| 研究課題/領域番号 |
17550082
|
|---|
| 研究種目 |
基盤研究(C)
|
| 配分区分 | 補助金 |
|---|
| 応募区分 | 一般 |
|---|
| 研究分野 |
分析化学
|
|---|
| 研究機関 | 大阪府立大学 |
|---|
研究代表者 |
渡辺 巖 (渡邊 巖) 大阪府立大学, 理学系研究科, 教授 (50028239)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2005 – 2006
|
| 研究課題ステータス |
完了 (2006年度)
|
| 配分額 *注記 |
2,900千円 (直接経費: 2,900千円)
2006年度: 1,100千円 (直接経費: 1,100千円)
2005年度: 1,800千円 (直接経費: 1,800千円)
|
|---|
| キーワード | XAFS / 気液界面 / 全反射X線吸収分光 / 単分子膜 / 金属錯体の配向 |
|---|
| 研究概要 |
水溶液表面に吸着する界面活性イオンやその対イオンの特異な挙動を知ることは、界面コロイド化学の分野において基礎的に重要であるのみではなく、界面での濃縮現象を利用した分析化学、相間移動触媒を用いる有機化学反応、LB膜合成、大気圏における微小水滴表面での光化学反応などなどの広い研究分野にとっても重要なものである。しかし、吸着分子やイオンが動的にバルク溶液と入れ替わっている柔軟な気液界面に対して、その構造化学的研究手段はほとんど存在しなかったと言える。この気液界面に存在するイオン、分子の溶媒和構造解析を目的として全反射X線吸収分光法を開発した。全反射法の導入により表面に敏感となり、しかもXAFS解析法の適用により、単なる気液界面での吸着量の定量分析ではなく、水面に吸着するイオンの溶媒和構造までも知ることができるようになった。
水面でX線を全反射させるには入射角度を極めて小さくする必要があり、そのために本分光法を用いた実験は高輝度平行光であるシンクロトロン放射光を使用しなければならない。そこで、高エネルギー加速器研究機構:フォトン・ファクトリー、および高輝度光科学研究センター:スプリング8にて実験を行った。さらに偏光分光測定により、水面吸着平面錯体の水面に対する配向角度まで容易に知ることができるようになった。
得られた成果は、ふたつに大別できる。(1)界面活性陽イオンに吸着して気液界面に集積する臭化物イオンの表面濃度の決定とその溶媒和構造の解析。(2)水面吸着亜鉛ポルフィリン錯体の水面に対する配向角度の決定および水面で生成した単分子層銅イミダゾール錯体の構造解析。
|
