| 研究課題/領域番号 |
17540299
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 九州大学 |
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研究代表者 |
河合 伸 九州大学, 大学院・理学研究院, 准教授 (60204674)
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| 研究分担者 |
成清 修 九州大学, 大学院・理学研究院, 准教授 (60252631)
吉本 芳英 東京大学, 物性研究所, 助教 (80332584)
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| 連携研究者 |
成清 修 九州大学, 大学院・理学研究院, 准教授 (60252631)
吉本 芳英 東京大学, 物性研究所, 助教 (80332584)
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| 研究期間 (年度) |
2005 – 2008
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| 研究課題ステータス |
完了 (2008年度)
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| 配分額 *注記 |
3,730千円 (直接経費: 3,400千円、間接経費: 330千円)
2008年度: 650千円 (直接経費: 500千円、間接経費: 150千円)
2007年度: 780千円 (直接経費: 600千円、間接経費: 180千円)
2006年度: 800千円 (直接経費: 800千円)
2005年度: 1,500千円 (直接経費: 1,500千円)
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| キーワード | 固体表面 / 走査トンネル顕微鏡 / 構造操作 / 量子散乱 / 物性理論 / 表面 / トンネル顕微鏡 / 半導体 / コヒーレンス / 操作トンネル顕微鏡 / 構造 / 散乱理論 / コヒーレント / ボゾン / フェルミオン / シリコン / ゲルマニューム / ダイマー / 構造変換 / 走査トンネル電子顕微鏡 / 微分コンダクタンス / モデルポテンシャル / 温度 |
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| 研究概要 |
走査トンネル顕微鏡(STM)を使った固体表面の構造操作について、機構を理論的に明らかにした。特に、STM探針から離れた表面原子操作について明らかにした。STMを使い半導体表面電子状態に注入された電子のコヒーレンス長について、フェルミオンである電子とボゾンである格子振動との相互作用を量子散乱機構としたコヒーレンス長の一般的表式を求め、ゲルマニューム表面でコヒーレンス長が長大になるバイアス電圧の存在を示した。
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