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ナノサイズ薄膜の強度支配因子は何か?

研究課題

研究課題/領域番号 17560071
研究種目

基盤研究(C)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 機械材料・材料力学
研究機関徳島大学

研究代表者

英 崇夫  徳島大学, 大学院ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (20035637)

研究分担者 日下 一也  徳島大学, 大学院ソシオテクノサイエンス研究部, 助手 (70274256)
研究期間 (年度) 2005 – 2006
研究課題ステータス 完了 (2006年度)
配分額 *注記
3,500千円 (直接経費: 3,500千円)
2006年度: 900千円 (直接経費: 900千円)
2005年度: 2,600千円 (直接経費: 2,600千円)
キーワード薄膜 / ナノサイズ / Al膜 / Cu膜 / 残留応力 / 熱応力 / 熱サイクル試験 / ストレスマイグレーション / Cu薄膜 / Al薄膜 / 保護膜
研究概要

マイクロマシンなど微小機械の製作には,基板への蒸着とエッチング加工が基本になり,また薄膜蒸着も単層膜から多層膜に移り,マシンの構造自体が複雑な3次元構造になっている。これらの膜には成膜の条件により基本的に大きい残留応力が生成されることが分かっており,この残留応力が微小機械部品に対して形状変化をもたらす要因になっている。また,微小機械においてはそれを構成する材料の強度が基本的に重要であり,薄膜の強度特性を調べることが課題になっている。薄膜においてはストレスマイグレーションとよばれる現象があり,内部応力の変化による原子の移動が薄膜の強度低下を支配している。膜をナノサイズにすることおよび多層膜にすることで薄膜の強度改善の可能性がある。
本研究では熱酸化Si基板に堆積したマイクロメートル以下の厚さのAl薄膜およびCu/AlN積層膜の熱サイクル過程におけるAl膜およびCu膜の内部応力の変化挙動をシンクロトロン放射光により測定し,以下の知見を得た。
(1)熱酸化Si基板上に堆積した10,20および50nmのAl膜の内部応力は加熱過程で圧縮方向に,冷却過程で引張方向に変化し,その変化の様子は室温から300℃の範囲で温度に対して直線的に変化する。Al膜は,ナノサイズ化することで強度が上昇することが確認できた。
(2)熱酸化Si基板に100nmのCu膜および500nmのAlN膜を交互に積層した膜のCu層の応力は,第1サイクルの加熱過程では温度に対して非線形挙動を示すが,その後の冷却過程および第2サイクルの過程では直線的な挙動を示す。Alと同様に弾性変形であり,積層化によりCu膜も強度上昇が認められた。

報告書

(3件)
  • 2006 実績報告書   研究成果報告書概要
  • 2005 実績報告書
  • 研究成果

    (7件)

すべて 2006 2005

すべて 雑誌論文 (7件)

  • [雑誌論文] Thermal stress behavior in nano-size thin aluminum films2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hanabusa, K.Kusaka, S.Shingubara, O.Sakata
    • 雑誌名

      International Journal of Modern Physics B Vol. 20 No. 25, 26 & 27

      ページ: 4691-4696

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Thermal stress behavior in nano-size thin aluminum films2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hanabusa, K.Kusaka, S.Shingubara, O.Sakata
    • 雑誌名

      International Journal of Modern Physics B 20-25 26 & 27

      ページ: 4691-4696

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Thermal stress behavior in nano-size thin aluminum films2006

    • 著者名/発表者名
      T.Hanabusa, K.Kusaka, S.Shingubara, O.Sakata
    • 雑誌名

      International Journal of Modern Physics B Vol.20 No.25,26&27

      ページ: 4691-4696

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] In-situ observation of thermal stress in nano-size thin aluminum films2005

    • 著者名/発表者名
      T.Hanabusa, K.Kusaka, S.Shingubara, O.Sakata
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol. 490-491

      ページ: 577-582

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Residual stress measurement in sputtered copper thin films by synchrotron radiation and ordinary X-rays2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hataya, T.Hanabusa, K.Kusaka, K.Tominaga, T.Matsue, O.Sakata
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol. 490-491

      ページ: 661-666

    • 説明
      「研究成果報告書概要(和文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] In-situ observation of thermal stress in nano-size thin aluminum films2005

    • 著者名/発表者名
      T.Hanabusa, K.Kusaka, S.Shingubara, O.Sakata
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol.490-491

      ページ: 577-582

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要
  • [雑誌論文] Residual stress measurement in sputtered copper thin films by synchrotron radiation and ordinary X-rays2005

    • 著者名/発表者名
      M.Hataya, T.Hanabusa, K.Kusaka, K.Tominaga, T.Matsue, O.Sakata
    • 雑誌名

      Materials Science Forum Vol.490-491

      ページ: 661-666

    • 説明
      「研究成果報告書概要(欧文)」より
    • 関連する報告書
      2006 研究成果報告書概要

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公開日: 2005-04-01   更新日: 2025-11-20  

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