研究課題/領域番号 |
16GS0214
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研究種目 |
学術創成研究費
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配分区分 | 補助金 |
研究機関 | 大阪大学 |
研究代表者 |
石原 盛男 大阪大学, 大学院・理学研究科, 准教授 (30294151)
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研究分担者 |
豊田 岐聡 大阪大学, 理学研究科, 准教授 (80283828)
植田 千秋 大阪大学, 理学研究科, 准教授 (50176591)
内野 喜一郎 九州大学, 総合理工学研究院, 教授 (10160285)
圦本 尚義 (杁本 尚義) 北海道大学, 理学研究院, 教授 (80191485)
倉本 圭 北海道大学, 理学研究院, 教授 (50311519)
松本 拓也 岡山大学, 地球物質科学研究センター, 准教授 (50294145)
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研究期間 (年度) |
2004 – 2008
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研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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配分額 *注記 |
561,340千円 (直接経費: 431,800千円、間接経費: 129,540千円)
2008年度: 100,880千円 (直接経費: 77,600千円、間接経費: 23,280千円)
2007年度: 90,870千円 (直接経費: 69,900千円、間接経費: 20,970千円)
2006年度: 117,000千円 (直接経費: 90,000千円、間接経費: 27,000千円)
2005年度: 125,970千円 (直接経費: 96,900千円、間接経費: 29,070千円)
2004年度: 126,620千円 (直接経費: 97,400千円、間接経費: 29,220千円)
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キーワード | SIMS / ポストイオン化 / TOF / フェムト秒レーザー / 多重周回飛行時間型質量分析計 / 非共鳴多光子吸収 / 収束イオンビーム装置 / 二次イオン質量分析 |
研究概要 |
まず新規に開発する超高感度極微量質量分析システムの構想決定を行い,その検討結果をもとに装置の製作を行った。その後,質量分析部,1次イオン照射系,レーザーイオン化について,それぞれ装置性能評価を行った。
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