| 研究課題/領域番号 |
17510060
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
放射線・化学物質影響科学
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| 研究機関 | (財)放射線影響研究所 |
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研究代表者 |
野田 朝男 (財)放射線影響研究所, 遺伝学部・細胞遺伝学室長 (40294227)
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| 研究分担者 |
児玉 善明 (児玉 喜明) (財)放射線影響研究所, 遺伝学部, 副部長 (60359453)
中村 典 (財)放射線影響研究所, 主席研究員 (00010116)
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| 研究期間 (年度) |
2005 – 2006
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| 研究課題ステータス |
完了 (2006年度)
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| 配分額 *注記 |
2,500千円 (直接経費: 2,500千円)
2006年度: 1,000千円 (直接経費: 1,000千円)
2005年度: 1,500千円 (直接経費: 1,500千円)
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| キーワード | 遺伝的不安定性 / 放射線影響 / HPRT |
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| 研究概要 |
放射線ひばくにより生じる遺伝的不安定性の原因を分子レベルで解明することを目的として、特定遺伝子(HPRT遺伝子)が部分重複したヒト細胞をgene targeting法にて作成した。この細胞を用いて、部分重複からの復帰変異率が放射線ひばくにより高まっている細胞を多数クローニングすることが可能となった。このことは、定量的に再現性良く、ひばくにより遺伝的不安定性が体細胞に生じることを再確認するという意味においても重要な結果であると考えられた。
この細胞がひばく後に起こすHPRT遺伝子座の復帰突然変異率(重複配列の不安定性の指標)と、復帰変異後のHPRT遺伝子の前進型突然変異誘発率(特異的塩基配列における不安定性の指標)の関係について、多数の細胞クローンを用いて調べた。その結果、放射線ひばくによる当該重複配列の不安定性と前進型変異の起こりやすさとは直接的な相関は見られないという知見が得られた。このことは、ゲノム中の重複配列の変異を指標として放射線の遺伝影響評価しようとする考え方に再考を促すという意義があると結論づけている。
また、放射線によるゲノムの不安定化発現機構の解析にも着手し、多数の不安定細胞クローンについて遅延性の染色体異常の出現、DNA二重鎖切断、活性酸素産生を検出することができた。従って、放射線ひばく後に傷害から回復し正常に分裂を再開した細胞群の中に、遅れて突然変異が起こるクローンが一定頻度で存在し、これらは細胞内で何らかの理由により活性酸素が増産する状態が持続している(炎症状態)可能性があることを明らかとした。本研究は、これまで断片的に提唱されてきた放射線誘発遺伝的不安定性機構を再現良く検出できる実験系として有用であり、今後放射線のみならず環境変異源などの遺伝リスク評価にも応用できると期待している。
本研究成果をRadiation Research誌から出版した。
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