| 研究課題/領域番号 |
17H03065
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
高分子化学
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| 研究機関 | 名古屋工業大学 |
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研究代表者 |
山本 勝宏 名古屋工業大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (30314082)
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| 研究分担者 |
高木 秀彰 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 特別技術専門職 (10720261)
清水 伸隆 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 教授 (20450934)
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| 研究期間 (年度) |
2017-04-01 – 2020-03-31
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| 研究課題ステータス |
完了 (2019年度)
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| 配分額 *注記 |
14,560千円 (直接経費: 11,200千円、間接経費: 3,360千円)
2019年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
2018年度: 2,470千円 (直接経費: 1,900千円、間接経費: 570千円)
2017年度: 9,620千円 (直接経費: 7,400千円、間接経費: 2,220千円)
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| キーワード | 小角X線散乱 / 有機薄膜 / テンダーX線 / 蛍光X線分析 / 斜入射小角X線散乱 / 高分子 / 放射光 / 高分子薄膜 / 薄膜 / ブロック共重合体 / 吸収端 / 斜入射小角散乱 / 蛍光分析 / 高分子構造・物性 / 相分離構造 |
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| 研究成果の概要 |
有機薄膜の構造解析手法の一つとしである微小角入射X線小角散乱法が広く利用されている。本研究では、より幅広い波長領域のX線利用によって、得られる構造情報が多様化させられる。単なる膜全体の平均構造解析のみならず、膜の厚み方向への空間分解能の向上、特定元素の吸収端近傍のX線利用による標的元素の空間分布解析、さらに蛍光X線分析法を組み合わせた手法を新たに開発した。これにより多成分混合系薄膜（有機、無機、金属など）の表面近傍から内部方向への空間的構造不均一性を観察する手法を確立した。これらの成果によって薄膜の構造形成機構の解明とその構造と機能の相関解明につながる研究を進展させられる。
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| 研究成果の学術的意義や社会的意義 |
薄膜の内部構造や、表面・界面といった微小・局所領域の構造・物性はバルクのそれらとは全く異なり、高付加価値材料創製には、薄膜の構造および構造形成・配向化、表（界）面の構造・物性の理解が極めて重要である。さらに蛍光X線分析との併用利用によって多成分からなる薄膜におけるそれらの空間的分布の時間・空間的構造解析を可能とすることが期待できようになった。有機-無機、有機-金属を含め多成分複合系薄膜は有機薄膜太陽電池、量子ドットや金属ナノ構造体の創製テンプレート、選択分離・透過膜などはライフサイエンスや先端ナノテクノロジーを支える重要な材料の詳細な構造解析がかのとなることで、高付加価値材料設計が可能となる。
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