| 研究課題/領域番号 |
17560273
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
電力工学・電気機器工学
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| 研究機関 | 福岡大学 |
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研究代表者 |
西嶋 喜代人 福岡大学, 工学部, 教授 (40117205)
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| 研究分担者 |
生澤 泰二 福岡大学, 工学部, 助手 (10131806)
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| 研究期間 (年度) |
2005 – 2006
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| 研究課題ステータス |
完了 (2006年度)
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| 配分額 *注記 |
3,600千円 (直接経費: 3,600千円)
2006年度: 1,400千円 (直接経費: 1,400千円)
2005年度: 2,200千円 (直接経費: 2,200千円)
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| キーワード | 電力工学 / 誘電体物性 / 帯電制御 / 電気絶縁 / パルスレーザ |
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| 研究概要 |
複合高電界ギャップの電気絶縁性能に与える帯電電荷の効果について検討した。二つ主な研究は、電気絶縁性能が誘電体表面帯電と浮遊金属粒子帯電でどのような影響を受けるか調べた。得られた主な結果は次のようなものである。
(1)直径を32cmまで変化したアクリル円板表面での帯電電荷分布は、アクリル円板直径と帯電用直流コロナ放電の印加電圧と極性に依存する。
(2)円形帯電電荷分布の中心部での電荷の自然減衰率が大きく、周辺部より中心部で電荷量が低下することを見出している。
(3)帯電電荷と逆極性の電圧を印加した場合、放電開始電圧が極めて減少する。
(4)準平等直流高電界ギャップに微小金属流粒子を挿入した場合、粒子の電界強化と粒子の帯電による電気絶縁性能の低下を確認した。
(5)火花破壊直前で金属粒子は100〜800pC帯電している。
(6)帯電を考慮したモデル数値解析により、異常に低下する火花破壊電圧を評価可能であることを示している。
これらの結果から、交流電圧印加において帯電電荷が顕著な火花破壊電圧の低下を招く可能性が明らかになった。
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