研究課題/領域番号 |
16K05832
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研究種目 |
基盤研究(C)
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配分区分 | 基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
分析化学
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研究機関 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
研究代表者 |
藤原 幸雄 国立研究開発法人産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 研究グループ長 (60415742)
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研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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配分額 *注記 |
4,810千円 (直接経費: 3,700千円、間接経費: 1,110千円)
2018年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2017年度: 1,820千円 (直接経費: 1,400千円、間接経費: 420千円)
2016年度: 1,950千円 (直接経費: 1,500千円、間接経費: 450千円)
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キーワード | 分析化学 / 表面分析 / 二次イオン質量分析 / SIMS / イオンビーム / クラスター / イオン液体 / プロトン / クラスターイオン / エレクトロスプレー / プロトン化 / 質量分析 |
研究成果の概要 |
イオン液体には、非プロトン性イオン液体とプロトン性イオン液体が存在する。本研究ではプロトン性イオン液体に着目し、その中でも硝酸プロピルアンモニウムが二次イオン質量分析(SIMS)に有用であることを実証した。具体的には、先端を尖らせた棒の表面に硝酸プロピルアンモニウムを濡らし、その先端に電界を印加することで反応性プロトンを含有したクラスターイオンを放出させてイオンビーム化することに成功した。このイオンビームをSIMS分析に応用し、二次イオン生成を促進できることを明らかにした。
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研究成果の学術的意義や社会的意義 |
分子量の大きな有機分子を含有する分析試料を高感度かつ高面分解能で二次イオン質量分析(SIMS)することは、既存技術では困難であり、大きな課題となっている。本研究では、プロトン性イオン液体を用いることで有機分子の二次イオン量を増大できることを明らかにした。また液体金属イオン源の原理を参考として、先端を尖らせた針型エミッターを用いたプロトン性イオン液体のビーム生成技術も開発し、SIMS分析に応用可能であることも実証できた。本研究の成果は、高感度かつ高面分解なSIMS分析の実現に寄与するものと考えられる。
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