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電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

研究課題

研究課題/領域番号 17206005
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関北陸先端科学技術大学院大学

研究代表者

富取 正彦  北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (10188790)

研究分担者 新井 豊子  金沢大学, 大学院・自然科学研究科, 教授 (20250235)
村田 英幸  北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 准教授 (10345663)
研究期間 (年度) 2005 – 2007
研究課題ステータス 完了 (2007年度)
配分額 *注記
48,360千円 (直接経費: 37,200千円、間接経費: 11,160千円)
2007年度: 10,790千円 (直接経費: 8,300千円、間接経費: 2,490千円)
2006年度: 14,690千円 (直接経費: 11,300千円、間接経費: 3,390千円)
2005年度: 22,880千円 (直接経費: 17,600千円、間接経費: 5,280千円)
キーワード走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面物性 / ナノ構造界面 / 電子物性 / 非接触原子間力顕微鏡 / 電圧印加非接触原子間力分光法 / 相互作用力 / シリコン / 電圧印加非接触原子間力分光 / ナノ力学分光
研究概要

本研究では、独自開発の電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法(Bias nc-AFM/S)を活用して固体表面上の電子・光機能ナノ構造の原子・分子配列、結合・電子状態、基板との界面電子物性を原子スケールで解析し、本手法を発展させることを目的とした.nc-AFSの結果は、二つの凝縮系物体を極接近させ印加電圧を変化させて静電エネルギー的にチューニングすることで、それぞれの表面電子準位からなる共鳴状態(共有結合)を形成できることを示した.また、nc-AFSに基づく力と電流の同時測定は、近接した2物体間のトンネル障壁の崩壊過程を評価し、電子伝導と相互作用力の相関を解析できることを示唆した.そこでさらに電流と力の高感度検出のために探針先端の調製を進めた.AFMカンチレバーのSi探針先端を清浄化し、Si, Geを接触または蒸着し、加熱電界印加して、ナノピラーを成長させ、SEM, SAM, TEMなどで解析した.また、水晶振動子力センサーを構築し、その探針材料としてPt-Ir線を電解研磨で先鋭化し、その先端にPt系ナノピラーが成長できるようにした.試料としてSi(111)-7x7にπ共役系分子4,4"-diamino-p-terphenyl(DAT)を蒸着して観察し、DATの蒸着量を変化させてXPSで電子状態解析した.この材料は、1,4-bis(4-formylstyryl)benzene(BFSE)を蒸着することによってDAT末端のアミノ基と交互に重合反応させ、制御された分子長をもつπ共役分子をSi基板に垂直配向できる可能性をもつ.DATの吸着位置は7x7単位胞の積層欠陥に優先吸着し、分子両端の2つのNH_3分子のうち一方がSi基板と結合し、他端が自由末端となっている証拠を得た.また、Si原子と結合したアミノ基部位で電子状態が基板に対して電導状態であることがわかった.

報告書

(4件)
  • 2007 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2006 実績報告書
  • 2005 実績報告書
  • 研究成果

    (134件)

すべて 2008 2007 2006 2005

すべて 雑誌論文 (32件) (うち査読あり 7件) 学会発表 (94件) 図書 (8件)

  • [雑誌論文] 走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用2008

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 雑誌名

      表面科学 29

      ページ: 239-245

    • NAID

      10021165886

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Nanomechanical interaction under bias voltage in scanning probe microscopy(in Japanese)2008

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, T. Arai
    • 雑誌名

      Hyomen Kagaku 28

      ページ: 239-245

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用2008

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦、新井 豊子
    • 雑誌名

      表面科学 29

      ページ: 239-245

    • NAID

      10021165886

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [雑誌論文] Atomic force microscope Si tip with Ge clusters with the capability of remoulding by heating2007

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 雑誌名

      Nanotechnology 18

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Nanoscale manipulation and characterization using SPM-based instruments2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      The 15th Intemational Confbrence on Composites/Nano Engineering(ICCE-15)

      ページ: 950-953

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Tomitori : Atomic force microscope Si tip with Ge clusters with the capability of remoulding by heating2007

    • 著者名/発表者名
      Z.A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Nanotechnology 18

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Nanoscale manipulation and characterization using SPM-Based Instruments2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, Y. Ohkubo, M. Tani, T. Arai
    • 雑誌名

      The fifteenth international conference on composites/nano engineering (ICCE -15)

      ページ: 950-953

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Chapter 5 Scanning tunneling microscopy(in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      Introduction series to nanotechnology (Kyoritsu) III, 254

      ページ: 87-99

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Chapter 4 Vacuum technology", (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      Introduction series to nanotechnology (Kyoritsu) IV, 243

      ページ: 65-93

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Chapter 6 STM, 6.2 Apparatus and methodology, 6.2.3 Example of observation(in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      Handbook of Surface Physical Property Engineering, (Maruzen) 1050

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Atomic force microscope Si tip with Ge clusters with the capability of remoulding by heating2007

    • 著者名/発表者名
      Z.A.Ansari, T.Arai, M.Tomitori
    • 雑誌名

      Nanotechnology 18(8)

      ページ: 84020-6

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Evidence of temperature dependence of initial adsorption sites of Ge atoms on Si(111)-7x72006

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett 88

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Energy Spectra of electrons backscattered from sample surfaces with hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy2006

    • 著者名/発表者名
      M. Hirade
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys 45

      ページ: 2278-2282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electric conductance through chemical bonding states being formed between a Si tip and a Si(111)-7x7 surface by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 73

    • NAID

      120001316581

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Evidence of temperature dependence of initial adsorption sites of Ge atoms on Si(111)-7x72006

    • 著者名/発表者名
      Z.A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett 88

    • NAID

      120000861401

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Energy spectra of electrons backscattered from sample surfaces with hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy2006

    • 著者名/発表者名
      M. Hirade, T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys 45(3B)

      ページ: 2278-2282

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Electric conductance through chemical bonding states being formed between a Si tip and a Si(111)-7x7 surface by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Phys. Rev. B 73

    • NAID

      120001316581

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] 2. Scanning tunneling microscopy, pp. 7-14 ; S. Hasegawa and M. Tomitori : 18. Characterization of semiconducting materials2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      Scanning probe microscopy roadmap 2005, edited by S. Morita, (Springer-Verlag, Berlin) 201

      ページ: 133-137

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Evidence of temperature dependence of initial adsorption sites of Ge atoms on Si(111)-7x72006

    • 著者名/発表者名
      Z.A.Ansari, M.Tomitori, T.Arai
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters 88

      ページ: 171902-3

    • NAID

      120000861401

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Energy spectra of electrons backscattered from sample surfaces wit hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy2006

    • 著者名/発表者名
      M.Hirade, T.Arai, M.Tomitori
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics 45(3B)

      ページ: 2278-2282

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Electric conductance through chemical bonding states being formed between a Si tip and a Si(111)7x7 surface by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T.Arai, M.Tomitori
    • 雑誌名

      Physical Review B 73

    • NAID

      120001316581

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] 電圧印加非接触原子間力分光法による量子力学的共鳴相互作用の測定2006

    • 著者名/発表者名
      新井豊子, 富取 正彦
    • 雑誌名

      固体物理 40(8)

      ページ: 581-590

    • NAID

      40006867381

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] A Si nanopillar grownon a Si tip by atomic force microscopy in ultrahigh vacuum for a high-quality scanning probe2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett 86

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Hexagonal arrangement of Ge clusters self-organized on a template of half unit cells of Si(111)-7x7 observed by scanning tunneling microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 雑誌名

      Surf. Sci. Lett 574

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 電圧印加非接触原子間力分光法による量子力学的共鳴相互作用の測定2005

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 雑誌名

      固体物理 40

      ページ: 47-56

    • NAID

      40006867381

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 最近の研究と技術"電圧印加非接触原子間力顕微鏡法を利用した探針-試料間の相互作用力分光法"2005

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 雑誌名

      顕微鏡 40

      ページ: 193-195

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] A Si nanopillar grown on a Si tip by atomic force microscopy in ultrahigh vacuum for a high-quality scanning probe2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett 86

    • NAID

      120000861400

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Hexagonal arrangement of Ge clusters self-organized on a template of half unit cells of Si(111)-7x7 observed by scanning tunneling microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Surf. Sci. Lett 574

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Measurement of quantum mechanical resonant interaction by bias-voltage noncontact atomic force microscopy(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 雑誌名

      Kotai Butsuri 40

      ページ: 47-56

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Interaction force spectroscopy between a sample and a tip by bias-voltage noncontact atomic force microscopy(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, T. Arai
    • 雑誌名

      Kenbikyou 40

      ページ: 193-195

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Chapter 2.1 STM, 5.2 Evaluation of semiconducting materials(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 雑誌名

      Scanning probe microscopy -recent developments and future prospects, edited by S. Morita, (Maruzen) 202

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Chapter 4 Mechanical spectroscopy, 4.4 Dissipation and non-conservative force measurements(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, T. Arai
    • 雑誌名

      Practical nanotechnology -scanning probe microscopy and local spectroscopy, (Shokabo) 429

      ページ: 196-207

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] STMを用いたSi(111)7x7表面上の4,4"-diamino-p-terphenylの観察2008

    • 著者名/発表者名
      西村 高志
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      日本大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Application of non-contact atomic force microscopy/spectroscopy towards control of nano-functional structures2008

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      1st International Symposium on Photofunctional Devices
    • 発表場所
      ホテル阪急エキスポパーク
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Scanning tunneling microscopy observation of 4,4'-dianoino-p-terphenyl on Si(111)7x7 (in Japanese)2008

    • 著者名/発表者名
      T. Nishimura, A. Itabashi, H. Murata, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Nihon Univ. Funabashi, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Application of non-contact atomic force microscopy/spectroscopy towards control of nano-functional structures2008

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      The 1st International Symposium on Photofunctional Devices
    • 発表場所
      Hotel Hankyu Expo Park, Osaka, Jap
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] STMを用いたSi(111)7x7表面上の4,4"-diamino-p-terphenylの観察2008

    • 著者名/発表者名
      西村 高志、板 橋敦、村田 英幸、富取 正彦、新井 豊子
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      千葉、日本大学
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Control of AFM tip apexes and bias-voltage nanomechanical spectroscopy(in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      Workshop of the JSPS 141st committee of micro beam analysis
    • 発表場所
      lshikawa Ongakudo, Kanazawa, Japan
    • 年月日
      2007-05-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] ペンシル型走査型プローブ顕微鏡を用いた探針成長の"その場"SEM観察2007

    • 著者名/発表者名
      大久保 芳彦
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      青山学院大学
    • 年月日
      2007-03-29
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] In situ SEM observation of tip growth with a pencil-type SPM (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Ookubo, M. Tani, K. Matsumura, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Aoyama Gakuin Univ., Sagamihara, Japa
    • 年月日
      2007-03-29
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触原子間力分光法による2物体間結合力の共鳴的増大2007

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      日本物理学会
    • 発表場所
      鹿児島大学
    • 年月日
      2007-03-18
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Resonant increase in binding force between two pieces of condensed matter by bias-voltage noncontact atomic force microscopy (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      Vleeting of the Physical Society of Japan
    • 発表場所
      Kagoshima Univ., Kagoshima, Japan
    • 年月日
      2007-03-18
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] STM study of 4,4'-diamino-p-terphenyl on Si(111)7x72007

    • 著者名/発表者名
      T. Nishimura
    • 学会等名
      ICSPM 15
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface electron spectroscopy using scanning probe microscopy from field-emission to force interaction under a tip-sample bias voltage(invited)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Scanning tunneling microscopy observation of 4,4'-diamino-p-terphenyl on Si(111)7x7 at room temperature2007

    • 著者名/発表者名
      T. Nishimura
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      JAIST, Ishikawa, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using pencil-type SPM combined with an ultrahigh-resolution field-emission SEM2007

    • 著者名/発表者名
      H. Tsuneishi
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      JAIST, Ishikawa, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Investigation of organic molecules by frequency modulation atomic force microscopy in air or liquid2007

    • 著者名/発表者名
      M. Ohta
    • 学会等名
      NCAFM 07
    • 発表場所
      Anatalya, Turkey
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 大気中・液中で動作する高分解能FM-AFMの開発(1)2007

    • 著者名/発表者名
      大田 昌弘
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      北海道工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] シリコン基板に直接結合したπ共役系分子の形成2007

    • 著者名/発表者名
      板橋 敦
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      北海道工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using STM-based instruments(Key note)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      ICCE 15
    • 発表場所
      Haikou, China
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] ペンシル型走査型プローブ顕微鏡と超高分解能SEMの複合化によるその場観察2007

    • 著者名/発表者名
      大久保 芳彦
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • 発表場所
      新潟、朱鷺メッセ
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface electron spectroscopy using scanning probe microscopy from field-emission to force interaction under a tip-sample bias voltage (invited)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Scanning tunneling microscopy observation of 4,4'-diamino-p-terphenyl on Si(111)7x7 at room temperature2007

    • 著者名/発表者名
      T. Nishimura, A. Itabashi, H. Murata, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      JAIST, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using pencil-type SPM combined with an ultrahigh-resolution field-emission SEM2007

    • 著者名/発表者名
      H. Tsuneishi, Y. Ookubo, M. Tani, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      JAIST, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Development I of high resolution FM atomic force microscopy operated in air or liquid (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Ohta, K. Watanabe, R. Kokawa, K. Kobayashi, H. Yamada, M. Abe, S. Morita, M. Tomitori, H. Onishi, T. Arai
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Hokkaido Institute of Technology, Univ., Sapporo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Fabrication of it -conjugated molecule sysytem directly bound to Si substrate (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      A. Itabashi, T. Nakayama, T. Arai, M. Tomitori, H. Murata
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Hokkaido Institute of Technology, Univ., Sapporo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using SPM-based instruments (invited, keynote)2007

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, Y. Ookubo, M. Tani, T. Arai
    • 学会等名
      ICCE 15
    • 発表場所
      Haikou, China
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] In situ observation by a an ultra-high resolution SEM combined with a pencil-type SPM (in Japanese)2007

    • 著者名/発表者名
      Y. Oolcubo, M. Tani, K. Matsumura, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Annual meeting of the Japanese Society of Microscopy
    • 発表場所
      Told Messe, Niigata, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Surface electron spectroscopy using scanning probe microscopy from field-emission to force interaction under a tip-sample bias voltage(lnvited)2007

    • 著者名/発表者名
      M.Tomitori, T.Arai and M.Hirade
    • 学会等名
      MRS Fall Meeting
    • 発表場所
      Boston,USA
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using SPM-based instruments(lnvited,keynote)2007

    • 著者名/発表者名
      M.Tomitori, Y.Ookubo, M.Tani and T.Ara
    • 学会等名
      The Fifteenth International Conference on Composites/Nano Engineering(ICCE-15)
    • 発表場所
      Hainan,China
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Investigation of organic molecules by frequency modulationatomic force microscopy in air or liquid2007

    • 著者名/発表者名
      M.Ohta, 他9名
    • 学会等名
      NCAFM O7
    • 発表場所
      Anatalya,Turkey
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Scanning tunneling microscopy observation of 4,4'-diamino-p-terphenyl on Si(111)7x7at room temperature2007

    • 著者名/発表者名
      T.Nishimura, A.Itabashi, H.Murata, T.Arai, M.Tomitori
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      Ishikawa,JAIST
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] Nanoscale manipulation and characterization using pencil-type SPM combined with an ultrahigh-resolution field-emission SEM2007

    • 著者名/発表者名
      H.Tsuneishi, Y.Ookubo, M.Tani, T.Arai, M.Tomitori
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nano Technology 2007
    • 発表場所
      Ishikawa,JAIST
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] STM study of 4,4'-diamino-p-terphenyl on Si(111)7x72007

    • 著者名/発表者名
      T.Nishimura, A.Itabashi, H.Murata, T.Arai, M.Tomitori
    • 学会等名
      ICSPM 15
    • 発表場所
      Atagawa,Japan
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] ペンシル型走査型プローブ顕微鏡を用いた探針成長の"その場"SEM観察2007

    • 著者名/発表者名
      大久保 芳彦、谷 正安、松村 浩司、新井 豊子、富取 正彦
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会学術講演会
    • 発表場所
      新潟、朱鷺メッセ
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 大気中・液中で動作する高分解能FM-AFMの開発(1)2007

    • 著者名/発表者名
      大田 昌弘, 他9名
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      札幌、北海道工業大学
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] シリコン基板に直接結合したπ共役系分子の形成2007

    • 著者名/発表者名
      板 橋敦、中山 智祐、新井 豊子、富取 正彦、村田 英幸
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      札幌、北海道工業大学
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 電圧印加フォーススペクトルとケルビンカの考察2006

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 SPM分科会研究会
    • 発表場所
      京都キャンパスプラザ
    • 年月日
      2006-12-12
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Consideration of bias-voltage force curve and Kelvin force(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      Workshop of SPM session of the Japanese Society of Microscopy
    • 発表場所
      Kyoto Campus Plaza, Kyoto, Japan
    • 年月日
      2006-12-12
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触原子間力分光法による表面状態解析をめざした超高真空極低温走査型プローブ顕微鏡の開発2006

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      表面科学会
    • 発表場所
      大阪
    • 年月日
      2006-11-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法による量子力学的共鳴相互作用の測定2006

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      表面科学会
    • 発表場所
      大阪
    • 年月日
      2006-11-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Development of an ultra-high vacuum low-temperature SPM for surface analysis by bias-voltage noncontact atomic force microscopy (in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      Meeting of the Surface Science Society ofJapan
    • 発表場所
      Osaka, Japan
    • 年月日
      2006-11-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Measurements of quantum mechanical resonant interaction by bias-voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      Meeting of the Surface Science Society of Japan
    • 発表場所
      Osaka, Japan
    • 年月日
      2006-11-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Attaching aromatic molecules to the Si(111)surfaces via conjugated bond2006

    • 著者名/発表者名
      H. Murata
    • 学会等名
      10th ISSP International Symposium on Nanoscience at Surfaces(ISSP-10)
    • 発表場所
      柏市
    • 年月日
      2006-10-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Attaching aromatic molecules to the Si(111) surfaces via conjugated bond2006

    • 著者名/発表者名
      H. Murata, A. Itabashi, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      10th ISSP International Symposium on Nanoscience at Surfaces (ISSP-10)
    • 発表場所
      Kashiwa, Japan
    • 年月日
      2006-10-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Noncontact atomic force microscopy/spectroscopy with changing bias voltage for interaction analysis between two bodies(invited)2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      11th International Ceramics Congress(CIMTEC2006)
    • 発表場所
      Sicily, Italy
    • 年月日
      2006-06-06
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Electric conductance between a Si tip and a Si(111)7x7 surface in proximity analyzed by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      11th International Ceramics Congress(CIMTEC2006)
    • 発表場所
      Sicily, Italy
    • 年月日
      2006-06-06
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Noncontact atomic force microscopy/ spectroscopy with changing bias voltage for interaction analysis between Two bodies2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      11 th International Ceramics Congress (CIMTEC2006)
    • 発表場所
      Sicily, Italy
    • 年月日
      2006-06-06
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Electric conductance between a Si tip and a Si(111)7x7 surface in proximity analyzed by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      11th International Ceramics Congress (CIMTEC2006)
    • 発表場所
      Sicily, Italy
    • 年月日
      2006-06-06
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] AFM探針先端制御と電圧印加ナノ力学分光2006

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 学会等名
      マイクロビームアナリシス第141委員会 研究会
    • 発表場所
      石川県音楽堂、金沢
    • 年月日
      2006-05-16
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 清浄Si探針とSi表面の相互作用力と電流の電圧印加-非接触原子間力分光法による測定2006

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      武蔵工業大学
    • 年月日
      2006-03-25
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Measurements of interaction force and current between a clean Si tip and a Si surface by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Musashi Institute of Technology, Tok
    • 年月日
      2006-03-25
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] π-conjugated molecules directly attached to Si(111)surface2006

    • 著者名/発表者名
      H. Murata
    • 学会等名
      Electronic Structure and Processes of Molecular-Based Interfaces: In Relation to Organic and Molecular Devices(ESPMI06)
    • 発表場所
      Nagaya, Japan
    • 年月日
      2006-03-03
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] π-conjugated molecules directly attached to Si(111) surface2006

    • 著者名/発表者名
      H. Murata, A. Itabashi, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Electronic Structure and Processes of Molecular-Based Interfaces : In Relation to Organic and Molecular Devices (ESPMI 06)
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • 年月日
      2006-03-03
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Modification of an AFM Si tip by Pt sputtering and its characterization2006

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 学会等名
      ICSPM 14
    • 発表場所
      Atagawa, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Force and current spectroscopic study of chemical resonating states by bias voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      The 16th International Microscopy Congress(IMC16)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] In situ tip treatments for nano scale observation and characterization with scanning probe microscopy2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      ICN+T2006
    • 発表場所
      Basel, Switzerland
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale force interaction and conductance measurements using bias-voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy(invited)2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      ICN+T2006
    • 発表場所
      Basel, Switzerland
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] AFM Si tip with Ge clusters with capability of remolding by heating2006

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 学会等名
      9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Kobe, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Spectroscopic study of chemical resonating states by bias voltage nc-AFM/S2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      9th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Kobe, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 非接触原子間力分光法による極近接状態の相互作用力とコンダクタンスの測定2006

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      日本物理学会
    • 発表場所
      愛媛大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] STM, AFM, NSOMの現状と将来2006

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      武蔵工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] SPMによる材料・デバイスの評価2006

    • 著者名/発表者名
      末岡 和久
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      武蔵工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Force and current spectroscopic study of chemical resonating states by bias voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      The 16th International Microscopy Congress, (IMC16)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] In situ tip treatments for nano scale observation and characterization with scanning probe microscopy2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, Z.A. Ansari, T. Arai
    • 学会等名
      ICN+T 2006
    • 発表場所
      Basel, Switzerland
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Nanoscale force interaction and conductance measurements using bias-voltage nc-AFM/S2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      ICN+T 2006
    • 発表場所
      Basel, Switzerland
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Measurements of interaction force and conductance in proximity by noncontact atomic force spectroscopy(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Physical Society of Japan
    • 発表場所
      Ehime Univ., Matsuyama, Japan
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Present state, and future prospects of STM, AFM and NSOM(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, Y. Sugawara, T. Saeki
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Musashi Institute of Technology, T
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Evaluation of materials and devices by SPM(in Japanese)2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sueoka, S. Hasegawa, M. Tomitori, H. Usuda, H. Onishi, A. Ikai, K. Nakajima
    • 学会等名
      Meeting of the Japan Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Musashi Institute of Technology, T
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bias voltage noncontact atomic force spectroscopy simultaneously measured with current2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      International Symposium on Surface Science and Nanotechnology(ISSS-4)
    • 発表場所
      Omiya, Japan
    • 年月日
      2005-11-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bias voltage noncontact atomic force spectroscopy simultaneously measured with current2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      International Symposium on Surface Science and Nanotechnology (ISSS-4)
    • 発表場所
      Omiya, Japan
    • 年月日
      2005-11-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] ティップサイエンス-実験系から-2005

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 学会等名
      ナノプローブテクノロジー学振167委員会 研究会
    • 発表場所
      武蔵工業大学
    • 年月日
      2005-10-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Tip science from a viewpoint of experiment(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 学会等名
      Workshop of the JSPS 167th committee of nanoprobe technology
    • 発表場所
      Osaka Univ., Japan
    • 年月日
      2005-10-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 探針-試料間に誘起する変位電流によるジュール熱の第一原理計算2005

    • 著者名/発表者名
      田中 倫子
    • 学会等名
      日本物理学会
    • 発表場所
      同志社大学
    • 年月日
      2005-09-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法による探針-試料間相互作用の解析2005

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      日本物理学会
    • 発表場所
      同志社大学
    • 年月日
      2005-09-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] First principles calculation of Joule heat due to displacement current induced between an nc-AFM tip and a sample(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tanaka, S. Furuya, T. Arai, M. Tomitori, S. Watanabe
    • 学会等名
      Meeting of the Physical Society of Japan
    • 発表場所
      Doshisha Univ., Kyotanabe, Japan
    • 年月日
      2005-09-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Analysis of interaction between a tip and a sample by bias-voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy(in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Physical Society of Japan
    • 発表場所
      Doshisha Univ. Kyototanabe, Japan
    • 年月日
      2005-09-19
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Vertically aligned π-conjugated molecules directly attached to silicon surface viacovalent bond2005

    • 著者名/発表者名
      A. Itabashi
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nanotechnology 2005
    • 発表場所
      JAIST, Ishikawa, Japan
    • 年月日
      2005-09-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Vertically aligned it-conjugated molecules directly attached to silicon surface via covalent bond2005

    • 著者名/発表者名
      A. Itabashi, T. Arai, M. Tomitori, H. Murata
    • 学会等名
      JAIST International Symposium on Nanotechnology 2005
    • 発表場所
      JAIST, Japan
    • 年月日
      2005-09-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触AFMによる原子-原子間相互作用力の分光計測2005

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      応用物理学会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2005-09-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Spectroscopic measurement of atom-atom interaction force by bias-voltage noncontact AFM (in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Japanese Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Tokushima Univ., Tokushima, Japan
    • 年月日
      2005-09-08
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電界放射STMを用いたAl/Si(111)からの後方散乱電子エネルギースペクトルの測定2005

    • 著者名/発表者名
      平出 雅人
    • 学会等名
      第66回応用物理学会学術連合講演会
    • 発表場所
      徳島大学
    • 年月日
      2005-09-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bacicscattered electron spectroscopy from Al/Si(111) using a field emission STM (in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Hirade, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      Meeting of the Japanese Society of Applied Physics
    • 発表場所
      Tokushima Univ., Tokushima, Japan
    • 年月日
      2005-09-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bias voltage noncontact atomic force spectroscopy with measuring current2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      8th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
    • 発表場所
      Bad Essen, Germany
    • 年月日
      2005-08-18
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法の開発2005

    • 著者名/発表者名
      新井 豊子
    • 学会等名
      ナノプローブテクノロジー学振第167委員会 研究会
    • 発表場所
      東京工業大学、長津田
    • 年月日
      2005-07-27
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Development of bias-voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy (in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      Workshop of the JSPS 167th committee of nanoprobe technology
    • 発表場所
      Tokyo Institute of Technology, Nagat
    • 年月日
      2005-07-27
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Self-assembled Ge nano-clusters grown on Si(111)-7x7 at elevated temperatures2005

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari
    • 学会等名
      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques(STM05)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Energy spectra of electrons backscattered from sample surfaces with hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      M. Hirade
    • 学会等名
      STM 05
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Self-assembled Ge nano-clusters grown on Si(111)-7x7 at elevated temperatures2005

    • 著者名/発表者名
      Z. A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (STM05)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Energy spectra of electrons backscattered from sample surfaces with hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy2005

    • 著者名/発表者名
      M. Hirade, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (STM05)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Electron standing wave analysis in an stm vacuum gap for nano-structure fabrication on si surfaces2005

    • 著者名/発表者名
      M. M. Rahman
    • 学会等名
      STM 05
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Electron standing wave analysis in an STM vacuum gap for nano-structure fabrication on Si surfaces2005

    • 著者名/発表者名
      M. M. Rahman, K. Yamagishi, T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (STM05)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bias-voltage dependence of chemical bonding force detected by noncontact atomic force microscopy/spectroscopy2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai
    • 学会等名
      STM 05
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Bias-voltage dependence of chemical bonding force detected by noncontact atomic Force microscopy/spectroscopy2005

    • 著者名/発表者名
      T. Arai, M. Tomitori
    • 学会等名
      13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Techniques (STM05)
    • 発表場所
      Sapporo, Japan
    • 年月日
      2005-07-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 原子間力顕微鏡の探針先端制御と電圧印加ナノ力学分光2005

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会
    • 発表場所
      エポカルつくば、茨城
    • 年月日
      2005-06-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Cotnrol of an AFM tip apex and bias-voltage nanomechanical force spectroscopy (in Japanese)2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori, T. Arai
    • 学会等名
      Meeting of the Japanese Society of Microscopy
    • 発表場所
      Epocal Tsukuba, Tsulcuba, Japan
    • 年月日
      2005-06-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] ナノテクノロジー入門シリーズ 第3巻 極限微小系のナノ物性測定2007

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 出版者
      共立出版
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] ナノテクノロジー入門シリーズ 第4巻 基礎装置工学・試料作製技術 真空工学2007

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 出版者
      共立出版
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] 表面物性工学ハンドブック 第2版 第6章 SPM 6.2STM6.2.2 装置と測定法、6.2.3 観察例12007

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 出版者
      丸善
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] Scanning probe microscopy roadmap 2005 Chap.2. Scanning tunneling microscopy(edited by S. Morita)2006

    • 著者名/発表者名
      M.Tomitori
    • 総ページ数
      8
    • 出版者
      Springer-Verlag, Berlin
    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [図書] 走査プローブ顕微鏡 第4章 力学的分光 4.4散逸・非保存力測定2006

    • 著者名/発表者名
      富取正彦, 新井豊子(分担執筆)
    • 総ページ数
      12
    • 出版者
      裳華房
    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [図書] Scanning probe microscopy roadmap 2005, Chap. 2 Scanning tunneling microscopy, Chap. 18 Characterization of semiconducting materials2005

    • 著者名/発表者名
      M. Tomitori
    • 出版者
      Springer-Verlag
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] 走査型プローブ顕微鏡 最新技術と未来予測 2.1 走査型トンネル顕微鏡(STM)、5.2 半導体材料の評価2005

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 出版者
      丸善
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] 実践ナノテクノロジー 走査プローブ顕微鏡と局所分光 第4章力学的分光4.4散逸・非保存力測定2005

    • 著者名/発表者名
      富取 正彦
    • 出版者
      裳華房
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要

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公開日: 2005-04-01   更新日: 2016-04-21  

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