| 研究課題/領域番号 |
16K00075
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 愛媛大学 |
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研究代表者 |
樋上 喜信 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (40304654)
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| 研究分担者 |
高橋 寛 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 教授 (80226878)
王 森レイ 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 講師 (90735581)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
4,420千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 1,020千円)
2018年度: 1,560千円 (直接経費: 1,200千円、間接経費: 360千円)
2017年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
2016年度: 1,430千円 (直接経費: 1,100千円、間接経費: 330千円)
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| キーワード | LSIのテスト / 故障診断 / 遅延故障 / LSIテスト / マルチサイクルテスト / 縮退故障 / 信号伝搬遅延変動 / テストパターン数削減 / ブリッジ故障 / 故障シミュレーション |
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| 研究成果の概要 |
本研究では，LSI（大規模集積回路）において，信号伝搬遅延を考慮したテストと診断に関する問題を取り扱い，主に以下の3点の研究を行い，成果を得た．１つは，ゲート信号線とクロック信号線のブリッジ故障に対する故障診断法の開発である．2つ目は，遅延変動を考慮したマルチサイクルテスト環境での，故障診断法の開発である．3つ目は，フィールド故障診断においてテストパターンを削減する手法の開発である．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
LSI（大規模集積回路）のテストや故障診断は，LSIおよびそれが組み込まれた機器の高信頼化において非常に重要な技術である．本研究では，特に，信号伝搬遅延が変動した場合にも，テストや故障診断が高精度で行えるような手法を開発した．近年の高速処理を行うLSIでは，わずかな信号伝搬遅延の変動が大きな影響を与えるため，本研究で開発した手法の学術的意義が増している．
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