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SiCバイポーラトランジスタの表面・界面キャリア再結合過程の解明に基づく高性能化

研究課題

研究課題/領域番号 16J08202
研究種目

特別研究員奨励費

配分区分補助金
応募区分国内
研究分野 電子・電気材料工学
研究機関京都大学

研究代表者

浅田 聡志  京都大学, 工学研究科, 特別研究員(DC1)

研究期間 (年度) 2016-04-22 – 2019-03-31
研究課題ステータス 完了 (2018年度)
配分額 *注記
3,400千円 (直接経費: 3,400千円)
2018年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
2017年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
2016年度: 1,200千円 (直接経費: 1,200千円)
キーワード炭化ケイ素 / バイポーラトランジスタ / オン特性 / 伝導度変調 / 表面再結合速度 / フォトルミネセンス / SiCバイポーラトランジスタ / 設計指針の提示 / 伝導度変調効果 / SiC / pnダイオード / 再結合電流 / キャリア寿命 / 順方向リーク電流 / バンドベンディング
研究実績の概要

本年度はまず、増幅率制限要因の解明に向けて、p-nダイオードを用いた再結合電流の定量的な評価に取り組んだ。これにより、SiC BJTの増幅率は表面再結合電流により制限されていることを定量的に明らかにし、その表面再結合速度を得た。また、申請者のこれまでの研究で得られた材料物性およびデバイス物理に関する知見を活かしてSiC BJTのデバイス設計を工夫し、実際に作製した。具体的には、ベース拡がり抵抗を低減するため寄生領域にイオン注入し、低抵抗領域を形成した。その結果、SiC BJTのオン特性を大幅に向上することができ、SiC BJTにおいて初めて明確な伝導度変調を実現し、オン抵抗をユニポーラリミットの半分にまで低減できた。また、作製したBJTのオン特性の温度依存性を評価することで、伝導度変調の温度依存性を明らかにした。これまで、SiC BJTでは伝導度変調が明確に確認されていなかったため、これは新たな知見となる。さらに、昨年の研究においてデバイスシミュレーションで確認されていた、伝導度変調領域の拡張現象に関しても、実験的に確認することができた。これは、マルチフィンガーBJTにおけるフィンガー本数を設計する上で重要な知見となる。以上のように本研究により、SiC BJTのオン特性の制限要因に関する定量的な知見を提示することができ、また、SiC BJTの優れたポテンシャルのデモストレーションに成功した。

現在までの達成度 (段落)

平成30年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

平成30年度が最終年度であるため、記入しない。

報告書

(3件)
  • 2018 実績報告書
  • 2017 実績報告書
  • 2016 実績報告書
  • 研究成果

    (25件)

すべて 2018 2017 2016 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (10件) (うち国際共著 1件、 査読あり 10件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (11件) (うち国際学会 5件、 招待講演 1件) 備考 (3件)

  • [国際共同研究] Linkoping Univ.(Sweden)

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [雑誌論文] Impacts of Finger Numbers on ON-State Characteristics in Multifinger SiC BJTs With Low Base Spreading Resistance2018

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda, and T. Kimoto
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES

      巻: 65 号: 7 ページ: 2771-2777

    • DOI

      10.1109/ted.2018.2834354

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of Parasitic Region in SiC Bipolar Junction Transistors on Forced Current Gain2018

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda, and T. Kimoto
    • 雑誌名

      Material Science Forum

      巻: 924 ページ: 629-632

    • DOI

      10.4028/www.scientific.net/msf.924.629

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Analytical formula for temperature dependence of resistivity in p-type 4H-SiC with wide-range doping concentrations2018

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda and T. Kimoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 57 号: 8 ページ: 088002-088002

    • DOI

      10.7567/jjap.57.088002

    • NAID

      120006552908

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Determination of surface recombination velocity from current-voltage characteristics in SiC p-n diodes2018

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda and T. Kimoto
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 65 号: 11 ページ: 4786-4791

    • DOI

      10.1109/ted.2018.2867545

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Theoretical analysis of Hall factor and hole mobility in p-type 4H-SiC considering anisotropic valence band structure2018

    • 著者名/発表者名
      H. Tanaka, S. Asada, T. Kimoto, and J. Suda
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 123 号: 24

    • DOI

      10.1063/1.5025776

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Carrier lifetime and breakdown phenomena in SiC power device material2018

    • 著者名/発表者名
      T. Kimoto, H. Niwa, T. Okuda, E. Saito, Y. Zhao, S. Asada, and J. Suda
    • 雑誌名

      J. Phys. D: Appl. Phys

      巻: 51 号: 36 ページ: 363001-363001

    • DOI

      10.1088/1361-6463/aad26a

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Design Criterion for SiC BJTs to Avoid ON-Characteristics Degradation Due to Base Spreading Resistance2017

    • 著者名/発表者名
      Asada Satoshi、Kimoto Tsunenobu、Suda Jun
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 64 号: 5 ページ: 2086-2091

    • DOI

      10.1109/ted.2017.2684181

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effect of Postoxidation Nitridation on Forward Current?Voltage Characteristics in 4H?SiC Mesa p-n Diodes Passivated With SiO22017

    • 著者名/発表者名
      Asada Satoshi、Kimoto Tsunenobu、Suda Jun
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 64 号: 7 ページ: 3016-3018

    • DOI

      10.1109/ted.2017.2700336

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Calibration on wide-ranging aluminum doping concentrations by photoluminescence in high-quality uncompensated p-type 4H-SiC2017

    • 著者名/発表者名
      Asada Satoshi、Kimoto Tsunenobu、Ivanov Ivan G.
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 111 号: 7 ページ: 072101-072101

    • DOI

      10.1063/1.4989648

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Design Criterion for SiC BJTs to Avoid On-characteristics Degradation due to Base Spreading Resistance2017

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, T. Kimoto, J. Suda
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 印刷中

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] Impacts of finger numbers on forced current gain in multi-finger 10 kV-class SiC bipolar junction transistors with reduced base spreading resistance2018

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda, and T. Kimoto
    • 学会等名
      European conference on silicon carbide and related materials
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] SiC pn ダイオードの電流-電圧特性より導出した表面再結合速度2018

    • 著者名/発表者名
      浅田 聡志, 須田 淳, 木本 恒暢
    • 学会等名
      先進パワー半導体分科会 第5回講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Effects of parasitic region in SiC bipolar junction transistors2017

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda, and T. Kimoto
    • 学会等名
      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Aluminum doping concentration calibration by photoluminescence in high-quality uncompensated p-type 4H-SiC2017

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, T. Kimoto, and I. G. Ivanov
    • 学会等名
      International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Design criterion to avoid on-characteristics deterioration due to base spreading resistance in SiC bipolar junction transistors2017

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, J. Suda, and T. Kimoto
    • 学会等名
      Asia-Pacific Workshop on Widegap Semiconductors 2017
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] SiCバイポーラトランジスタにおけるベース拡がり抵抗によるオン特性悪化を防ぐための設計条件2017

    • 著者名/発表者名
      浅田聡志, 須田淳, 木本恒暢
    • 学会等名
      第78回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] SiCバイポーラトランジスタにおけるオン電圧増加の要因およびその抑制指針2017

    • 著者名/発表者名
      浅田聡志, 須田淳, 木本恒暢
    • 学会等名
      応用物理学会先進パワー半導体分科会第4回講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 価電子帯の異方性を考慮したp型4H-SiCにおけるHall因子・正孔移動度の理論解析2017

    • 著者名/発表者名
      田中一, 浅田聡志, 木本恒暢, 須田淳
    • 学会等名
      応用物理学会先進パワー半導体分科会第4回講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 窒化酸化膜を用いた表面パッシベーションにより生じる4H-SiC pnダイオードの順方向リーク電流の起源2016

    • 著者名/発表者名
      浅田 聡志, 木本 恒暢, 須田淳
    • 学会等名
      先進パワー半導体分科会 第三回講演会
    • 発表場所
      つくば国際会議場
    • 年月日
      2016-11-08
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [学会発表] Origin of shunt current in 4H-SiC mesa p-n diodes passivated by SiO2 with post-oxidation nitridation2016

    • 著者名/発表者名
      S. Asada, T. Kimoto, J. Suda
    • 学会等名
      The 2016 European Conference on Silicon Carbide and Related Materials
    • 発表場所
      Halkidiki, Greece
    • 年月日
      2016-09-25
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 表面パッシベーション酸化膜の窒化処理により生じるメサ型4H-SiC pnダイオードの順方向リーク電流の起源2016

    • 著者名/発表者名
      浅田 聡志, 木本 恒暢, 須田淳
    • 学会等名
      2016秋季応用物理学会
    • 発表場所
      新潟 朱鷺メッセ
    • 年月日
      2016-09-13
    • 関連する報告書
      2016 実績報告書
  • [備考] 京都大学 電子工学専攻 半導体物性工学研究室HP

    • URL

      http://semicon.kuee.kyoto-u.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [備考] 京大 半導体物性工学研究室 HP

    • URL

      http://semicon.kuee.kyoto-u.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [備考] 京大 木本研究室 HP

    • URL

      http://semicon.kuee.kyoto-u.ac.jp/

    • 関連する報告書
      2016 実績報告書

URL: 

公開日: 2016-05-17   更新日: 2024-03-26  

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