| 研究概要 |
Reed-Solomon(RS)積符号に対する逐次型復号法が提案されている.この復号法の内部では,計算量の小さい限界距離復号法(BDD)を複数回用いる軟値入出力逐次型限界距離復号法(IBDD)が構成RS符号に対して用いられている.出力軟値は,IBDD内部で生成された候補符号語集合によって算出され,次段のIBDDの入力軟値系列として受け渡されている.BDDの入力系列は,IBDDの入力軟値系列の硬判定系列と非常に簡単な方法で予め生成されたテスト系列集合の和によって与えられる.IBDDの誤り制御特性はテスト系列集合により,出力軟値の質は生成される候補符号語数により多大な影響を受けることが計算機模擬によって示されている.そこで本研究では,最初にテスト系列集合の選択方法の提案を行った.提案方法では,予め,候補テスト系列集合を構成し,計算機模擬によって各候補テスト系列に対して評価値を与え,評価値の高いテスト系列を必要数選択する.提案手法を用いたIBDDは,従来型IBDDよりもほぼ同じ復号複雑度で優れた誤り制御特性を持つ事を計算機模擬によって示した.次に,良質の出力軟値を得る為に新たな復号法の提案を行った.BDDは最大1個の候補符号語しか生成しない事よりIBDDで生成される候補符号語最大数は,BDDの繰り返し回数である.しかし実際に生成される候補符号語数は非常に少ない.そこでBDDよりも1シンボル誤り訂正能力の高い限界距離+1復号法(BDD+1)を用いる逐次型限界距離+1復号法(IBDD+1)を対象とした.BDD+1は,BDDよりも復号複雑度は大きいが,誤り訂正能力が高く,多くの候補符号語を生成する.従来型IBDDのテスト系列集合を用いたIBDD+1では,非常に多数の候補符号語が生成され,従来型IBDDよりも非常に良質な出力軟値が生成される事を計算機模擬によって示した.
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