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layer transferによる高移動度材料3次元集積CMOSの精密構造制御

研究課題

研究課題/領域番号 17H06148
研究種目

基盤研究(S)

配分区分補助金
研究分野 電子・電気材料工学
研究機関東京大学

研究代表者

高木 信一  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授 (30372402)

研究分担者 前田 辰郎  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 研究主幹 (40357984)
入沢 寿史  国立研究開発法人産業技術総合研究所, エレクトロニクス・製造領域, 主任研究員 (40759940)
研究期間 (年度) 2017-05-31 – 2022-03-31
研究課題ステータス 完了 (2021年度)
配分額 *注記
206,570千円 (直接経費: 158,900千円、間接経費: 47,670千円)
2021年度: 33,540千円 (直接経費: 25,800千円、間接経費: 7,740千円)
2020年度: 32,240千円 (直接経費: 24,800千円、間接経費: 7,440千円)
2019年度: 34,710千円 (直接経費: 26,700千円、間接経費: 8,010千円)
2018年度: 39,910千円 (直接経費: 30,700千円、間接経費: 9,210千円)
2017年度: 66,170千円 (直接経費: 50,900千円、間接経費: 15,270千円)
キーワードMOSFET / ゲルマニウム / III-V族化合物半導体 / 3次元集積 / 移動度 / 結晶ひずみ / Ge / III-V / III-V族半導体 / III-V半導体
研究成果の概要

smart cut法・epitaxial lift-off法・酸化濃縮法を用いて、Si基板上に高品質のIII-V-OI及びGOI構造を形成し、ディジタル・エッチングにより10nm以下の極薄膜III-V-OI nMOSFETとGOI nMOSFET/pMOSFETを実現して、歪みや面方位等の最適化により、世界最高移動度を実現した。また、低抵抗のメタルソース・ドレイン形成とその評価法、低界面準位を実現するMOS界面制御手法を提案し、Si基板上III-V/Ge 3次元積層CMOS作製の要素技術を構築した。

研究成果の学術的意義や社会的意義

継続的CMOSスケーリングとSi基板上の異種材料集積を用いたLSIシステムを可能にする、Si基板上のIII-V半導体やGe薄膜形成技術、高品質MOSFET作製技術を提供した。また、極薄膜チャネルMOSFETのキャリア輸送特性を明確にして、その決定機構を定量的に明らかにし、材料設計や素子設計上の指針を与えると共に、更なる性能向上のための新しいチャネルエンジニアリング手法を提案した。

評価記号
検証結果 (区分)

A

評価記号
評価結果 (区分)

A+: 当初目標を超える研究の進捗があり、期待以上の成果が見込まれる

報告書

(11件)
  • 2022 研究進捗評価(検証) ( PDF )
  • 2021 実績報告書   研究成果報告書 ( PDF )
  • 2020 実績報告書   研究概要(研究進捗評価) ( PDF )   研究進捗評価(評価結果) ( PDF )
  • 2019 実績報告書
  • 2018 実績報告書
  • 2017 研究概要(採択時) ( PDF )   審査結果の所見 ( PDF )   実績報告書
  • 研究成果

    (212件)

すべて 2022 2021 2020 2019 2018 2017

すべて 雑誌論文 (48件) (うち国際共著 4件、 査読あり 48件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (164件) (うち国際学会 74件、 招待講演 44件)

  • [雑誌論文] Effective Mobility Enhancement Through Asymmetric Strain Channels on Extremely-Thin Body (100) GOI pMOSFETs2022

    • 著者名/発表者名
      C.-T. Chen, K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 69 号: 1 ページ: 25-30

    • DOI

      10.1109/ted.2021.3130221

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Optimum Channel Design of Extremely-Thin-Body nMOSFETs by Utilizing Anisotropic Valley -Robust to Surface Roughness Scattering2022

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, C.-T. Chen, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 69 号: 4 ページ: 2115-2121

    • DOI

      10.1109/ted.2022.3143484

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Introduction of high tensile strain in Ge-on-Insulator structures by oxidation and annealing at high temperature2022

    • 著者名/発表者名
      X. Han, C.-T. Chen, C.-M. Lim, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 61 号: SC ページ: SC1027-SC1027

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac4075

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Low thermal budget epitaxial lift off (ELO) for Ge (111)-on-insulator structure2022

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, H. -W. Wan, Yi. -T. Cheng, Y. -H. G. Lin, T. Irisawa, H Ishii, J. Kwo, M. Hong, and T. Maeda
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 61 号: SC ページ: SC1024-SC1024

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ac3fca

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Surface reaction via cyclic HI and O2 plasma treatments for Ge digital dry etching2022

    • 著者名/発表者名
      H. Ishii, W. H. Chang, H. Ishii, M. Ke, and T. Maeda
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 61

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] 転写技術を用いたSi基板上の表面照射型InGaAs PhotoFETsによる赤外線検出2021

    • 著者名/発表者名
      OISHI Kazuaki、ISHII Hiroyuki、CHANG Wen-Hsin、SHIMIZU Tetsuji、ISHII Hiroto、FUJISHIRO Hiroki、ENDOH Akira、MAEDA Tatsuro
    • 雑誌名

      表面と真空

      巻: 64 号: 2 ページ: 74-79

    • DOI

      10.1380/vss.64.74

    • NAID

      130007985482

    • ISSN
      2433-5835, 2433-5843
    • 年月日
      2021-02-10
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Proposal and experimental demonstration of ultrathin-body (111) InAs-on-insulator nMOSFETs with L valley conduction2021

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 68 号: 4 ページ: 2003-2009

    • DOI

      10.1109/ted.2021.3049455

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electrical properties of ultra-thin body (111) Ge on-insulator n-channel MOSFETs fabricated by smart-cut process2021

    • 著者名/発表者名
      C.-M. Lim, Z. Zhao, K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE J. Electron Device Society

      巻: 9 ページ: 612-617

    • DOI

      10.1109/jeds.2021.3085981

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impacts of Equivalent Oxide Thickness Scaling of TiN/Y2O3 Gate Stacks With Trimethylaluminum Treatment on SiGe MOS Interface Properties2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Electron Device Letters

      巻: 42 号: 7 ページ: 966-969

    • DOI

      10.1109/led.2021.3081513

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Re-examination of effects of ALD high-k materials on defects reduction in SiGe metal-oxide-semiconductor interfaces2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 11 号: 8 ページ: 08502116-08502116

    • DOI

      10.1063/5.0061573

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著
  • [雑誌論文] Evaluation of interface traps inside the conduction band of InAs-On-Insulator nMOSFET by self-consistent Hall-QSCV method2021

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 119 号: 10 ページ: 103501-103501

    • DOI

      10.1063/5.0057182

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] High and broadband sensitivity front- side illuminated InGaAs photo field- effect transistors (photoFETs) with SWIR transparent conductive oxide (TCO) gate2021

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, K. Ohishi, H. Ishii, W. H. Chang, T. Shimizu, A. Endo, H. Fujisiro and T. Koida
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 119 号: 19 ページ: 192101-192101

    • DOI

      10.1063/5.0065776

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Optical study of electron and acoustic phonon confinement in ultrathin-body germanium-on-insulator nanolayers2021

    • 著者名/発表者名
      V. Poborchii, J. Groenen, P. I. Geshev, J. Hattori, W. H. Chang, H. Ishii, T. Irisawa, and T. Maeda
    • 雑誌名

      Nanoscale

      巻: 13 号: 21 ページ: 9686-9697

    • DOI

      10.1039/d1nr01355f

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Layer Transfer Technology for Stacked Multi-Channel Semiconductor-on-Insulator Platform2021

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T.-Z. Hong, P.-J. Sung, T. Irisawa, H. Ishii1, Y.-J. Lee and T. Maeda
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 102(4) 号: 4 ページ: 17-26

    • DOI

      10.1149/10204.0017ecst

    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Accurate evaluation of specific contact resistivity between InAs/Ni?InAs alloy using a multi-sidewall transmission line method2020

    • 著者名/発表者名
      Sumita Kei、Kato Kimihiko、Takeyasu Jun、Toprasertpong Kasidit、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 59 号: SG ページ: SGGA08-SGGA08

    • DOI

      10.35848/1347-4065/ab6cb3

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Metal?oxide?semiconductor interface properties of TiN/Y2O3/Si0.62Ge0.38 gate stacks with high temperature post-metallization annealing2020

    • 著者名/発表者名
      Lee Tsung-En、Ke Mengnan、Kato Kimihiko、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 127 号: 18 ページ: 185705-185705

    • DOI

      10.1063/1.5144198

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Evaluation of polarization characteristics in metal/ferroelectric/semiconductor capacitors and ferroelectric field-effect transistors2020

    • 著者名/発表者名
      K. Toprasertpong, K. Tahara, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 116 号: 24 ページ: 242903-242903

    • DOI

      10.1063/5.0008060

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Operation of (111) Ge-on-Insulator n-Channel MOSFET Fabricated by Smart-Cut Technology2020

    • 著者名/発表者名
      Lim Cheol-Min、Zhao Ziqiang、Sumita Kei、Toprasertpong Kasidit、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      IEEE Electron Device Letters

      巻: 41 号: 7 ページ: 985-988

    • DOI

      10.1109/led.2020.2999777

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Influence of layer transfer and thermal annealing on the properties of InAs-On-Insulator films2020

    • 著者名/発表者名
      Sumita K.、Takeyasu J.、Toprasertpong K.、Takenaka M.、Takagi S.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 128 号: 1 ページ: 015705-015705

    • DOI

      10.1063/5.0007978

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Reduction of MOS Interface Defects in TiN/Y?O?/Si?.??Ge?.?? Structures by Trimethylaluminum Treatment2020

    • 著者名/発表者名
      Lee Tsung-En、Ke Mengnan、Toprasertpong Kasidit、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 67 号: 10 ページ: 4067-4072

    • DOI

      10.1109/ted.2020.3014563

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Improved Ferroelectric/Semiconductor Interface Properties in Hf0.5Zr0.5O2 Ferroelectric FETs by Low-Temperature Annealing2020

    • 著者名/発表者名
      K. Toprasertpong, K. Tahara, T. Fukui, Z. Lin, K. Watanabe, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Electron Device Lett.

      巻: 41 号: 10 ページ: 1588-1591

    • DOI

      10.1109/led.2020.3019265

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] InGaAs photo field-effect-transistors (PhotoFETs) on half-inch Si wafer using layer transfer technology2020

    • 著者名/発表者名
      Maeda Tatsuro、Ishii Hiroyuki、Chang Wen Hsin、Shimizu Tetsuji、Ishii Hiroto、Ohishi Kazuaki、Endoh Akira、Fujishiro Hiroki
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 59 号: SG ページ: SGGE03-SGGE03

    • DOI

      10.7567/1347-4065/ab5b44

    • NAID

      210000157638

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Performance and reliability improvement in Ge(100) nMOSFETs through channel flattening process2020

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, W. Mizubayashi, H. Ishii, and T. Maeda
    • 雑誌名

      Solid-State Electronics

      巻: 169 ページ: 107816-107816

    • DOI

      10.1016/j.sse.2020.107816

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] (Invited) Epitaxial Growth of Ge/III-V Films and Hetero-Layer Lift-off for Ultra-Thin GeOI Fabrication2020

    • 著者名/発表者名
      Maeda Tatsuro、Irisawa Toshifumi、Ishii Hiroyuki、Chang Wen Hsin
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 98 号: 5 ページ: 157-167

    • DOI

      10.1149/09805.0157ecst

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Spectral Responsivity Characteristics of Front‐Side Illumination InGaAs PhotoFETs on Si2020

    • 著者名/発表者名
      O. Ohishi, H. Ishii, W. H. Chang, H. Ishii, A. Endo, H. Fujisiro and T. Maeda
    • 雑誌名

      Phys. Status Solidi A

      巻: 218(3) 号: 3

    • DOI

      10.1002/pssa.202000439

    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of hydrogen ion implantation dose on physical and electrical properties of Ge-on-insulator layers fabricated by the smart-cut process2020

    • 著者名/発表者名
      Lim C.-M.、Zhao Z.、Sumita K.、Toprasertpong K.、Takenaka M.、Takagi S.
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 10 号: 1 ページ: 015045-015045

    • DOI

      10.1063/1.5132881

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Fabrication of thin body InAs-on-insulator structures by Smart Cut method with H+ implantation at room temperature2019

    • 著者名/発表者名
      Sumita Kei、Kato Kimihiko、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SB ページ: SBBA03-SBBA03

    • DOI

      10.7567/1347-4065/aafa68

    • NAID

      210000135316

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electrical characteristic of atomic layer deposition La2O3/Si MOSFETs with ferroelectric-type hysteresis2019

    • 著者名/発表者名
      Endo Kiyoshi、Kato Kimihiko、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 58 号: SB ページ: SBBA05-SBBA05

    • DOI

      10.7567/1347-4065/aafecf

    • NAID

      210000135409

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Slow Trap Properties and Generation in Al2O3/GeOx/Ge MOS Interfaces Formed by Plasma Oxidation Process2019

    • 著者名/発表者名
      Ke Mengnan、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      ACS Applied Electronic Materials

      巻: 1 号: 3 ページ: 311-317

    • DOI

      10.1021/acsaelm.8b00071

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of metal gate electrodes on electrical properties of Y2O3/Si0.78Ge0.22 gate stacks2019

    • 著者名/発表者名
      Lee T.-E.、Kato K.、Ke M.、Toprasertpong K.、Takenaka M.、Takagi S.
    • 雑誌名

      Microelectronic Engineering

      巻: 214 ページ: 87-92

    • DOI

      10.1016/j.mee.2019.05.005

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Re-examination of effects of sulfur treatment on Al2O3/InGaAs metal-oxide-semiconductor interface properties2019

    • 著者名/発表者名
      Yoon S.-H.、Kato K.、Yokoyama C.、Ahn D.-H.、Takenaka M.、Takagi S.
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: 126 号: 18 ページ: 184501-184501

    • DOI

      10.1063/1.5111630

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Reduction of Slow Trap Density in Al2O3/GeO x N y /n-Ge MOS Interfaces by PPN-PPO Process2019

    • 著者名/発表者名
      Ke Mengnan、Takenaka Mitsuru、Takagi Shinichi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 66 号: 12 ページ: 5060-5064

    • DOI

      10.1109/ted.2019.2948074

    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of SiGe Layer Thickness in Starting Substrates on Strained Ge-on-Insulator pMOSFETs Fabricated by Ge Condensation Method2019

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, W.-K. Kim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 114 号: 6 ページ: 062101-062101

    • DOI

      10.1063/1.5068713

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] InGaSb-on-insulator p-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors on Si fabricated by direct wafer bonding2019

    • 著者名/発表者名
      M. Yokoyama, H. Yokoyama, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 125 号: 11 ページ: 114501-114501

    • DOI

      10.1063/1.5049518

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Ultra-Low Power III-V-Based Mosfets and Tunneling FETs2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, D.-h. Ahn, T. Gotow, C. Yokoyama, C.-Y. Chang, K. Endo, K. Katoh and M. Takenaka
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 85 号: 8 ページ: 27-37

    • DOI

      10.1149/08508.0027ecst

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Pre-treatment Effects on high-k/InxGa1-xAs MOS Interface Properties and their Physical Model2018

    • 著者名/発表者名
      C. Yokoyama, C.-Y. Change, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Journal of the Electron Devices Society

      巻: 6 ページ: 487-493

    • DOI

      10.1109/jeds.2017.2760344

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書 2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of atomic layer deposition high k films on slow trap density in Ge MOS interfaces with GeOx interfacial layers formed by plasma pre-oxidation2018

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Journal of the Electron Devices Society

      巻: 6 ページ: 950-955

    • DOI

      10.1109/jeds.2018.2822758

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Relationship between interface state generation and substrate hole current in InGaAs metal-oxide-semiconductor (MOS) interfaces2018

    • 著者名/発表者名
      S.-H. Yoon, D.-H. Ahn, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 123 号: 23 ページ: 234502-234502

    • DOI

      10.1063/1.5031052

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Ultrathin-body Ge-On-Insulator MOSFET and TFET technologies2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, W.-K. Kim, K.-W. Jo, R. Matsumura, R. Takaguchi, T. Katoh, T.-E. Bae, K. Kato and M. Takenaka
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 86 号: 7 ページ: 75-86

    • DOI

      10.1149/08607.0075ecst

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Physical Mechanisms of Mobility Enhancement in Ultrathin Body GeOI pMOSFETs Fabricated by HEtero-Layer-Lift-Off Technology2018

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, N. Uchida and T. Maeda
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electron Devices

      巻: 66 号: 3 ページ: 1182-1188

    • DOI

      10.1109/ted.2019.2895349

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] High performance UTB GeOI n and pMOSFETs featuring HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) technology2018

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, H. Ota, H. Takagi, Y. Kurashima, N. Uchida, and T. Maeda
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 86 号: 10 ページ: 25-34

    • DOI

      10.1149/08610.0025ecst

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Ultra-thin germanium-tin on insulator structure through direct bonding technique2018

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Oka, M. Kurosawa, Y. Imai, O. Nakatsuka and N. Uchida
    • 雑誌名

      Semiconductor Science and Technology

      巻: 33 号: 12 ページ: 124002-124002

    • DOI

      10.1088/1361-6641/aae620

    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] MOS Interface Defect Control in Ge/IIIV Gate Stacks2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, M. Ke, C. Y. Chang, C. Yokoyama, M. Yokoyama, T. Gotow, K. Nishi, and M. Takenaka
    • 雑誌名

      ECS Transactions

      巻: 80 (1) 号: 1 ページ: 109-118

    • DOI

      10.1149/08001.0109ecst

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Impact of La2O3/InGaAs MOS Interfaces on the Performance of InGaAs MOSFETs2017

    • 著者名/発表者名
      C.-Y. Chang, C. Yokoyama, M. Takenaka, Member and S. Takagi
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 64 号: 6 ページ: 2519-2525

    • DOI

      10.1109/ted.2017.2696741

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Reduction of slow trap density of Al2O3/GeOx/n-Ge MOS interfaces by inserting ultrathin Y2O3 interfacial layers2017

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      Microelectronic Eng.

      巻: 178 ページ: 132-136

    • DOI

      10.1016/j.mee.2017.04.021

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Interface state generation of Al2O3/InGaAs MOS structures by electrical stress2017

    • 著者名/発表者名
      S. -H. Yoon, C.-Y. Chang, D. H. Ahn, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      Microelectronic Eng.

      巻: 178 ページ: 313-317

    • DOI

      10.1016/j.mee.2017.05.015

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] Modulation of sub-threshold properties of InGaAs MOSFETs by La2O3 gate dielectrics2017

    • 著者名/発表者名
      C.-Y. Chang, K. Endo, K. Kato, M. Takenaka and S. Takagi
    • 雑誌名

      AIP Advances

      巻: 7 号: 9 ページ: 095215-095215

    • DOI

      10.1063/1.4999958

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [雑誌論文] First Experimental Observation of Channel Thickness Scaling Induced Electron Mobility Enhancement in UTB-GeOI nMOSFETs2017

    • 著者名/発表者名
      W.-H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, H. Ota, H. Takagi, Y. Kurashima, N. Uchida, and T. Maeda
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 64 号: 11 ページ: 4615-4621

    • DOI

      10.1109/ted.2017.2756061

    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 査読あり
  • [学会発表] 先端ロジックCMOSのためのチャネル材料・デバイス技術2022

    • 著者名/発表者名
      高木信一
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―(第27回研究会)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] In2O3系近赤外域透明導電膜ゲートを用いた InGaAs PhotoFETsの動作実証2022

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―(第27回研究会)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 表面ラフネス散乱の新モデルに基づく極薄膜nMOSFETの最適なチャネル材料と面方位の設計2022

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, Chia-Tsong Chen, トープラサートポン カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM研究会/応用物理学会シリコンテクノロジー分科会共催1月研究会(IEDM特集)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 異種材料集積による最先端集積Siデバイス技術2022

    • 著者名/発表者名
      高木信一
    • 学会等名
      千葉エリア産官学公金共創イノベーションネットワーク第1回産官学公金マッチングシンポジウム
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 表面ラフネス散乱に対してロバストな極薄膜nMOSFETのチャネル材料と面方位の最適設計2022

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, Chia-Tsong Chen, トープラサートポン カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 液浸ラマン分光法による極薄膜GOI pMOSFETの異方性二軸応力評価2022

    • 著者名/発表者名
      横川凌, Chia-Tsong Chen, Kasidit Toprasertpong, 竹中充, 高木信一, 小椋厚志
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] HI/O2プラズマを用いた常温でのGeサイクルドライエッチングの検討2022

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] In2O3系近赤外域透明導電性酸化膜ゲートを用いた表面照射型InGaAs PhotoFETsの特性評価2022

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      第69回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Impact of asymmetric strain on performance of extremely-thin body (100) GOI and (110) SGOI pMOSFETs2021

    • 著者名/発表者名
      C. T. Chen, R. Yokogawa, K. Toprasertpong, A. Ogura, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      Symp. on VLSI technology
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Improvement of performance of Si0.8Ge0.2/SOI p-FinFETs by ultrathin Y2O3 gate stacks with TMA treatment2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, S.-T. Huang, C.-Y. Yang, K. Toprasertpong, M. Takenaka, Y.-J. Lee and S. Takagi
    • 学会等名
      53rd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Introduction of high tensile strain in Ge-on-Insulator structures by oxidation/annealing at high temperature2021

    • 著者名/発表者名
      X. Han, C.-T. Chen, C.-M. Lim, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      53rd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Anisotropic Strain States in Extremely-Thin Body Ge-on-Insulator p-type MOSFET Observed by Oil-immersion Raman Spectroscopy2021

    • 著者名/発表者名
      R. Yokogawa, C.-T. Chen, T. Kasidit, M. Takenaka, S. Takagi and A. Ogura
    • 学会等名
      53rd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Low Thermal Budget Epitaxial Lift Off for Ge (111)-on-Insulator Structure2021

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, H. -W. Wan, Yi. -T. Cheng, Y. -H. G. Lin, T. Irisawa, H Ishii, J. Kwo, M. Hong, and T. Maeda
    • 学会等名
      53rd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Advanced CMOS technologies for ultra-low power logic and AI applications2021

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, K. Toprasertpong, K. Kato, K. Sumita, E. Nako, R. Nakane, K.-w. Jo and M. Takenaka
    • 学会等名
      IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM) Conference
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Heterogeneous material integration by layer transfer technology2021

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda
    • 学会等名
      IEEE Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM) Conference
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] エピタキシャルリフトオフ(ELO)法によるGeOI(111)構造の作成2021

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, H. -W. Wan, Yi. -T. Cheng, Y. -H. G. Lin, T. Irisawa, H Ishii, J. Kwo, M. Hong, and T. Maeda
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 近赤外域透明導電性酸化膜ゲートによる表面照射型InGaAs PhotoFETs2021

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] ラフネスを有するチャネルにおける2次元電子ガスの基底状態の新たな定式化と表面ラフネス散乱移動度への影響2021

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, トープラサートポン カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] C-V測定によるAl2O3/GeOx/p-Ge MOS界面の電子とホールの遅い準位密度の評価2021

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Performance improvement of Si0.8Ge0.2/SOI p-FinFETs by ultrathin Y2O3 gate stacks with TMA treatment2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, S.-T. Huang, C.-Y. Yang, K. Toprasertpong, M. Takenaka, Y.-J. Lee, and S. Takagi
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Introduction of high tensile strain into Ge-on-Insulator structures by oxidation/annealing at high temperature2021

    • 著者名/発表者名
      X. Y. Han, C. T. Chen, C.-M Lim, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Hole mobility enhancement in extremely-thin body asymmetrically-strained (100) GOI pMOSFETs2021

    • 著者名/発表者名
      C. -T. Chen, R. Yokogawa, K. Toprasertpong, A. Ogura, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Asymmetrically-strained (110) SGOI pMOSFETs for hole mobility enhancement in extremely-thin body channels2021

    • 著者名/発表者名
      C. -T. Chen, R. Yokogawa, K. Toprasertpong, A. Ogura, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] 液浸ラマン分光法で観測されるGOI極薄膜ラマンスペクトルのブロードピークと歪の関係に関する考察2021

    • 著者名/発表者名
      横川凌, C.-T. Chen, K. Toprasertpong, 竹中充, 高木信一, 小椋厚志
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
  • [学会発表] Layer Transfer Technology for Stacked Multi-Channel Semiconductor-on-Insulator Platform2021

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T.-Z. Hong, P.-J. Sung, T. Irisawa, H. Ishii1, Y.-J. Lee and T. Maeda
    • 学会等名
      239th Electrochemical Society (ECS) Meeting
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Surface reaction via cyclic HI and O2 plasma treatments for Ge digital dry etching2021

    • 著者名/発表者名
      H. Ishii, W. H. Chang, H. Ishii, M. Ke, and T. Maeda
    • 学会等名
      34th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Optimum Design of Channel Material and Surface Orientation for Extremely-Thin-Body nMOSFETs under New Modeling of Surface Roughness Scattering2021

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, C.-T. Chen, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Electron Device Meeting (IEDM)
    • 関連する報告書
      2021 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] (111)面チャネルの薄膜化によるInAs-OI nMOSFETのサブバンド制御手法の提案と極薄膜(111) InAs-OI基板の実現2021

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 吉津遼平, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] (111) InAs-OI nMOSFETのチャネル薄膜化による移動度向上の実現と伝導帯内の界面準位の実験的評価2021

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 吉津遼平, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] HfO2系FeFETにおける結晶化アニール温度とSi界面特性のトレードオフ2021

    • 著者名/発表者名
      トープラサートポン・カシディット,田原建人,福井太一郎,林早ヨウ,渡辺耕坪,竹中充,高木信一
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] InAs/Ni-InAs間のコンタクト抵抗率とその評価法に関する実験的検討2021

    • 著者名/発表者名
      竹安淳, 隅田圭, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Defect control of Y2O3-based SiGe MOS interfaces properties2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Characterization of slow traps in MOS interfaces of TiN/Y2O3/SiGe gate stacks2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Characterization of slow traps in SiGe MOS interfaces by TiN/Y2O3 gate stacks2021

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 異種半導体材料の積層化およびデバイス集積化技術2021

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      第5回3次元積層半導体量子イメージセンサ研究会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] UTB-GeOI の量子化準位の顕微フォトリフレクタンス測定2021

    • 著者名/発表者名
      公平拓見、安武裕輔、張文馨、入沢寿史、石井裕之、前田辰郎、深津晋
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] 寄生抵抗を考慮した近赤外InGaAs PhotoFETsの感度評価2021

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      第68回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] [招待講演] チャネル薄膜化と(111)面方位の組み合わせによるInAs-On-Insulator nMOSFETのサブバンド制御2021

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, トープラサートポン カシディット, 竹中充, 高木 信一
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM研究会/応用物理学会シリコンテクノロジー分科会共催1月研究会(IEDM特集)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] InAs-On-Insulatorチャネルの極薄膜化と(111)面方位の組み合わせによるサブバンド制御を利用したnMOSFETの高性能化2021

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, トープラサートポン カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      電気学会電子デバイス研究会, 「高機能化合物半導体エレクトロニクス技術と将来システムへの応用」
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Asymmetric Polarization Response of Electrons and Holes in Si FeFETs: Demonstration of Absolute Polarization Hysteresis Loop and Inversion Hole Density over 2×1013 cm-22020

    • 著者名/発表者名
      K. Toprasertpong, Z. -Y. Lin, T. -E. Lee, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      Symposia on VLSI Technology
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 【招待講演】先端CMOSデバイスの研究動向2020

    • 著者名/発表者名
      高木信一
    • 学会等名
      東レリサーチセンター半導体デバイス分析セミナー2020
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Prospects and challenges of advanced CMOS logic devices2020

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi
    • 学会等名
      7th International conference on “Microelectronics, Circuits and Systems” (Micro2020)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] [招待講演]Si強誘電体FETにおける分極・電荷のカップリングとメモリ特性への影響2020

    • 著者名/発表者名
      トープラサートポン・カシディット, 林早ヨウ, 李宗恩, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      電子情報通信学会ICD/SDM/ ITE-IST研究会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Si強誘電体FETにおける強誘電分極に誘起される反転層電荷の振る舞い2020

    • 著者名/発表者名
      トープラサートポン・カシディット,林早ヨウ,李宗恩,竹中充,高木信一
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Impact of ALD high-k materials on SiGe MOS interface properties with TiN gate2020

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Thickness dependence of antiferroelectricity in ALD ultrathin ZrO2 films2020

    • 著者名/発表者名
      Xuan Luo, Kasidit Toprasertpong, Mitsuru Takenaka, Shinichi Takagi
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Critical Impact of Ferroelectric-Phase Formation Annealing on MFIS Interface of HfO2-Based Si FeFETs2020

    • 著者名/発表者名
      K. Toprasertpong, K. Tahara, T. Fukui, Z. Lin, K. Watanabe, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      52nd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Antiferroelectricity and cycling behavior of ALD ZrO2 ultra-thin films2020

    • 著者名/発表者名
      X. Luo, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      52nd International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Subband Engineering by Combination of Channel Tchikness Scaling and (111) Surface Orientation in InAs-On-Insulator nMOSFETs2020

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2020)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Revision of conductance method for evaluating interface state density at MFIS interfaces2020

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, Z. Lin, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      51th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] [招待講演] チャネル薄膜化と(111)面方位の組み合わせによるInAs-On-Insulator nMOSFETのサブバンド制御2020

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木 信一
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM研究会/応用物理学会シリコンテクノロジー分科会共催1月研究会(IEDM特集)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
  • [学会発表] InAs-On-Insulatorチャネルの極薄膜化と(111)面方位の組み合わせによるサブバンド制御を利用したnMOSFETの高性能化2020

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      電気学会電子デバイス研究会「高機能化合物半導体エレクトロニクス技術と将来システムへの応用」
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Advanced Layer Transfer Technology of post-Si Materials for Heterogeneous Integration2020

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, T. Irisawa, H. Ishii, and W. H. Chang
    • 学会等名
      4th IEEE Electron Device Technology and Manufacturing (EDTM) Conference 2020
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Performance and Reliability Improvement in Ge nMOSFETs with Different Surface Orientation through Channel Flattening Process2020

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, W. Mizubayashi, H. Ishii, and T. Maeda
    • 学会等名
      4th IEEE Electron Device Technology and Manufacturing (EDTM) Conference 2020
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Layer transfer technology for heterogeneous material integration2020

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda
    • 学会等名
      Symposia on VLSI Technology and Circuits, Short Course
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Si 基板上表面照射型 InGaAs PhotoFET の近赤外域分光感度特性2020

    • 著者名/発表者名
      大石和明、石井寛仁、張文馨、石井裕之、遠藤聡、藤代博記、前田辰郎
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Ultrathin-body GeOI における量子閉じ込め電子ラマン散乱2020

    • 著者名/発表者名
      公平拓見、安武裕輔、張文馨、入沢寿史、石井裕之、内田紀行、前田辰郎、深津晋
    • 学会等名
      第81回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
  • [学会発表] Epitaxial Growth of Ge/III-V Films and Hetero-Layer Lift-Off for Ultra-Thin GeOI Fabrication2020

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, T. Irisawa, H. Ishii, and W. H. Chang
    • 学会等名
      PRiME 2020 G03: SiGe, Ge, and Related Materials: Materials, Processing, and Devices 9
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 異種半導体転写によるヘテロジーニアスインテグレーション2020

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      SSISフォーラム(一般社団法人半導体産業人協会)
    • 関連する報告書
      2020 実績報告書 2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] First demonstration of (111) Ge-on-insulator n-channel MOSFET fabricated by smart-cut technology2020

    • 著者名/発表者名
      C.-M. Lim, Z. Zhao, K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 強誘電体FETのMOS界面における電荷分布の評価とデバイス動作の理解2020

    • 著者名/発表者名
      トープラサートポン・カシディット,竹中充,高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] InAs-On-Insulator基板の高品質化と貼り合わせ界面特性の評価2020

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 加藤公彦, 竹安淳, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Multi-Sidewall TLMを用いた精密なInAs/Ni-InAs間の接触抵抗率測定2020

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 竹安淳, 加藤公彦, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] プラズマ酸化により作製したAl2O3/GeOx/n-Ge MOS界面における遅い準位の特性2020

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] n-Ge MOS絶縁膜中の異なるキャリア捕獲トラップの峻別手法の提案2020

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] n-Ge MOS構造における異なる界面層へのキャリアトラップ特性の比較2020

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 酸化濃縮法により作製した圧縮ひずみ(110)面SiGe-OI pMOSFET2020

    • 著者名/発表者名
      曺光元、トープラサートポン・カシディット、竹中充、高木 信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 酸化濃縮法により作製したGOIを用いた引張りひずみGOI nMOSFET2020

    • 著者名/発表者名
      曺光元, 林澈敏, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] (001)GOI薄膜化によるnMOSFETの電子移動度向上機構に関する考察2020

    • 著者名/発表者名
      高木信一, 曺光元, 林澈敏, トープラサートポン・カシディット, 竹中充
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Improvement of ferroelectric properties of TiN/Hf0.5Zr0.5O2/Si gate stacks by the insertion of Al2O3 interfacial layers2020

    • 著者名/発表者名
      Z.-Y. Lin, T.-E. Lee, H.-Z. Tang, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 転写技術を用いたSi基板上の表面照射型InGaAs PhotoFETの実証2020

    • 著者名/発表者名
      大石和明,石井寛仁,張文馨, 石井裕之, 清水鉄司,遠藤聡, 藤代博記,前田辰郎
    • 学会等名
      「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Ge表面清浄プロセスを用いたY2O3/Ge pMOSFETsの作製と評価2020

    • 著者名/発表者名
      石井寛仁,張文馨, 石井裕之, 森田行則,遠藤聡, 藤代博記,前田辰郎
    • 学会等名
      「電子デバイス界面テクノロジー研究会 ―材料・プロセス・デバイス特性の物理―」 (第25回研究会)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Y2O3/Ge pMOSFETsにおけるGe表面清浄化プロセスの検討2020

    • 著者名/発表者名
      石井寛仁,張文馨, 石井裕之, 森田行則,遠藤聡, 藤代博記,前田辰郎
    • 学会等名
      SATテクノロジー・ショーケース2020
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Ultrathin-body GeOI の円偏光フォトルミネッセンス2020

    • 著者名/発表者名
      公平拓見、安武裕輔、張文馨、入沢寿史、石井裕之、内田紀行、前田辰郎、深津晋
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Geチャネル平坦化プロセスにおけるGe nMOSFETsの面方位依存性2020

    • 著者名/発表者名
      石井寛仁,張文馨, 入沢寿史, 石井裕之, 水林亘,前田辰郎
    • 学会等名
      第67回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Advanced Layer Transfer Technology of post-Si Materials for Heterogeneous Integration2020

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, T. Irisawa, H. Ishii, and W. H. Chang
    • 学会等名
      4th IEEE Electron Device Technology and Manufacturing (EDTM) Conference
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Performance and Reliability Improvement in Ge nMOSFETs with Different Surface Orientation through Channel Flattening Process2020

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, W. Mizubayashi, H. Ishii, and T. Maeda
    • 学会等名
      4th IEEE Electron Device Technology and Manufacturing (EDTM) Conference
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Advanced MOSFETs and TFETs using Alternative Semiconductors for Ultralow Power Logic Applications2019

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, K. Kato, K. Sumita, K.-W. Jo, R. Takaguchi, D.-H. Ahn, K. Toprasertpong, M. Takenaka
    • 学会等名
      MRS spring meeting, Symposium: EP09: Devices and Materials to Extend the CMOS Roadmap for Logic and Memory Applications
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Effects of thermal annealing on film quality of InAs-On-Insulator structures fabricated by Smart Cut method2019

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, J. Takeyasu, K. Kato, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      2019 Compound Semiconductor Week (CSW2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Improvement of SiGe MOS interface properties with a wide range of Ge contents by using TiN/Y2O3 gate stacks with TMA passivation2019

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Kato, M. Ke, M. Takenaka, and S. Takagi,
    • 学会等名
      Symposia on VLSI Technology
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Advanced MOS Device Technology for Low Power Logic LSI2019

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, K. Kato, K. Sumita, K.-w. Jo, C.-M. Lim, R. Takaguchi, D.-H. Ahn, J. Takeyasu, K. Toprasertpong and M. Takenaka
    • 学会等名
      26th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems (MIXDES)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] MOS interface defect control in alternative channel materials2019

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, M. Ke, D.-H Ahn, T.-E. Lee, S.-H. Yoon, K. Kato, K. Toprasertpong and M. Takenaka
    • 学会等名
      21st Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Impact of metal gate electrodes on electrical properties of Y2O3/Si0.78Ge0.22 gate stacks2019

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Kato, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      21st Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Re-examination of Sulfur treatment effects on Al2O3/InGaAs MOS interface properties2019

    • 著者名/発表者名
      S.-H. Yoon, K. Kato, C. Yokoyama, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      21st Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Effects of Hydrogen ion implantation dose on electrical and physical properties of (100) and (111) Ge-on-insulator substrates fabricated by Smart-cut process2019

    • 著者名/発表者名
      C.-M. Lim, Z. Zhao, K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      51th International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Accurate evaluation of contact resistivity between InAs/Ni-InAs alloy2019

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, J. Takeyasu, K. Kato, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      51th International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] (NH4)2S処理理前の前処理がAl2O3/InGaAs MOS界面に与える影響2019

    • 著者名/発表者名
      尹尚希, 加藤公彦, 横山千晶, 安大煥, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Improvement of Si0.78Ge0.22 MOS interface properties by using TiN/Y2O3 gate stacks with TMA passivation2019

    • 著者名/発表者名
      T. Lee, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Influence of hydrogen ion implantation dose on characteristics of Ge-on-insulator substrates fabricated by smart-cut technology2019

    • 著者名/発表者名
      C.-M. Lim, Z. Zhao, K. Sumita, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Smart Cut法により作製したInAs-On-Insulator基板への熱処理の影響2019

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 竹安淳, 加藤公彦, トープラサートポン・カシディット, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Performance enhancement of extremely-thin-body SiGe- or Ge-on-insulator pMOSFETs fabricated by Ge condensation2019

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, W.-K. Kim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] TiN/Hf0.5Zr0.5O2/Si MFSキャパシタの電気特性に与える基板タイプの影響2019

    • 著者名/発表者名
      トープラサートポン・カシディット,田原建人,福井太一郎,竹中充,高木信一
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Fabrication of high quality InAs-on-Insulator structures by Smart Cut process with reuse of InAs wafers2019

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, J. Takeyasu, K. Kato, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Importance of semiconductor MOS interface control on advanced electron devices2019

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, T.-E. Lee, M. Ke, S.-H. Yoon, D.-H Ahn, K. Kato, K. Toprasertpong and M. Takenaka
    • 学会等名
      International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices: Science and Technology (IWDTF)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Direct Observation of Interface Charge Behaviors in FeFET by Quasi-Static Split C-V and Hall Techniques: Revealing FeFET Operation2019

    • 著者名/発表者名
      K. Toprasertpong, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Strain and surface orientation engineering in extremely-thin body Ge and SiGe-on-insulator MOSFETs fabricated by Ge condensation2019

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, C.-M. Lim, W.-K. Kim, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2019)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Impact of atomic layer deposition high-k materials on Si0.78Ge0.22 MOS interface properties with TiN gate2019

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, K. Toprasertpong, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Contributions of electron and hole slow traps to hysteresis in C-V characteristics of Al2O3/GeOx/p-Ge MOS capacitors2019

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Germanium Layer Transfer with Low Temperature Direct Bonding and Epitaxial Lift-off Technique for Ge-based monolithic 3D integration2019

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, Y. Kurashima, H. Takagi and N. Uchida
    • 学会等名
      Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Impact of Channel Flattening Process on Device Performance of Ge nMOSFETs with Different Surface Orientations2019

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, N. Uchida and T. Maeda
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] InGaAs photo field-effect-transistors (PhotoFETs) on Half-inch Si Wafer Using Layer Transfer Technology2019

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, H. Ishii, W. H. Chang, T. Shimizu, H. Ishii, O. Ohishi, A. Endo and H. Fujisiro
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] モノリシック3次元CMOS集積に向けたGe-On-Insulator技術2019

    • 著者名/発表者名
      前田 辰郎, 張 文馨, 入沢 寿史, 石井 裕之, 倉島優一、髙木秀樹、内田 紀行
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 転写技術による表面照射型近赤外InGaAs PhotoFET の開発2019

    • 著者名/発表者名
      大石和明,石井寛仁,張文馨, 石井裕之, 清水鉄司,遠藤聡, 藤代博記,前田辰郎
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Ge清浄表面からのY2O3/Ge pMOSFETsの作製2019

    • 著者名/発表者名
      石井寛仁,張文馨, 石井裕之, 森田行則,遠藤聡, 藤代博記,前田辰郎
    • 学会等名
      第80回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] 高移動度半導体薄膜接合転写とデバイス応用2019

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      日本学術振興会 接合界面創成技術第191委員会第23回講演会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] デバイスの三次元化とその課題2019

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      日本学術振興会先端ナノデバイス・材料テクノロジー第151委員会第4回研究会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] 新しいⅣ族半導体のトランスファー&ビルトによる新機能集積技術2019

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      科学技術振興機構新技術説明会
    • 関連する報告書
      2019 実績報告書
  • [学会発表] Spin on Glassからの固相拡散によるGe中のn型不純物拡散挙動2019

    • 著者名/発表者名
      高口遼太郎,竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Impact of metal gate electrodes on electrical properties of Y2O3/Si0.78Ge0.22 gate stacks2019

    • 著者名/発表者名
      T. Lee, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Improvement of material quality of (100) and (111) Ge-on-insulator substrates fabricated by smart-cut technology2019

    • 著者名/発表者名
      C.-M. Lim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      3rd Electron Devices Technology and Manufacturing (EDTM) Conference
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] 性能限界を越えるCMOS デバイス技術2019

    • 著者名/発表者名
      高木信一
    • 学会等名
      名古屋大学シリコンフロンティア・特別研究会, ~特定領域研究『ポストスケール』から10年を超えて~
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Ultra-Low Power III-V-Based Mosfets and Tunneling FETs2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, D.-h. Ahn, T. Gotow, C. Yokoyama, C.-Y. Chang, K. Endo, K. Katoh and M. Takenaka
    • 学会等名
      233rd Electrochemical Society (ECS) Meeting, H02 - Advanced CMOS-Compatible Semiconductor Devices 18
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Hole mobility enhancement in extremely-thin-body strained GOI and SGOI pMOSFETs by improved Ge condensation method2018

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, W.-K. Kim, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      Symposia on VLSI Technology
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] MOS Device Technology using Alternative Channel Materials for Low Power Logic LSI2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, K. Kato, W.-K. Kim, K.-w. Jo, R. Matsumura, R. Takaguchi, D.-H. Ahn, T. Gotow and M. Takenaka
    • 学会等名
      48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Fabrication of InAs-on-Insulator structures by Smart Cut method with room temperature hydrogen implantation2018

    • 著者名/発表者名
      K. Sumita, K. Kato, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      2018 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] InGaAs nチャネルMOSFETにおける界面準位発生と基板ホール電流の関係2018

    • 著者名/発表者名
      尹尚希, 張志宇, 安大煥, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Impact of SiGe Layer Thickness in Starting Substrates on Properties of Ultrathin Body Ge-on-insulator pMOSFETs fabricated by Ge Condensation2018

    • 著者名/発表者名
      Kwang-Won Jo, Wu-Kang Kim, Mitsuru Takenaka and Shinichi Takagi
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Improvement of SiGe MOS Interfaces Properties by TiN/Y2O3 Gate Stacks2018

    • 著者名/発表者名
      T. Lee, K. Kato, M. Ke, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Ultrathin-body Ge-On-Insulator MOSFET and TFET technologies2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, W.-K. Kim, K.-W. Jo, R. Matsumura, R. Takaguchi, T. Katoh, T.-E. Bae, K. Kato and M. Takenaka
    • 学会等名
      AiMES 2018 (ECS and SMEQ Joint International Meeting), Symposium G03: SiGe, Ge, and Related Materials: Materials, Processing, and Devices
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] MOSトランジスタにおけるキャリアのフォノン散乱2018

    • 著者名/発表者名
      高木信一
    • 学会等名
      応用物理学会第212回シリコンテクノロジー分科会研究集会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Characterization and understanding of slow traps in GeOx-based n-Ge MOS interfaces2018

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, P. Cheng, K. Kato, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Correlation of interface state generation and InGaAs MOS interface properties2018

    • 著者名/発表者名
      S.-H. Yoon, D.-H. Ahn, C. Yokoyama, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      49th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Reduction in interface trap density of TiN/Y2O3/Si0.62Ge0.38 gate stacks with high temperature PMA2018

    • 著者名/発表者名
      T.-E. Lee, M. Ke, K. Kato, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      49th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) technology for enhanced hole mobility in UTB GeOI pMOSFETs2018

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, N. Uchida and T. Maeda
    • 学会等名
      2018 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Ultra-thin germanium-tin on insulator structure through direct bonding technique2018

    • 著者名/発表者名
      T. Maeda, W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Oka, M. Kurosawa, Y. Imai, O. Nakatsuka and N. Uchida
    • 学会等名
      ISTDM/ICSI 2018
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Significant Performance Enhancement of UTB GeOI pMOSFETs by Advanced Channel Formation Technologies2018

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, N. Uchida and T. Maeda
    • 学会等名
      Symposia on VLSI Technology
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Electron and Acoustic Phonon Confinement in Ultrathin-Body Ge on Insulator2018

    • 著者名/発表者名
      V. Poborchii, W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, N. Uchida, J. Groenen, P. Geshev and T. Maeda
    • 学会等名
      2018 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] High performance UTB GeOI n and pMOSFETs featuring HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) technology2018

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, H. Ota, H. Takagi, Y. Kurashima, N. Uchida, and T. Maeda
    • 学会等名
      AiMES 2018 (ECS and SMEQ Joint International Meeting), Symposium G03: SiGe, Ge, and Related Materials: Materials, Processing, and Devices
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] UTB-GeOI構造の超平坦化による正孔移動度向上2018

    • 著者名/発表者名
      張 文馨, 入沢 寿史, 石井 裕之, 内田 紀行, 前田 辰郎
    • 学会等名
      第79回応用物理学会秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] チャネル形成技術の高度化による極薄GeOI pMOSFETsの性能向上2018

    • 著者名/発表者名
      張 文馨, 入沢 寿史, 石井 裕之, 内田 紀行, 前田 辰郎
    • 学会等名
      第210回シリコンテクノロジー研究集会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] モノリシック3D CMOS に向けたUTB-GeOI 構造の開発2018

    • 著者名/発表者名
      前田 辰郎, 張 文馨, 入沢 寿史, 石井 裕之, 内田 紀行
    • 学会等名
      第24回電子デバイス界面テクノロジー研究会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] UTB-GeOIチャネル構造における裏面Siパッシベーションの効果2018

    • 著者名/発表者名
      張 文馨, 入沢 寿史, 石井 裕之, 内田 紀行, 前田 辰郎
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] Ge基板の平坦化RTAを用いたin-situ Ge MOS構造の作製2018

    • 著者名/発表者名
      石井 寛仁,張 文馨, 石井 裕之, 森田行則,遠藤聡, 藤代博記,前田 辰郎
    • 学会等名
      第66回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2018 実績報告書
  • [学会発表] ECRプラズマ酸化によるALD high-k/GeOx/Ge界面の遅い準位起源2018

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      電子デバイス界面テクノロジー研究会―材料・プロセス・デバイス特性の物理―(第23回研究会)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Extremely-Thin Body GOI structures and MOSFETs2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, W.-K. Kim, K. Jo, X. Yu and M. Takenaka
    • 学会等名
      11th International WorkShop on New Group IV Semiconductor Nanoelectronics
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Ge系デバイスのヘテロジニアスインテグレーション技術2018

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎
    • 学会等名
      電子情報通信学会 システムナノ技術に関する時限研究専門委員会第3回研究会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Physical origins of slow traps for ALD high-k dielectrics on GeOx/Ge interfaces2018

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, K. Kato, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Al2O3/p-InxGa1-xAs MOS界面に与える前処理の効果2018

    • 著者名/発表者名
      横山千晶,張志宇,加藤公彦, 竹中充,高木信一
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Smart Cut法を用いたInAs on Insulator構造の作製2018

    • 著者名/発表者名
      隅田圭, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Ge MOSFETへの期待と課題2018

    • 著者名/発表者名
      高木信一, 曺光元, 金佑彊, 柯夢南, 加藤公彦, 竹中充
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] High quality UTB GeOI by HEtero-Layer-Lift-Off (HELLO) technology for future Ge CMOS application2018

    • 著者名/発表者名
      W.-H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, Hi. Ota, H. Takagi, Y. Kurashima, N. Uchida, T. Maeda
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 超薄膜ゲルマニウムのバンド構造2018

    • 著者名/発表者名
      前田辰郎, 張文馨, 入沢寿史, 石井裕之, 服部浩之, 内田紀行, 山内 淳
    • 学会等名
      第65回応用物理学会春季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] Ultra-Low Power III-V-Based Mosfets and Tunneling FETs2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, D.-H. Ahn, T. Gotow, C. Yokoyama, C.-Y. Chang, K. Endo, K. Katoh and M. Takenaka
    • 学会等名
      233rd Electrochemical Society (ECS) Meeting, H02 - Advanced CMOS-Compatible Semiconductor Devices 18
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Ultrathin-body Ge-On-Insulator MOSFET and TFET technologies2018

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, W.-K. Kim, K.-W. Jo, R. Matsumura, R. Takaguchi, T. Katoh, T.-E. Bae, K. Kato and M. Takenaka
    • 学会等名
      234th Electrochemical Society (ECS) Meeting, Symposium G03: SiGe, Ge, and Related Materials: Materials, Processing, and Devices
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] High Performance 4.5-nm-Thick Compressively-Strained Ge-on-Insulator pMOSFETs Fabricated by Ge Condensation with Optimized Temperature Control2017

    • 著者名/発表者名
      W.-K. Kim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      Sympia on VLSI technology
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] First Experimental Observation of Channel Thickness Scaling Induced Electron Mobility Enhancement in UTB-GeOI nMOSFETs2017

    • 著者名/発表者名
      W. H. Chang, T. Irisawa, H. Ishii, H. Hattori, H. Ota, H. Takagi, Y. Kurashima, N. Uchida and T. Maeda
    • 学会等名
      Sympia on VLSI technology
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Low power III-V MOSFETs and TFETs on Si platform2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi and M. Takenaka
    • 学会等名
      9th International Conference on Materials for Advanced Technologies
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Interface state generation of Al2O3/InGaAs MOS structures by electrical stress2017

    • 著者名/発表者名
      S.-H. Yoon, C.-Y. Chang, D. H. Ahn, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      20th Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2017)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Reduction of slow trap density of Al2O3/GeOx/n-Ge MOS interfaces by inserting ultrathin Y2O3 interfacial layers2017

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      20th Conference on Insulating Films on Semiconductors (INFOS 2017)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Understanding of slow traps generation in plasma oxidation GeOx/Ge MOS interfaces with ALD high-k layers2017

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Advanced Devices and Materials for Future CMOS-based IC Technologies2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi
    • 学会等名
      International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS) 2017
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] ALD Al2O3/GeOx/Ge界面の電子と正孔に対する遅い準位の物理的起源に関する考察2017

    • 著者名/発表者名
      柯夢南, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第78回応用物理学会 秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 冷却レートを低減した酸化濃縮プロセスにより作製した高圧縮ひずみGOI pMOSFET2017

    • 著者名/発表者名
      金佑彊, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第78回応用物理学会 秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] プラズマ酸化による酸化濃縮GOI層の薄膜化により作製した極薄ひずみGOI pMOSFETs2017

    • 著者名/発表者名
      金佑彊, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第78回応用物理学会 秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] 電気ストレスによるAl2O3/InGaAs MOS界面における界面準位発生2017

    • 著者名/発表者名
      尹尚希, 張志宇, 安大煥, 竹中充, 高木信一
    • 学会等名
      第78回応用物理学会 秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Effect of SiGe Layer Thickness in Starting Substrate on Electrical Properties of Ultrathin Body Ge-on-insulator pMOSFET fabricated by Ge Condensation2017

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, W.-K. Kim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      第78回応用物理学会 秋季学術講演会
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
  • [学会発表] Effect of SiGe Layer Thickness in Starting Substrate on Electrical Properties of Ultrathin Body Ge-on-insulator pMOSFET fabricated by Ge Condensation2017

    • 著者名/発表者名
      K.-W. Jo, W.-K. Kim, M. Takenaka and S. Takagi
    • 学会等名
      2017 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Advanced MOS device technology2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi
    • 学会等名
      2017 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Advanced MOS device technology for ultra-low power IoT applications2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi
    • 学会等名
      12th VDEC D2T Symposium
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 招待講演
  • [学会発表] MOS Interface Defect Control in Ge/IIIV Gate Stacks2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi, M. Ke, C. Y. Chang, C. Yokoyama, M. Yokoyama, T. Gotow, K. Nishi, and M. Takenaka
    • 学会等名
      232nd Electrochemical Society (ECS) Meeting, D01: Semiconductors, Dielectrics, and Metals for Nanoelectronics 15: In Memory of Samares Kar
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Ultra-low power MOSFET and Tunneling FET technologies using III-V and Ge2017

    • 著者名/発表者名
      S. Takagi and M. Takenaka
    • 学会等名
      2017 IEEE Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICS)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Pre-cleaning Effects for Al2O3/p-InxGa1-xAs MOS Interfaces2017

    • 著者名/発表者名
      C. Yokoyama, C.-Y. Chang, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      48th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Discrimination of pre-existing and generated slow traps under electrical stress in Al2O3/GeOx/n-Ge gate stacks with plasma oxidation process2017

    • 著者名/発表者名
      M. Ke, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      48th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会
  • [学会発表] Relationship between interface state generation and substrate hole current in InGaAs n-channel MOSFETs2017

    • 著者名/発表者名
      S.-H. Yoon, D.-H. Ahn, M. Takenaka, and S. Takagi
    • 学会等名
      48th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)
    • 関連する報告書
      2017 実績報告書
    • 国際学会

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公開日: 2017-06-01   更新日: 2023-10-16  

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