| 研究課題/領域番号 |
16K05020
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
量子ビーム科学
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| 研究機関 | 兵庫県立大学 |
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研究代表者 |
春山 雄一 兵庫県立大学, 高度産業科学技術研究所, 准教授 (10316036)
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2018年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2017年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
2016年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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| キーワード | XAFS / 機能性分子材料 / 微小領域 / 分子配向 / 配向 / 量子ビーム / 放射光 |
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| 研究成果の概要 |
構造制御された機能性分子材料の分子配向に関する性質を、軟X線を用いた炭素K端のXAFS測定により調べた。機能性分子材料の光反応性高分子液晶に対する構造制御は、ライン＆スペースパターンを薄膜にインプリントすることにより実施した。深さ方向に依存した分子配向に関する情報を得るために、計測深さの異なる3種類のXAFS同時計測装置の立ち上げを行い、XAFS測定の結果から、光反応性高分子液晶中の液晶分子が表面に平行に配向していることを示し、インプリントした光反応性高分子液晶中の表面近傍の分子配向性を明らかにした。加えて、微小領域のXAFS測定装置の開発を行った。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
これまでのナノインプリント研究では、主に応用的な観点から研究が行われてきているが、本研究では、インプリントにより機能性分子材料を構造制御することで、分子配向がどのように影響するかについて基本的な性質を調べた点で、学術的に意義がある。機能性分子材料における分子配向の様子を明らかにすることにより、機能性分子材料の3次元配向や制御などの応用に結びつくので、今後の産業への応用を考える上で意義のある研究である。また、微小領域のXAFS測定は、今後数多くの微小な材料に適用でき、材料分析に関して非常に重要である。
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