• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 前のページに戻る

収差補正電子顕微鏡の焦点位置スキャンによるナノ構造および原子の三次元計測法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 16K13688
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関大阪大学

研究代表者

山崎 順  大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 准教授 (40335071)

研究分担者 田中 信夫  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 研究員 (40126876)
連携研究者 齋藤 晃  名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 教授 (50292280)
郷原 一寿  北海道大学, 工学研究院, 教授 (40153746)
平田 秋彦  東北大学, 原子分子材料科学高等研究機構, 准教授 (90350488)
小林 慶太  大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 助教 (40556908)
研究期間 (年度) 2016-04-01 – 2018-03-31
研究課題ステータス 完了 (2017年度)
配分額 *注記
3,770千円 (直接経費: 2,900千円、間接経費: 870千円)
2017年度: 1,690千円 (直接経費: 1,300千円、間接経費: 390千円)
2016年度: 2,080千円 (直接経費: 1,600千円、間接経費: 480千円)
キーワード収差補正電子顕微鏡 / 正焦点 / 格子縞コントラスト / 金属ナノ粒子 / 三次元分布 / 非整合エピタキシャル界面 / 三次元観察 / 収差補正TEM / 焦点位置スキャン / 結晶格子縞 / ナノ粒子 / 動画計測 / 三次元計測 / 深さ分解能 / ナノ構造 / 単原子
研究成果の概要

収差補正TEM像における結晶格子縞コントラストが正焦点で極小となる性質を利用して、焦点位置スキャン(フォーカルシリーズ)から金属ナノ粒子の三次元分布を簡便に計測する手法を開発した。またこの過程で結晶格子縞コントラストを定量的に表示できるフィルター処理の開発に成功した。これを活用して半導体の非整合エピタキシャル界面のラフネスを可視化・定量計測する手法開発にも成功した。

報告書

(3件)
  • 2017 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2016 実施状況報告書
  • 研究成果

    (2件)

すべて 2017

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件、 謝辞記載あり 1件) 学会発表 (1件) (うち招待講演 1件)

  • [雑誌論文] 結像系収差補正電子顕微鏡(収差補正TEM)を駆使した微細構造解析手法の進展2017

    • 著者名/発表者名
      山﨑 順
    • 雑誌名

      触媒

      巻: 59 ページ: 82-88

    • 関連する報告書
      2016 実施状況報告書
    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [学会発表] Precise measure of the depth resolution in aberration-corrected TEM2017

    • 著者名/発表者名
      Jun Yamasaki, Koh Saitoh, and Nobuo Tanaka
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第73回学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演

URL: 

公開日: 2016-04-21   更新日: 2019-03-29  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi