| 研究課題/領域番号 |
16K05834
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
分析化学
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| 研究機関 | 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター |
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研究代表者 |
岡島 敏浩 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター, ビームライングループ, 主任研究員 (20450950)
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| 研究分担者 |
河本 正秀 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター, ビームライングループ, 副主任研究員 (00300864)
瀬戸山 寛之 公益財団法人佐賀県地域産業支援センター九州シンクロトロン光研究センター, ビームライングループ, 副主任研究員 (30450951)
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| 連携研究者 |
櫻井 吉晴
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| 研究協力者 |
Brancewicz Marek
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| 研究期間 (年度) |
2016-04-01 – 2019-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2018年度)
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| 配分額 *注記 |
4,940千円 (直接経費: 3,800千円、間接経費: 1,140千円)
2018年度: 1,040千円 (直接経費: 800千円、間接経費: 240千円)
2017年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2016年度: 3,120千円 (直接経費: 2,400千円、間接経費: 720千円)
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| キーワード | X線・電子分光 / XAFS / 弾性散乱 / 非弾性散乱 / 微量元素 / 化学結合状態 / ケミカルシフト / 高分解能XAFS / 放射線，X線，粒子線 / 分析化学 |
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| 研究成果の概要 |
XAFS スペクトルは，近接原子の原子間距離や配位数などの局所構造の他に，立体配置や電子状態などを明らかにすることができ，多くの研究分野で利用されている．本手法の検出下限を決定する要因に，試料以外の散乱X 線や弾性散乱・非弾性散乱の寄与があげられる．これら阻害要因を実験的・理論的に評価し，適切に除去する手法を確立することを目的に研究を行った．その結果，理論的に弾性散乱・非弾性散乱を除去する手法の提案を行った．また，キャピラリプレートを用いることで，汎用的な蛍光X線検出器においてもこれら散乱線を大幅に低減できることの可能性を示した．
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
環境中から生体内に取り込まれる元素は，たとえ微量であってもその化学結合状態により人体に悪影響を及ぼす可能性がある．微量元素の量についてはこれまでにも多くの検出手法が開発され，実用化されてきているが，微量元素の化学結合状態を実験的に直接解明する手法はほとんどなかった．今回の研究において，このような微量元素の化学結合状態を解明することのできる可能性を示した．
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