したが、光パルス信号に対する反応の遅い電流成分(光持続電流)を解消するには至らなかった。
今後は、InGaN層の内蔵電界の利用を中心に本研究を発展させたい。

報告書

(3件)
  • 2005 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2004 実績報告書
  • 研究成果

    (16件)

すべて 2006 2005

すべて 雑誌論文 (15件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] Different Bias-Voltage Dependences of Photocurrent in Pt/InGaN/GaN and Pt/GaN Schottky photodetectors on Sapphire2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他3名
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol.45 No.16

    • NAID

      10018158016

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Narrow-Band 400nm MSM Photodetectors Using A Thin InGaN Layer on A GaN/sapphire Structure2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他3名
    • 雑誌名

      phys. stat. sol.(c) Vol.3 Issue 6

      ページ: 2278-2282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Selective Detection of Blue and Ultraviolet Light by An InGaN/GaN Schottky barrier Photodiode2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他3名
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol.46 No.24(印刷中)

    • NAID

      10017653133

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Different Bias-Voltage Dependences of Photocurrent in Pt/InGaN/GaN and Pt/GaN Schottky Photodetectors on Sapphire2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA et al.
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.45 No.16

    • NAID

      10018158016

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Narrow-Band 400nm MSM Photodetectors Using A Thin InGaN Layer on A GaN/sapphire Structure2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA et al.
    • 雑誌名

      phys.stat.sol.(c) Vol.3 No.6

      ページ: 2278-2282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Selective Detection of Blue and Ultraviolet Light by An InGaN/GaN Schottky Barrier Photodiode2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA et al.
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.46 No.24 (in press)

    • NAID

      10017653133

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Different Bias-Voltage Dependences of Photocurrent in Pt/InGaN/GaN and Pt/GaN Schottky Photodetectors on Sapphire2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.44 No.16

    • NAID

      10018158016

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Narrow-Band 400nm MSM Photodetectors Using A Thin InGaN Layer on A GaN/sapphire Structure2006

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      phys.stat.sol.(c) Vol.3(印刷中)

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Low-Dark-Current Large-Area Narrow-Band Photodetector Using InGaN/GaN Layers on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol.44 No.20

    • NAID

      10016150582

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Comparison of Spectral Responses between Front-and Back-Incidence Configurations in a GaN MSM Photodetector on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. Vol.44 No.12

      ページ: 8441-8444

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Low-Dark-Current Large-Area Narrow-Band Photodetector Using InGaN/GaN Layers on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA et al.
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.44 No.20

    • NAID

      10016150582

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Comparison of Spectral Responses between Front- and Back-Incidence Configurations in a GaN MSM Photodetector on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA et al.
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.44 No.12

      ページ: 8441-8444

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Low-Dark-Current Large-Area Narrow-Band Photodetector Using InGaN/GaN Layers on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.44 No.20

    • NAID

      10016150582

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Comparison of Spectral Responses between Front- and Back-Incidence Configurations in a GaN MSM Photodetector on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys. Vol.44 No.12

      ページ: 8441-8444

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Low-Dark-Current Large-Area Narrow-Band Photodetector Using InGaN/GaN Layers on Sapphire2005

    • 著者名/発表者名
      Jun OHSAWA 他4名
    • 雑誌名

      Jpn.J.Appl.Phys.Part2 Vol.44No.20(印刷中)

    • NAID

      10016150582

    • 関連する報告書
      2004 実績報告書
  • [産業財産権] 光電変換装置2005

    • 発明者名
      小澤 隆弘, 大澤 潤, 千田 昌伸
    • 権利者名
      (株)豊田中央研究所 トヨタ学園 豊田合成(株)
    • 産業財産権番号
      2005-103127
    • 出願年月日
      2005-03-31
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2005 研究成果報告書概要 2004 実績報告書

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公開日: 2004-04-01   更新日: 2016-04-21  

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