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高信頼ソフトウェアを実現する強力なテストケース生成手法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 17700033
研究種目

若手研究(B)

配分区分補助金
研究分野 ソフトウエア
研究機関大阪大学

研究代表者

土屋 達弘  大阪大学, 情報科学研究科, 准教授 (30283740)

研究期間 (年度) 2005 – 2007
研究課題ステータス 完了 (2007年度)
配分額 *注記
2,000千円 (直接経費: 2,000千円)
2007年度: 500千円 (直接経費: 500千円)
2006年度: 800千円 (直接経費: 800千円)
2005年度: 700千円 (直接経費: 700千円)
キーワード組み合わせテスト / ペアワイズ法 / 全ペア法 / ソフトウェアテスト / 組合わせテスト / JUnit
研究概要

本研究では,ソフトウェア開発におけるテスト工程の効率化を目的として,ペアワイズ法に基づいた不具合検出能力の高い,強力なテストケースの設計手法の研究・開発を行った.
まず,昨年度から研究を行ってきた,テストケース実行のためのオーバヘッドを考慮したテスト生成法を完成させると共に,その定量的評価を行った.ここで実行のためのオーバヘッドとは,新しいテストケース実行の際に生じるコストのことである.例えば,プリンタや複写機のテストでは,テストケースの実行の際に,用紙トレイや印刷対象の大きさなどを設定することが必要だが,そのためのコストをモデル化したものと考えることができる.提案した生成法は2種類ある.一つは,グリーディー法と呼ばれる良いテストケースを一つずつ求めていく手法の拡張である.もう一つは,既存手法で得られたテストケースの集合に対し,実行のオーバヘッドが少なくなるよう,それらをスケジュールするという手法である.実験の結果,後者の手法の方が,オーバヘッドの少ないテストを比較的安定して生成することが分かった.
更に,これまでの研究成果を総括する意味で,本課題にて実施した研究を含む,ペアワイズ法に関連した研究の体系化を行った.この結果はサーベイ論文の形で,電子情報通信学会論文誌において発表した.具体的には,約60の関連研究を精査し,それらをテストケースの生成法に基づいて分類した.また,実用の助けになるように,これまで知られている実際のシステムへの適用結果に関しても概説し,適用上の陥穽についても議論した.

報告書

(3件)
  • 2007 実績報告書
  • 2006 実績報告書
  • 2005 実績報告書
  • 研究成果

    (5件)

すべて 2007 2006 2005

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 1件) 図書 (1件)

  • [雑誌論文] ペアワイズテストーソフトウェアテストの効率化を求めて2007

    • 著者名/発表者名
      土屋達弘, 菊野亨
    • 雑誌名

      電子情報通信学会論文誌D J90-D, 10

      ページ: 26632674-26632674

    • NAID

      110007380575

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] テスト実行コストを考慮したペアワイズテストセット生成法の提案,2007

    • 著者名/発表者名
      紀本眞, 土屋達弘, 菊野亨
    • 雑誌名

      電子情報通信学会技術研究報告 107,255

      ページ: 4750-4750

    • NAID

      110006452280

    • 関連する報告書
      2007 実績報告書
  • [雑誌論文] Model Checking Active Database Rules under Various Rule Processing Strategies2006

    • 著者名/発表者名
      Eun-Hye Choi, Tatsuhiro Tsuchiya, Tohru Kikuno
    • 雑誌名

      情報処理学会論文誌(トランザクション)データベース 47・SIG19

      ページ: 14-27

    • NAID

      130000022278

    • 関連する報告書
      2006 実績報告書
  • [雑誌論文] Describing and Verifying Integrated Services of Home Network Systems2005

    • 著者名/発表者名
      P.Leelaprute, M.Nakamura, T.Tsuchiya, K.Matsumoto, T.Kikuno
    • 雑誌名

      Proc.10th Asia-Pacific Software Engineering Conference (APSEC2005) ISSN:1530-1362

      ページ: 549-558

    • NAID

      120006693741

    • 関連する報告書
      2005 実績報告書
  • [図書] ディペンダブルシステム-高信頼システム実現のための耐故障・検証・テスト技術-2005

    • 著者名/発表者名
      米田友洋, 梶原誠司, 土屋達弘
    • 総ページ数
      243
    • 出版者
      共立出版
    • 関連する報告書
      2005 実績報告書

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公開日: 2005-04-01   更新日: 2016-04-21  

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