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配線損傷の高精度予測に立脚した電子デバイス長寿命化のための回路設計指針の新規策定

研究課題

研究課題/領域番号 17360045
研究種目

基盤研究(B)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械材料・材料力学
研究機関弘前大学

研究代表者

笹川 和彦  弘前大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (50250676)

研究分担者 坂 真澄  東北大学, 大学院・工学研究科, 教授 (20158918)
研究期間 (年度) 2005 – 2007
研究課題ステータス 完了 (2007年度)
配分額 *注記
15,710千円 (直接経費: 15,200千円、間接経費: 510千円)
2007年度: 2,210千円 (直接経費: 1,700千円、間接経費: 510千円)
2006年度: 7,500千円 (直接経費: 7,500千円)
2005年度: 6,000千円 (直接経費: 6,000千円)
キーワードエレクトロマイグレーション / 半導体集積回路 / 長寿命化 / 微細化 / 高密度実装 / 電子パッケージ / 金属薄膜配線 / 数値シミュレーション
研究概要

得られた成果を以下にまとめて示す。
1.折れ曲がり/テーパ付き形状の配線を想定し,損傷予測を行った。形状の異なる配線の各々でEM損傷のしきい電流密度を予測した。折れ曲がった配線のしきい電流密度の方が直線形状のそれよりも大きいことがわかった。
2.上記1の形状の試験片を用いて通電実験を行い,予測結果から得た配線構造・形状によるEM損傷への依存性を確認するとともに,予測法の妥当性を示した。
3.配線長が一定の下で折れ曲がり位置やテーパ方向を変化させることにより,配線構造・形状と損傷予測パラメータとの関連性を抽出した。配線内のマクロな電流密度分布が配線の許容電流に影響を及ぼすことがわかった。これより,配線構造・形状に関する長寿命化の設計指針を獲得した。
4.Al積層配線に対しTEOSあるいはポリイミドの保護膜材料を組み合わせた配線を想定し,EM損傷予測を行った。同じ保護膜厚さに対してポリイミド保護膜配線の方が長寿命となる結果を得た。
5.上記4の試験片を作製し加速通電実験を実施した。予測結果の十分な検証に至らなかったが,意図したとおりの損傷が発生し予測結果の傾向を確認した。
6.Al配線に対しTEOS,ポリイミド,SiNを保護膜とした組み合わせ配線を作製し,ナノ押し込み試験を実施した。弾性率はSiN,TEOS,かなり離れてポリイミドの順に小さくなった。またこの順に付着強度が大きいことが示唆された。
7.ナノ押し込み試験より得た機械的特性を損傷予測パラメータであるEM特性定数と比較検討した。配線の長寿命化には,弾性率が小さく配線との付着強度が大きい保護膜との組み合わせが有効であることが示唆され,これらの関連性から保護膜の材料・厚さに関する長寿命化の設計指針を獲得した。今後,保護膜機械的特性と予測パラメータ「有効体積弾性率」との関連性も考慮して,より総合的に長寿命化への検討を行う予定である。

報告書

(4件)
  • 2007 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2006 実績報告書
  • 2005 実績報告書
  • 研究成果

    (56件)

すべて 2008 2007 2006 2005

すべて 雑誌論文 (19件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (33件) 図書 (4件)

  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM), ASME

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM)

      ページ: 2007-33237

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 353-358

      ページ: 2958-2961

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Proceedings of IPACK2007, ASME (CD-ROM)

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa(N. Yamaji, S. Fukushi)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials Vols.353-358

      ページ: 2958-2961

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electromigration Failure of Metal Lines2006

    • 著者名/発表者名
      H.Abe(K.Sasagawa, M.Saka)
    • 雑誌名

      International Journal of Fracture 138・1-4

      ページ: 219-240

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 多結晶およびバンブー構造Al配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      応用物理学会 薄膜・表面物理分科会 第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会予稿集

      ページ: 21-22

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 折れ曲がるバンブー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      日本機械学会2006年次大会講演論文集(1) No.06-1

      ページ: 907-908

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 半導体集積回路配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路尚, 福士翔大)
    • 雑誌名

      エレクトロニクス実装学会 MES2006 第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集

      ページ: 267-270

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Threshold Current Density of Elecromigration Damage in Angled Polycrystalline Line2006

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa(N.Yamaji, S.Fukushi)
    • 雑誌名

      Abstracts of 2006 Asian Pacific Conference for Fracture and Strength

      ページ: 415-415

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] エレクトロマイグレーション損傷と数値シミュレーションによる信頼性評価法2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 雑誌名

      日本材料学会第43回X線材料強度に関する討論会講演論文集

      ページ: 12-17

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] 多結晶配線における配線二次元形状がしきい電流密度に及ぼす影響2006

    • 著者名/発表者名
      山路 尚, (笹川和彦)
    • 雑誌名

      日本機械学会 東北支部 第41期総会・講演会 講演論文集 No.2006-1

      ページ: 51-52

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno (M. Hasegawa, K. Sasagawa, M. Saka)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line2005

    • 著者名/発表者名
      S. Uno (M. Hasegawa, K. Sasagawa and M. Saka)
    • 雑誌名

      Key Engineering Materials 297-300

      ページ: 263-268

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] バンブー配線における配線二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第11回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会講演論文集

      ページ: 40-41

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines2005

    • 著者名/発表者名
      K.Sasagawa, (S.Uno, N.Yamaji, M.Saka)
    • 雑誌名

      Proc.ASME/Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS and Electronic Systems (CD-ROM)

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] バンブー配線の二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 雑誌名

      日本機械学会 2005年次大会 講演論文集(VI) No.05-1

      ページ: 287-288

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [雑誌論文] 二次元形状の多結晶配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦, (山路 尚, 宇野茂雄)
    • 雑誌名

      日本機械学会 第18回計算力学講演会 講演論文集 No.05-2

      ページ: 23-24

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [学会発表] 多結晶AI配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の実験的評価2008

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 二次元形状が異なるバンブー構造配線におけるエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流密度2008

    • 著者名/発表者名
      福士翔大(笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書 2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Experimental Estimation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline Al Line2008

    • 著者名/発表者名
      A. Kirita (S. Fukushi, N. Yamaji and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      43th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Lines with Two-Dimensional Shape2008

    • 著者名/発表者名
      S. Fukushi (K. Sasagawa)
    • 学会等名
      43th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2008-03-15
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 多結晶A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の実験的評価2008

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第43期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2008-03-15
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [学会発表] 半導体A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷特性に及ぼす保護膜の影響2008

    • 著者名/発表者名
      沢尻直柔(福士翔大, 桐田聡彦, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第38回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      八戸/八戸工業大学
    • 年月日
      2008-03-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書 2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Effect of Passivation Material on Characteristics of Electromigration Damage in Integrated Circuit Al Lines2008

    • 著者名/発表者名
      N. Sawajiri (S. Fukushi, A. Kirita and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2008 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Hachinohe/Hachinohe Institute of Technology
    • 年月日
      2008-03-07
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 集積回路配線のエレクトロマイグレーション損傷に対するしきい電流密度評価2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(福士翔大, 山路 尚)
    • 学会等名
      第13回破壊力学シンポジウム
    • 発表場所
      熱海/KKRホテル熱海
    • 年月日
      2007-12-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書 2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Metal Line of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi and N. Yamaji)
    • 学会等名
      13th Symposium on Fracture and Fracture Mechanics
    • 発表場所
      Atami/KKR Hotel Atami
    • 年月日
      2007-12-17
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーション損傷のメカニズム解明に関する基礎研究2007

    • 著者名/発表者名
      桐田聡彦(福士翔大, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会 第37回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      弘前/弘前大学
    • 年月日
      2007-03-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Preliminary Study on Clarification of Mechanism of Electromigration Damage in Copper Lines of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      A. Kirita (S. Fukushi and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2007 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Hirosaki/Hirosaki Univ.
    • 年月日
      2007-03-05
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] エレクトロマイグレーションを利用したナノワイヤ創製の数値シミュレーション2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(福士翔大, Yuxin Sun, 坂 真澄)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      大阪/関西大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書 2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 電子デバイス銅配線におけるエレクトロマイグレーションの支配的拡散経路に関する研究2007

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(桐田聡彦, 福士翔大)
    • 学会等名
      日本機械学会2007年度年次大会
    • 発表場所
      大阪/関西大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 実績報告書 2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Numerical Simulation for Production of Nanowire Using Electromigration2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi, Y. Sun and M. Saka)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2007 Japan
    • 発表場所
      Osaka/Kansai Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Investigation on Dominant Path of Electromigration Diffusion in Copper Lines of Electronic Devices2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (A. Kirita and S. Fukushi)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2007 Japan
    • 発表場所
      Osaka/Kansai Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] エレクトロマイグレーション損傷と数値シミュレーションによる信頼性評価法2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦
    • 学会等名
      日本材料学会第43回X線材料強度に関する討論会
    • 発表場所
      東京/東京都大田区産業プラザ
    • 年月日
      2006-12-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Electromigration Damage in LSI Metal Lines and Evaluation Method for Its Reliability by Means of Numerical Simulation2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa
    • 学会等名
      2006 JSMS Conference The 43rd Workshop X-Ray Studies on Mechanical Behavior of Materals
    • 発表場所
      Tokyo/Plaza Industry Ota
    • 年月日
      2006-12-01
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 多結晶配線における配線二次元形状がしきい電流密度に及ぼす影響2006

    • 著者名/発表者名
      山路 尚(笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北支部第41期総会・講演会
    • 発表場所
      仙台/東北大学
    • 年月日
      2006-03-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Effect of Line-shape on Threshold Current Density in Polycrystalline Lines2006

    • 著者名/発表者名
      N. Yamaji (K. Sasagawa)
    • 学会等名
      41th JSME Tohoku Division Annual Meeting
    • 発表場所
      Sendai/Tohoku Univ.
    • 年月日
      2006-03-14
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 半導体集積回路配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流に及ぼす配線形状の影響2006

    • 著者名/発表者名
      福士翔大(山路 尚, 笹川和彦)
    • 学会等名
      日本機械学会東北学生会第36回卒業研究発表講演会
    • 発表場所
      いわき/いわき明星大学
    • 年月日
      2006-03-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Effect of Line-Shape on Threshold Current Density of Electromigration Damage in Integrated Circuit Lines2006

    • 著者名/発表者名
      S. Fukushi (N. Yamaji and K. Sasagawa)
    • 学会等名
      2006 Annual Meeting of JSME Tohoku Regional Student Division
    • 発表場所
      Iwaki/waki Meisei Univ.
    • 年月日
      2006-03-04
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 多結晶およびバンブー構造A1配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      応用物理学会 薄膜・表面物理分科会第12回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会
    • 発表場所
      京都/ぱ・る・るプラザ京都
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 折れ曲がるバンブー構造配線のエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      日本機械学会2006年次大会
    • 発表場所
      熊本/熊本大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 半導体集積回路配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度の評価2006

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 福士翔大)
    • 学会等名
      エレクトロニクス実装学会 MES2006第16回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
    • 発表場所
      大阪/大阪大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline and Bamboo Al Lines2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      12th Conf. Atomic Transportation and Stress Problem in LSI Metallization
    • 発表場所
      Kyoto/Paruru Plaza Kyoto
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Angled Bamboo Lines2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress, 2006 Japan
    • 発表場所
      Kumamoto/Kumamoto Univ
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Metal Line of Integrated Circuit2006

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Fukushi)
    • 学会等名
      16th Micro Electronics Symposium
    • 発表場所
      Osaka/Osaka Univ. Convention Center
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] バンブー配線における配線二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 学会等名
      応用物理学会薄膜・表面物理分科会第11回LSI配線における原子輸送・応力問題研究会
    • 発表場所
      東京/東京工業大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] バンブー配線の二次元形状がエレクトロマイグレーション損傷のしきい電流に及ぼす影響2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(宇野茂雄, 山路 尚, 坂 真澄)
    • 学会等名
      日本機械学会2005年次大会
    • 発表場所
      東京/電気通信大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] 二次元形状の多結晶配線におけるエレクトロマイグレーション損傷しきい電流密度2005

    • 著者名/発表者名
      笹川和彦(山路 尚, 宇野茂雄)
    • 学会等名
      日本機械学会第18回計算力学講演会
    • 発表場所
      つくば/筑波大学
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Evaluation of Threshold Current Density of Electromigration Damage in Bamboo Line with Two-Dimensional Shape2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S, Uno, N. Yamaji and M. Saka)
    • 学会等名
      11th Conf. Atomic Transportation and Stress Problem in LSI Metallization
    • 発表場所
      Tokyo/Tokyo Institute of Technology
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Study on Effect of Two-Dimensional Line-Shape of Bamboo Lines on Threshold Current Density of Electromigration Damage2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Uno, N. Yamaji and M. Saka)
    • 学会等名
      Mechanical Engineering Congress in Japan 05
    • 発表場所
      Tokyo/the University of Electro-Communications
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [学会発表] Threshold Current Density of Electromigration Damage in Polycrystalline Line with Two-Dimensional Shape2005

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (N. Yamaji and S. Uno)
    • 学会等名
      18th JSME Computational Mechanics Conference
    • 発表場所
      Tsukuba/Tsukuba Univ.
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] Proceedings of IPACK2007 (CD-ROM)2007

    • 著者名/発表者名
      K. Sasagawa (S. Fukushi)
    • 出版者
      ASME
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] 金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原 正三(笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      サイエンス&テクノロジー
    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] Mechanism and Provision for Migration in Metal Lines2006

    • 著者名/発表者名
      S. Shingubara (K. Sasagawa, et. al.)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      Science & Technology
    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2007 研究成果報告書概要
  • [図書] 金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策2006

    • 著者名/発表者名
      新宮原正三(笹川和彦 ほか13名)
    • 総ページ数
      206
    • 出版者
      サイエンス&テクノロジー
    • 関連する報告書
      2006 実績報告書

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公開日: 2005-04-01   更新日: 2016-04-21  

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